专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

JP6487217B2 遊離塩素濃度を制御する方法および装置、ならびにそれらを用いた殺菌方法および殺菌装置有权
公开(公告)号：JP6487217B2
公开(公告)日：2019-03-20
申请号：JP2015003886
申请日：2015-01-13
申请人：有限会社ターナープロセス , 日機装株式会社
发明人：棚橋正和 , 渡邉純一 , 藤原真人 , 盧栄富
IPC分类号： A61L2/18 , C25B15/02 , C25B11/10 , A61L101/06 , C02F1/461

2. 发明专利

JP2015164719A 遊離塩素濃度を制御する方法および装置、ならびにそれらを用いた殺菌方法および殺菌装置有权
标题翻译：用于控制游离氯浓度的装置和方法，以及使用其灭菌方法和杀菌剂
公开(公告)号：JP2015164719A
公开(公告)日：2015-09-17
申请号：JP2015003886
申请日：2015-01-13
申请人：有限会社ターナープロセス , 日機装株式会社
发明人：棚橋正和 , 渡邉純一 , 藤原真人 , 盧栄富
IPC分类号： A61L2/18 , C25B15/02 , C25B11/10 , A61L101/06 , C02F1/46
CPC分类号： A61L2/18 , A61L2/035 , C02F1/4674 , C25B1/26 , C25B15/02 , A61L2202/24 , C02F2201/46135 , C02F2209/005 , C02F2209/05 , C02F2209/06 , C02F2209/29 , C02F2209/40
摘要：【課題】遊離塩素濃度を簡単に制御できる新規な方法およびそれを用いた殺菌方法、ならびに遊離塩素濃度を簡単に制御できる新規な装置を提供する。【解決手段】開示される方法は、複数の電極を用いて遊離塩素濃度を制御する。この方法は、工程(i)および工程(ii)をこの順に含む。工程(i)では、塩素イオンを含む水溶液30中において、第1の陽極の電位と第1の陰極の電位とを調整することによって、水溶液30中の遊離塩素濃度を上昇させる。工程(ii)では、水溶液30中において、第2の陽極の電位と第2の陰極の電位とを調整することによって、水溶液30中の遊離塩素濃度を低下させる。工程(ii)における第2の陽極の電位と第2の陰極の電位との差は、工程(i)における第1の陽極の電位と第1の陰極の電位との差よりも小さい。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种容易控制游离氯浓度的新方法，使用该方法的灭菌方法以及容易控制游离氯浓度的新装置。方法：公开的使用多个电极依次包括步骤（i）和步骤（ii）。在步骤（i）中，在包含氯离子的水溶液30中调节第一正极的电位和第一负极的电位，使得水溶液30中的游离氯浓度增加。在步骤（ii）中，调节第二正极的电位和第二负极的电位，使得水溶液30中的游离氯浓度降低。步骤（ii）中的第二正极和第二负极之间的电位差在步骤（i）中小于第一正极和第一负极之间的电位差。

3. 发明专利

JP2015148445A 波長走査式分析装置及び方法有权
标题翻译：波长扫描类型分析设备和方法
公开(公告)号：JP2015148445A
公开(公告)日：2015-08-20
申请号：JP2014019750
申请日：2014-02-04
申请人：日機装株式会社
发明人：藤原真人 , 盧栄富 , 渡邉敦夫
IPC分类号： G01N21/35 , G01N21/359 , G01N21/27
CPC分类号： G01N21/359 , G01J3/06 , G01J3/26 , G01J3/42 , G01N21/3577 , G01N2021/3595 , G01N21/39
摘要：【課題】測定妨害成分の影響を確実に排除し、測定対象成分の測定精度を向上させ、かつ複数の測定対象成分を同時に測定する。【解決手段】干渉フィルタ12で所定の走査周波数で光源からの光を特定の走査帯域において走査し、試料液に照射する。光学セル18を透過した光を光検出器20で電気信号に変換する。処理装置22は、信号を高速フーリエ変換し、演算して得られた複数の高調波成分の強度と、予め測定されてメモリに記憶された、複数種類の測定対象成分の各々と複数の高調波成分の強度との対応関係を用いて試料中に含有される複数種類の測定対象成分を同時に定量する。【選択図】図4
摘要翻译：要解决的问题：同时测量多个测量目标分量，同时确保消除测量干扰分量的影响，以提高目标部件的测量精度。解决方案：来自光源的光在特定扫描带中扫描用干涉滤光片12以预定的扫描频率被辐射到样品溶液。通过光学单元18传输的光通过光学检测器20转换成电信号。处理装置22对该信号进行快速傅立叶变换，并且同时使用包含在样本中的多种类型的测量目标分量进行定量确定预先通过计算获得的多个谐波分量的强度与通过测量存储在存储器中的多种类型的测量对象分量和多个谐波分量中的每一种的强度之间的对应关系。

4. 发明专利

JP6310249B2 波長走査式分析装置及び方法有权
公开(公告)号：JP6310249B2
公开(公告)日：2018-04-11
申请号：JP2013264467
申请日：2013-12-20
申请人：日機装株式会社
发明人：藤原真人 , 盧栄富 , 渡邉敦夫
IPC分类号： G01N21/359
CPC分类号： G01N21/359 , G01N21/274

5. 发明专利

JP6262554B2 波長走査式分析装置及び方法有权
公开(公告)号：JP6262554B2
公开(公告)日：2018-01-17
申请号：JP2014019750
申请日：2014-02-04
申请人：日機装株式会社
发明人：藤原真人 , 盧栄富 , 渡邉敦夫
IPC分类号： G01N21/35 , G01N21/359 , G01N21/27
CPC分类号： G01N21/359 , G01J3/06 , G01J3/26 , G01J3/42 , G01N21/3577 , G01N21/39 , G01N2021/3595

6. 发明专利

JP2015121435A 波長走査式分析装置及び方法有权
标题翻译：波长扫描型分析仪和方法
公开(公告)号：JP2015121435A
公开(公告)日：2015-07-02
申请号：JP2013264467
申请日：2013-12-20
申请人：日機装株式会社
发明人：藤原真人 , 盧栄富 , 渡邉敦夫
IPC分类号： G01N21/359
CPC分类号： G01N21/359 , G01N21/274
摘要：【課題】測定妨害成分の影響を確実に排除し、測定対象成分の測定精度を向上させる分析装置を提供する。【解決手段】干渉フィルタ12で所定の走査周波数で光源からの光を特定の走査帯域において走査し、試料液に照射する。光学セル18を透過した光を光検出器20で電気信号に変換する。処理装置22は、信号を高速フーリエ変換し、走査周波数の高調波成分のうち特定の高調波成分、例えば2倍波や3倍波の成分の強度を用いて測定対象成分を定量する。どの高調波成分を用いるかは、測定対象成分と測定妨害成分に応じて決定される。【選択図】図4
摘要翻译：要解决的问题：提供一种用于通过肯定地消除测量干扰分量的影响来提高测量对象部件的测量精度的分析器。解决方案：干涉滤光器12利用来自光源的光在预定的扫描频率，并照射样品溶液。已经通过光学单元18的光被光电检测器20转换成电信号。处理器22对信号进行快速傅里叶变换，并使用谐波分量的特定谐波分量的强度来测量测量对象分量扫描频率，例如双波或三波分量。使用哪个谐波分量根据测量对象分量和测量干扰分量来确定。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式