会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 5. 发明专利
    • 荷電粒子ビーム装置
    • 充电颗粒光束装置
    • JP2016127025A
    • 2016-07-11
    • JP2015253893
    • 2015-12-25
    • 株式会社日立ハイテクサイエンス
    • 大庭 弘清原 正寛楊 宗翰
    • H01J37/317
    • 【課題】原料ガスの種類に応じて最適な供給状態を実現することのできる荷電粒子ビーム装置を提供する。 【解決手段】試料Sにイオンビームを照射して加工可能な荷電粒子ビーム装置100であって、気体イオンビームを試料室40内の試料Sに照射するGIB鏡筒3と、気体イオンビームの原料である原料ガスをGIB鏡筒3に供給するGIB制御部13と、を備え、GIB制御部13は、原料ガスの流量を制御する流量制御部133と、GIB鏡筒3の上流に接続され、原料ガスを排気するために設けられたバイパス管路P2と、を含む。 【選択図】図2
    • 要解决的问题:提供一种根据材料气体的种类实现最佳供给状态的带电粒子束装置。解决方案:带电粒子束装置100将离子束辐射到样品S以处理样品S,并且包括 :GIB透镜管3,被配置为将气态离子束辐射到样品室40中的样品S; 以及GIB控制部13,被配置为将作为气体离子束的材料的材料气体供给到GIB透镜管3.GIB控制部13包括:流量控制部133,其控制流量 原料气; 以及连接到GIB透镜管3的上游并且被提供以排出材料气体的旁路线P2。图2: