基本信息:

• 专利标题： X線撮像システムおよびX線撮像方法
• 专利标题（英）：JP6411775B2 - X-ray imaging system and x-ray imaging method
• 申请号：JP2014111868 申请日：2014-05-30
• 公开(公告)号：JP6411775B2 公开(公告)日：2018-10-24
• 发明人： 定岡 紀行 , 名雲 靖 , 上村 博
• 申请人： 株式会社日立製作所
• 申请人地址： 東京都千代田区丸の内一丁目6番6号
• 专利权人： 株式会社日立製作所
• 当前专利权人： 株式会社日立製作所
• 当前专利权人地址： 東京都千代田区丸の内一丁目6番6号
• 代理人： 戸田 裕二
• 主分类号： G01N23/083
• IPC分类号： G01N23/083 ; G01N23/18 ; G01N23/04

公开/授权文献:

• JP2015225053A  X線撮像システムおよびX線撮像方法 公开/授权日：2015-12-14

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