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1. 发明专利

JP2017116535A 蛍光Ｘ線分析用試料調製方法审中-公开
公开(公告)号：JP2017116535A
公开(公告)日：2017-06-29
申请号：JP2016231221
申请日：2016-11-29
申请人：住友金属鉱山株式会社 , Sumitomo Metal Mining Co Ltd
发明人： DANJYO RYOHEI , KAGAKUI ATSUSHI
IPC分类号： G01N23/22 , G01N1/28 , G01N1/36 , G01N23/223 , G01N23/225
摘要：【課題】鉱石試料の鉱物効果の影響を少なくし、XRF測定値の精度を向上させる、蛍光X線分析用試料調製方法を提供する。【解決手段】ニッケル酸化鉱石の鉱石スラリーから蛍光X線分析用の試料を調製する蛍光X線分析用試料調製方法であって、ニッケル酸化鉱石の鉱石スラリーを乾燥させる乾燥工程S1と、乾燥させたニッケル酸化鉱石の鉱石スラリーの固形分を粉砕し、粗粉末を得る粗粉砕工程S2と、粗粉末を粉砕機により粉砕することで、微粉末を得る微粉砕工程S3と、微粉末の粉砕状態を確認する確認工程S4と、確認後の上記微粉末を収納した試料カップを、平板状になるように加圧・成形し、ブリケットを得る成形工程S5とを有し、確認工程S4において、SEM−EDS分析により微粉末が均一に粉砕されているかを確認することを特徴とする。【選択図】図1

2. 发明专利

JP2011203072A Method for quantifying bromine 审中-公开
标题翻译：量化方法
公开(公告)号：JP2011203072A
公开(公告)日：2011-10-13
申请号：JP2010069919
申请日：2010-03-25
申请人： Sumitomo Metal Mining Co Ltd , 住友金属鉱山株式会社
发明人： KAGAKUI ATSUSHI
IPC分类号： G01N21/73 , G01N31/00
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To lower the lowest limit of the quantification of bromine by an inductively coupled plasma emission analyzer.SOLUTION: In this method for quantifying bromine, trivalent iron ions are added to a bromine-containing solution 2 and, after bromine is gasified, this gasified bromine is quantified using the inductively coupled plasma emission analyzer 1. By adding trivalent iron ions to the bromine-containing solution to gasify bromine in the solution, bromine is easily introduced into the plasma torch of the inductively coupled plasma emission analyzer and the introduction amount of bromine can be increased. By this constitution, the lowest limit of the quantification of bromine can be lowered without increasing a quantitative error. Furthermore, the simple and rapid quantification of bromine becomes possible, so that this quantification method of bromine can be widely used in a bromine-loaded or -mixed system.
摘要翻译：要解决的问题：通过电感耦合等离子体发射分析仪降低溴的定量的最低限度。解决方案：在这种定量溴的方法中，将三价铁离子加入到含溴溶液2中，溴气化后，使用电感耦合等离子体发射分析仪1对该气化溴进行定量。通过向含溴溶液中加入三价铁离子以使溶液中的溴气化，容易将溴引入电感耦合等离子体发射分析仪的等离子体焰炬溴的引入量可以增加。通过这种结构，可以降低溴的定量的最低限度，而不增加定量误差。此外，溴的简单和快速定量成为可能，使得溴的定量方法可广泛用于溴负载或混合体系中。

