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1. 发明专利

JP6962242B2 情報処理装置,重畳表示プログラム,重畳表示方法有权
公开(公告)号：JP6962242B2
公开(公告)日：2021-11-05
申请号：JP2018040661
申请日：2018-03-07
申请人：富士通株式会社
发明人：高橋文之 , 肥塚哲男
IPC分类号： G06T1/00 , G06T19/00

2. 发明专利

JP6927294B2 計測装置、計測方法及び計測プログラム有权
公开(公告)号：JP6927294B2
公开(公告)日：2021-08-25
申请号：JP2019516808
申请日：2017-05-11
申请人：富士通株式会社
发明人：高橋文之 , 肥塚哲男
IPC分类号： G01B11/02

3. 发明专利

JP2020122769A 評価方法、評価プログラム及び情報処理装置审中-公开
公开(公告)号：JP2020122769A
公开(公告)日：2020-08-13
申请号：JP2019016350
申请日：2019-01-31
申请人：富士通株式会社
发明人：深野昂祐 , 高橋文之 , 狐崎拓哉
IPC分类号： G06F30/10 , G06F30/20 , G06T7/00 , G06T7/70 , G01B11/00
摘要：【課題】構造物に形成された穴の位置の評価精度を向上すること。【解決手段】情報処理装置10は、構造物を含む撮影画像に構造物に形成された穴が含まれることを検出すると、穴の輪郭の撮影画像上での形状を特定する。情報処理装置10は、構造物の3D設計データに応じた3Dモデルの撮影画像への投影像が撮影画像に含まれる構造物に対応するように、3Dモデルを撮影画像へ投影した場合に、投影像が形状に対応する3Dモデルの部位を特定する。情報処理装置10は、特定した部位と、穴の3D設計データに対応する3Dモデルの部位との比較結果に基づき、構造物に形成された穴の形成位置に関する評価情報を出力する。【選択図】図1

4. 发明专利

JP2020017096A 計測装置、計測方法及び計測プログラム审中-公开
公开(公告)号：JP2020017096A
公开(公告)日：2020-01-30
申请号：JP2018139988
申请日：2018-07-26
申请人：富士通株式会社
发明人：高橋文之 , 肥塚哲男
IPC分类号： G06T7/73 , G06T19/00 , G06T7/00
摘要：【課題】被計測対象の撮像画像に被計測対象の設計データを重ね合わせて描画する際の重ね合わせの精度を向上する。【解決手段】計測装置21は、撮像装置23が撮像した被計測対象20の撮像画像と、被計測対象の3次元設計データから生成した仮想画像とから、局所特徴量のマッチングを用いて複数の特徴点ペアを探索するペア生成部と、探索した特徴点ペアから被計測対象に対する撮像装置の位置及び姿勢に関する仮の外部パラメータを推定する計算部と、仮の外部パラメータの信頼度を診断すると共に、信頼度が所定値以上である信頼できる特徴点ペアを記録する診断部と、信頼できる特徴点ペアの中で、各特徴点ペアを形成する2つの特徴点の類似度を示すスコアの値が閾値以上である特徴点ペアを指定数だけ選択し、選択した特徴点ペアを用いて最終的な外部パラメータを推定し、それを使用して撮像画像と射影変換像を重ね合わせて表示する計算部と、を備える。【選択図】図2

5. 发明专利

JP2017211890A 画像処理方法、画像処理装置および画像処理プログラム审中-公开
公开(公告)号：JP2017211890A
公开(公告)日：2017-11-30
申请号：JP2016105807
申请日：2016-05-27
申请人：富士通株式会社
发明人：高橋文之
IPC分类号： G06T7/00
摘要：【課題】撮像画像からテンプレート画像を自動抽出する。【解決手段】演算部12は、撮像画像11aに基準領域1を設定し、撮像画像11aから、基準領域1と類似する参照領域2を抽出し、撮像画像11aにおける基準領域1および参照領域2を除く領域に基準評価領域3a〜3eを設定し、参照領域2からの位置関係が、基準領域1から基準評価領域3a〜3eのそれぞれに対する位置関係と同じになるように、基準評価領域3a〜3eにそれぞれ対応する参照評価領域4a〜4eを撮像画像11aに設定し、基準評価領域3a〜3eの中から、対応する参照評価領域4a〜4cと類似する基準評価領域3a〜3cを特定し、特定された基準評価領域3a〜3cの位置に基づいて撮像画像11a上にテンプレート領域5を設定する。【選択図】図1

6. 发明专利

JP6115639B2 情報処理装置、検査範囲の計算方法、及びプログラム有权
公开(公告)号：JP6115639B2
公开(公告)日：2017-04-19
申请号：JP2015527121
申请日：2013-07-19
申请人：富士通株式会社
发明人：高橋文之 , 肥塚哲男
IPC分类号： G05B19/42 , G05B19/4069
CPC分类号： G05B19/4065 , G05B19/401 , G05B2219/37208 , G05B2219/37448 , G05B2219/37453

7. 发明专利

JP5790446B2 表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査装置有权
标题翻译：表面缺陷检查方法及表面缺陷检查装置
公开(公告)号：JP5790446B2
公开(公告)日：2015-10-07
申请号：JP2011258766
申请日：2011-11-28
申请人：富士通株式会社
发明人：布施貴史 , 長門毅 , 高橋文之 , 塚原博之
IPC分类号： G01B11/30 , G01N21/88

8. 发明专利

JP2019159375A 情報処理装置,重畳表示プログラム,重畳表示方法审中-公开
公开(公告)号：JP2019159375A
公开(公告)日：2019-09-19
申请号：JP2018040661
申请日：2018-03-07
申请人：富士通株式会社
发明人：高橋文之 , 肥塚哲男
IPC分类号： G06T1/00 , G06T19/00
摘要：【課題】情報処理装置,重畳表示プログラム,重畳表示方法に関し、設計データの稜線の抽出効率を向上させ、重畳表示技術の適用対象を拡大する。【解決手段】物体の撮像画像に基づき、物体の稜線に相当する第一直線群を抽出する(A1)。物体の設計データと第一外部パラメータ(視点位置,視線方向)とに基づき、第一投影画像を生成する(A3)。第一投影画像に基づき、物体の稜線に相当する第二直線群を抽出する(A4)。第一外部パラメータに基づき、第二直線群を三次元の第三直線群に変換する(A5)。第一直線群と第三直線群との対応関係に基づき、撮像画像と同等の視点位置及び視線方向となる第二外部パラメータを算出する(A12)。設計データと第二外部パラメータとに基づき、第二投影画像を撮像画像に重ねてレンダリングする(A13)。【選択図】図8

9. 发明专利

JP6229386B2 シミュレーション方法、シミュレーションプログラム及びシミュレーション装置有权
公开(公告)号：JP6229386B2
公开(公告)日：2017-11-15
申请号：JP2013189496
申请日：2013-09-12
申请人：富士通株式会社
发明人：高橋文之 , 布施貴史 , 長門毅 , 肥塚哲男
IPC分类号： G06T11/40

10. 发明专利

JP6229323B2 表面検査方法、表面検査装置、および表面検査プログラム有权
公开(公告)号：JP6229323B2
公开(公告)日：2017-11-15
申请号：JP2013124991
申请日：2013-06-13
申请人：富士通株式会社
发明人：布施貴史 , 高橋文之 , 長門毅 , 肥塚哲男
IPC分类号： G01B11/30 , G06T1/00 , G01N21/88

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