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    • 1. 发明专利
    • EUVリソグラフィ用反射型マスクブランクおよびその製造方法
    • 的EUV光刻用反射型掩模基板和其制造方法
    • JPWO2013077430A1
    • 2015-04-27
    • JP2013545973
    • 2012-11-22
    • 旭硝子株式会社
    • 和伸 前重和伸 前重正樹 三上正樹 三上
    • H01L21/027C23C14/06G02B5/08G03F1/24
    • G03F1/22B82Y10/00B82Y40/00G03F1/24
    • Mo/Si多層反射膜での膜応力による基板の変形を緩和でき、かつ、Mo/Si多層反射膜での膜応力の経時変化を緩和できるEUVマスクブランクの製造方法の提供。基板の成膜面上に、EUV光を反射する多層反射膜を形成した後、前記多層反射膜上にEUV光を吸収する吸収体層を形成することにより、EUVL用反射型マスクブランクを製造する、EUVL用反射型マスクブランクの製造方法であって、前記多層反射膜が、Mo/Si多層反射膜であり、かつ、該Mo/Si多層反射膜の最上層がSi膜であり、前記吸収体層の形成後、該吸収体層が形成された基板を110〜170℃の温度で加熱処理するEUVL用反射型マスクブランクの製造方法。
    • 它可以放松基板的变形由于在Mo / Si多层反射膜的膜应力,并提供一种方法,用于产生EUV掩模基板,其可以减轻在Mo / Si多层反射膜的膜应力的老化。 上成膜的基板的表面上以形成反射EUV光,通过形成为在多层反射膜吸收EUV光的吸收体层,从而产生EUVL用反射型掩模基板的多层反射膜 用于制造EUVL,多层反射膜,Mo / Si多层反射膜,且Mo / Si多层反射膜的最上层的反射掩模坯的方法是Si膜,吸收 形成层,EUVL用在110至170℃的温度下形成,其基板的热处理,其吸收层中的反射型掩模基板的制造方法的后..