3. 发明专利

JP2008232730A Quantification method of impurities in nickel plating film 审中-公开
标题翻译：镍镀层电镀的定量方法
公开(公告)号：JP2008232730A
公开(公告)日：2008-10-02
申请号：JP2007070724
申请日：2007-03-19
申请人： Sumitomo Metal Mining Co Ltd , 住友金属鉱山株式会社
发明人： KAGAKUI ATSUSHI
IPC分类号： G01N31/00 , G01N33/20
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a simple and certain quantification method of impurities in a nickel plating film.
SOLUTION: In the quantification method of impurities in the nickel plating film, a metal member having the nickel plating film is used as a sample to be immersed, for example, in a nickel plating film releasing solution of 40-80°C composed of a 60% nitric acid, sodium 3-nitrobenzenesulfonate and ethylenediamine to dissolve the obtained the nickel plating film, the amounts of nickel and impurities in the obtained solution are calculated using an ICP emission analyzer or an ICP mass analyzer and the concentration of the impurities nickel plating film are calculated from the obtained value.
COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：提供镀镍膜中的杂质的简单且确定的定量方法。解决方案：在镀镍膜中的杂质的定量方法中，将具有镀镍膜的金属构件用作待浸渍的样品，例如在40-80℃的镀镍膜释放溶液中由60％硝酸钠，3-硝基苯磺酸钠和乙二胺溶解得到的镀镍膜，使用ICP发射分析仪或ICP质量分析仪计算所得溶液中的镍和杂质的量，从获得的值计算杂质镀镍膜。版权所有（C）2009，JPO＆INPIT

4. 发明专利

JP2015001482A 蛍光Ｘ線分析装置を用いた定量分析方法有权
标题翻译：使用X射线荧光分析仪的量化分析方法
公开(公告)号：JP2015001482A
公开(公告)日：2015-01-05
申请号：JP2013127020
申请日：2013-06-17
申请人：住友金属鉱山株式会社 , Sumitomo Metal Mining Co Ltd
发明人： KAGAKUI ATSUSHI
IPC分类号： G01N23/223
摘要：【課題】被測定溶液中の所望の含有成分の含有量を、ばらつきを小さく高精度かつ、正確に、低コストで測定する方法を提供する。【解決手段】被測定対象の溶液中に含有される所定成分の濃度を、蛍光X線分析装置を用いて定量分析する方法であって、前記被測定対象の溶液の密度を測定する操作と、前記被測定対象の溶液を秤量する操作と、前記秤量された被測定対象の溶液へ、前記被測定対象の溶液中に含有されない成分を内部標準成分として添加して混合溶液とし、当該内部標準成分の添加量を秤量する操作と、前記混合溶液をそのまま、または、所望の割合で希釈した後、蛍光X線分析装置へ装填する操作と、前記蛍光X線分析装置を用いて、前記所定成分と、前記内部標準成分との強度比を求め、予め作成した、前記所定成分と前記内部標準成分との強度比と、前記所定成分と前記内部標準成分との濃度比との検量線を用いて、前記所定成分と、前記内部標準成分との濃度比を求める操作と、前記所定成分と前記内部標準成分との濃度比と、前記被測定対象の溶液の密度とから、前記被測定対象の溶液中に含有される所定成分の濃度(体積分率)を求めることを特徴とする蛍光X線分析装置を用いた定量分析方法を提供する。【選択図】なし
摘要翻译：要解决的问题：提供一种用于以低成本降低变化来高精度和正确地测量待测溶液中所需组分的含量的方法。解决方案：使用X射线荧光分析仪的定量分析方法，其中使用X射线荧光分析仪定量分析包含在待测溶液中的预定成分的浓度，包括以下步骤：测量待测溶液的密度; 称量要测量的溶液; 将被测定溶液中不含有的成分作为内部基准成分添加到被测定的被测定液中，制备混合溶液，称量内部基准成分的添加量; 使用混合溶液，或以所需速度稀释，然后将其加载到X射线荧光分析仪; 使用X射线荧光分析仪获得预定分量和内部参考分量之间的强度比，并且使用预先准备的强度比的校准曲线来获得预定分量和内部参考分量之间的浓度比在所述预定部件和所述内部参考部件之间以及所述预定部件与所述内部基准部件之间的浓度比; 从规定成分与内部基准成分的浓度与待测溶液的浓度的比值求出待测溶液中所含有的预定成分的浓度（体积分数）。

