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1. 发明专利

JP6542893B2 分注装置及び自動分析装置有权
公开(公告)号：JP6542893B2
公开(公告)日：2019-07-10
申请号：JP2017532446
申请日：2016-07-11
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：濱崎孝伸 , 山下善寛
IPC分类号： B01J4/02 , G01N35/10

2. 发明专利

JP6517565B2 分注ノズル洗浄方法および自動分析装置有权
公开(公告)号：JP6517565B2
公开(公告)日：2019-05-22
申请号：JP2015070318
申请日：2015-03-30
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：島田賢史 , 山下善寛 , 坂下敬道 , 神原克宏
IPC分类号： G01N35/10

3. 发明专利

JP2018138879A 自動分析装置审中-公开
公开(公告)号：JP2018138879A
公开(公告)日：2018-09-06
申请号：JP2017033227
申请日：2017-02-24
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：福村真実 , 稲葉亨 , 佐々木俊輔 , 山下善寛
IPC分类号： G01N35/00 , G01N35/10
CPC分类号： G01N35/00 , G01N35/10
摘要：【課題】分注に伴う試薬の質の低下を抑制しつつ、より簡便な構成で試薬を分注することができる自動分析装置を提供する。【解決手段】複数の試薬の1つである第1の試薬を収容した試薬容器101から第1の吐出部102Aに第1の試薬を送る流路103A,103Bと、第1の試薬とは異なる第2の試薬を収容した試薬容器105から第2の吐出部106Aに第2の試薬を送る流路107A,107Bと、廃液槽114とシリンジポンプ108とを接続するように配置された調整流路115Eと、流路103A,103Bの中途と調整流路115Eとを3方向以上の分岐で接続する第1の分岐部116Aと、調整流路115Eにおける第1の分岐部116Aとは異なる位置において、流路107A,107Bの中途と調整流路115Eとを3方向以上の分岐で接続する第2の分岐部116Cとを備える。【選択図】図1

4. 发明专利

JPWO2017022412A1 分注装置及び自動分析装置审中-公开
公开(公告)号：JPWO2017022412A1
公开(公告)日：2018-06-07
申请号：JP2017532446
申请日：2016-07-11
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：濱崎孝伸 , 山下善寛
IPC分类号： G01N35/10 , B01J4/02
CPC分类号： G01N35/10
摘要：気泡が付着したまま微量分注を行なうと、気泡の体積変化により流路内の内圧が変動し分注すべき液体の量にばらつきが生じることによって分注精度が低下してしまう。そのため、気泡を除去するための特別な振動機構が必要となっていた。そこで、本発明では、流体制御弁の固定方法を工夫することで非常に簡便に流体制御弁内に留まる気体を低減でき、かつ容易に気体を除去することで高精度の微量分注精度を実現することを目的とする。解決手段としては、吐出ノズルと、試薬が格納された試薬ボトルと吐出ノズルを接続するように配置され試薬の流路を形成する送液管と、試薬ボトルと吐出ノズルをつなぐ送液管の経路上に配置された流体制御弁と、を備える。流体制御弁は、導液口と排液口を有する試薬の流路と、流路の途中に設けられたダイヤフラム弁とを備える。ダイヤフラム弁は前記流体制御弁の流路の下に配置される向きで前記流体制御弁が配置される。

5. 发明专利

JP6313977B2 試料分析装置及び試料分析方法有权
公开(公告)号：JP6313977B2
公开(公告)日：2018-04-18
申请号：JP2013551613
申请日：2012-12-14
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：稲葉亨 , 松岡晋弥 , 坂詰卓 , 山下善寛 , 島田賢史
IPC分类号： G01N33/543 , G01N33/553
CPC分类号： G01N27/745 , B03C1/288 , B03C2201/18 , B03C2201/26 , G01N33/553 , G01N2446/00

6. 发明专利

JP5921336B2 自動分析装置及び前処理装置有权
标题翻译：自动分析和预处理装置
公开(公告)号：JP5921336B2
公开(公告)日：2016-05-24
申请号：JP2012121014
申请日：2012-05-28
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：原田裕至 , 坂詰卓 , 山下善寛
IPC分类号： G01N35/02 , G01N35/00

7. 发明专利

JP6636499B2 自動分析装置および自動分析装置用液体容器有权
公开(公告)号：JP6636499B2
公开(公告)日：2020-01-29
申请号：JP2017501964
申请日：2016-01-07
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：黒田麗香 , 今井健太 , 坂下敬道 , 山下善寛
IPC分类号： G01N35/02

8. 发明专利

JPWO2018173560A1 自動分析装置审中-公开
公开(公告)号：JPWO2018173560A1
公开(公告)日：2019-12-19
申请号：JP2018005242
申请日：2018-02-15
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：藤田浩気 , 鈴木寿治 , 大草武徳 , 佐々木俊輔 , 山下善寛 , 今井健太
IPC分类号： G01N35/00
摘要：分析を止めることなく試薬や洗剤の補充を行うことができることに加え、さらに交換前後の試薬や洗剤が試薬貯留流路で混ざることを抑制し、かつ、試薬貯留流路の状態を一定に保つことで、分析性能の低下を低減する自動分析装置を提供する。試薬を収容する試薬容器を交換可能に保持する試薬容器保持部と、前記試薬容器内の試薬の一部を貯留する試薬貯留流路と、前記試薬容器内の測定部に試薬を供給する第一の流路と、前記第一の流路から分岐して配置され、前記試薬貯留流路を接続する第二の流路と、前記第一の流路および前記第二の流路に陰圧または陽圧を印加することで、試薬を前記測定部および前記試薬貯留流路に送液する送液手段と、少なくとも前記第一の流路および前記第二の流路に設けられた弁と、所定のタイミングで前記測定部へ試薬を供給する供給元を、前記試薬容器から前記試薬貯留流路に切り替えるよう前記弁および前記送液手段を制御する制御手段を備えたことを特徴とする。

9. 发明专利

JPWO2018142944A1 自動分析装置审中-公开
公开(公告)号：JPWO2018142944A1
公开(公告)日：2019-11-14
申请号：JP2018001312
申请日：2018-01-18
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：大草武徳 , 山下善寛 , 佐々木俊輔
IPC分类号： G01N35/00
摘要：分析性能の向上や装置の単位スペース当たりの処理能力の向上のため、各々が異なる目標温度を有する複数のユニットを、より集約して装置上に配置する必要がある。そのため、ユニット間でおよぼしあう温度の影響を軽減する必要がある。装置の使用環境温度と各ユニットの目標温度との関係とユニットに要求される温度精度に基づき、装置内でのユニット配置を適正にすることで、ユニット間で及ぼし合う温度影響を軽減し、効率の良い温度制御を可能にする。

10. 发明专利

JP6181039B2 自動分析装置有权
公开(公告)号：JP6181039B2
公开(公告)日：2017-08-16
申请号：JP2014500721
申请日：2013-02-19
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：坂下敬道 , 神原克宏 , 山下善寛
IPC分类号： G01N35/02
CPC分类号： G01N35/00584 , G01N35/08 , G01N35/1004 , G01N2035/0413 , G01N2035/0443 , G01N2035/1062 , G01N35/025

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