基本信息:
- 专利标题： 波長走査式分析装置及び方法
- 专利标题（英）：JP6310249B2 - Wavelength scanning analyzer and method
- 申请号：JP2013264467 申请日：2013-12-20
- 公开(公告)号：JP6310249B2 公开(公告)日：2018-04-11
- 发明人： 藤原 真人 , 盧 栄富 , 渡邉 敦夫
- 申请人： 日機装株式会社
- 申请人地址： 東京都渋谷区恵比寿4丁目20番3号
- 专利权人： 日機装株式会社
- 当前专利权人： 日機装株式会社
- 当前专利权人地址： 東京都渋谷区恵比寿4丁目20番3号
- 代理人： 特許業務法人YKI国際特許事務所
- 主分类号： G01N21/359
- IPC分类号： G01N21/359
公开/授权文献:
- JP2015121435A 波長走査式分析装置及び方法 公开/授权日：2015-07-02
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N21/00 | 利用光学手段，即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料 |
| --------G01N21/01 | .便于进行光学测试的装置或仪器 |
| ----------G01N21/21 | ..影响偏振的性质 |
| ------------G01N21/31 | ...测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术 |
| --------------G01N21/35 | ....利用红外光 |
| ----------------G01N21/359 | .....利用近红外光 |