5. 发明专利

JP2010210540A Method for quantifying inorganic component in heat ray shielding ink 审中-公开
标题翻译：用于定量热屏蔽油墨中无机成分的方法
公开(公告)号：JP2010210540A
公开(公告)日：2010-09-24
申请号：JP2009058884
申请日：2009-03-12
申请人： Sumitomo Metal Mining Co Ltd , 住友金属鉱山株式会社
发明人： KAGAKUI ATSUSHI
IPC分类号： G01N23/223 , G01N1/10 , G01N1/28 , G01N1/36
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for quantifying an inorganic component in a heat ray shielding ink, capable of easily performing pretreatment operation for obtaining a measurement sample in a short time, using no high-risk chemicals such as deleterious substances and hazardous materials, and requiring no expensive platinum utensils and special-purpose pretreatment devices.
SOLUTION: The method for quantifying the inorganic component in the heat ray shielding ink includes the steps of adding a predetermined amount of the heat ray shielding ink into a glass container containing a predetermined amount of alkaline borate; heating the container to an extent of not causing bumping to vaporize an organic solvent of the heat ray shielding ink; obtaining a powder sample of the alkaline borate having the residual inorganic component; uniformly mixing and crushing this powder sample, and measuring a disc-shaped molded sample prepared by pressure molding with a fluorescent X-ray analyzer.
COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：提供一种定量热射线屏蔽油墨中的无机成分的方法，能够容易地进行用于在短时间内获得测定样品的预处理操作，不使用高危化学物质如有害物质和危险材料，不需要昂贵的铂器皿和专用预处理装置。解决方案：用于定量热射线屏蔽油墨中的无机成分的方法包括以下步骤：将预定量的热射线屏蔽油墨加入到含有预定量碱性硼酸盐的玻璃容器中; 将容器加热到不引起凸起以蒸发热射线屏蔽墨水的有机溶剂的程度; 得到具有残留无机成分的碱性硼酸盐的粉末样品; 均匀混合粉碎样品，并用荧光X射线分析仪测量通过压力成型制备的圆盘形模制品。版权所有（C）2010，JPO＆INPIT

6. 发明专利

JP2017116534A 蛍光Ｘ線分析用試料調製方法审中-公开
公开(公告)号：JP2017116534A
公开(公告)日：2017-06-29
申请号：JP2016231219
申请日：2016-11-29
申请人：住友金属鉱山株式会社 , Sumitomo Metal Mining Co Ltd
发明人： DANJYO RYOHEI , KAGAKUI ATSUSHI
IPC分类号： G01N23/22 , G01N1/00 , G01N1/28 , G01N1/36 , G01N23/223
摘要：【課題】ニッケル酸化鉱石の湿式精錬プロセスにおけるプロセス分析として、試料の再凝集や粉砕装置の違いによる分析誤差を最小限に抑える蛍光X線分析用試料調製方法を提供する。【解決手段】ニッケル酸化鉱石の鉱石スラリーから蛍光X線分析用の試料を調製する蛍光X線分析用試料調製方法であって、ニッケル酸化鉱石の鉱石スラリーを乾燥させる乾燥工程S1と、乾燥させたニッケル酸化鉱石の鉱石スラリーの固形分を粉砕し、粗粉末を得る粗粉砕工程S2と、粗粉末を粉砕機により粉砕することで、微粉末を得る微粉砕工程S3と、ニッケル酸化鉱石中の金属成分の含有量を算出するための検量線を作成する検量線作成工程S4と、微粉砕工程S3後の微粉末を収納した試料カップを、平板状になるように加圧・成形し、ブリケットを得る成形工程S5とを有し、検量線作成工程S4では、検量線用の試料を粉砕機で粉砕し、粉砕時間を微粉砕工程S3における粉砕時間と同じにすることを特徴とする。【選択図】図1

7. 发明专利

JP2011220991A Quantification method of chlorine or bromine 审中-公开
标题翻译：氯或溴的定量方法
公开(公告)号：JP2011220991A
公开(公告)日：2011-11-04
申请号：JP2010118737
申请日：2010-05-24
申请人： Sumitomo Metal Mining Co Ltd , 住友金属鉱山株式会社
发明人： TERAO TOSHIAKI , KAGAKUI ATSUSHI
IPC分类号： G01N21/73
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a quantification method in which a minimum limit of quantification for chlorine or bromine is reduced in an inductively coupled plasma emission spectrophotometer.SOLUTION: An oxidant 6 is added to a solution 2 containing chlorine or bromine so as to vaporize the chlorine or bromine. The vaporized chlorine or bromine is quantified in an inductively coupled plasma emission spectrophotometer 1.

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