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    • 1. 发明专利
    • 耐タンパ性を有する不揮発性メモリ装置、集積回路カード、不揮発性メモリ装置の認証方法、不揮発性メモリ装置を用いた暗号化方法および復号化方法
    • 具有阻尼电阻的非易失性存储器件,集成电路卡,非易失性存储器件的认证方法,以及使用非易失性存储器件的加密方法和分解方法
    • JP2016105585A
    • 2016-06-09
    • JP2015209809
    • 2015-10-26
    • パナソニックIPマネジメント株式会社
    • 加藤 佳一吉本 裕平小笠原 悟
    • G11C13/00H04L9/10
    • G11C7/24G06F11/1072G06F12/1408G06F21/72G09C1/00G11C13/004G11C13/0059G11C29/52H04L9/0866H04L9/32H04L9/3278G06F2212/1052H04L2209/12
    • 【課題】セキュリティー性により優れたディジタルIDデータを生成する為のPUF(物理的複製困難関数)技術を提供する。 【解決手段】不揮発性メモリ装置10は、可変状態では、異なる複数の電気的信号の印加に応じて抵抗値が複数の抵抗値範囲の間を不揮発的かつ可逆的に遷移する性質を有する複数のメモリセルからなるメモリセルアレイ20と、入力されたコントロール信号に基づき、前記複数のメモリセルの一部の各々の前記抵抗値に関する複数の抵抗値情報を取得する読み出し回路11と、読み出し回路11によって取得された前記複数の抵抗値情報に基づいて2値化基準値を算出する演算回路と、を備える。読み出し回路11は、前記2値化基準値に基づいて、前記複数の抵抗値情報の各々及び前記複数のメモリセルの前記一部と異なる一部の各々の前記抵抗値に関する複数の抵抗値情報の各々に対して2つの値から選択的に1つの値を割り当て個体識別情報を生成する。 【選択図】図18
    • 要解决的问题:提供用于产生具有更好的安全性能的数字ID数据的PUF(物理不可克隆功能)技术。解决方案:非易失性存储器件10具有存储单元阵列20,存储单元阵列20包括多个存储单元, 电阻值根据可变状态下的多个不同的电信号的应用以非易失性和可逆的方式在多个电阻值的范围内转换,读出电路11,用于获取关于各个电阻值的多个电阻值信息 基于输入控制信号的多个存储单元中的一些存储单元;以及计算电路,用于基于由读出电路11获取的多个电阻值信息来计算二进制参考值。基于 二进制参考值,读出电路11选择性地将两个值之一分配给多个电阻体中的每一个 ce值信息以及与多个存储单元不同的多个存储单元中的其他一些存储单元的各个电阻值的多个电阻值信息中的每一个,并且生成单独的识别信息。图18
    • 6. 发明专利
    • 耐タンパ性を有する不揮発性メモリ装置、および集積回路カード
    • 具有防篡改性的非易失性存储器件和集成电路卡
    • JP2016105344A
    • 2016-06-09
    • JP2015226861
    • 2015-11-19
    • パナソニックIPマネジメント株式会社
    • 吉本 裕平加藤 佳一
    • H04L9/32G11C13/00
    • G11C13/004G11C13/0007G11C13/0059G11C13/0069G11C16/20G11C2013/0054G11C2013/0073G11C2013/0083
    • 【課題】セキュリティー性により優れたディジタルIDデータを生成するためのPUF(物理的複製困難関数)技術を提供する。 【解決手段】本開示の一態様にかかる不揮発性メモリ装置は、電気的信号の印加に応じて抵抗値が複数の抵抗値範囲の間を不揮発的かつ可逆的に遷移する性質を有する複数のメモリセルがアレイ状に配置されたメモリセルアレイと、各々が複数のメモリセルの1つの抵抗値に関する複数の抵抗値情報を取得する読み出し回路と、複数の抵抗値情報の少なくとも一部に基づいて2値化基準値を算出する演算回路と、書き込み回路とを備え、読み出し回路は、2値化基準値に基づいて、複数の抵抗値情報の各々に対して2つの値から選択的に1つの値を割り当てて複数のディジタルデータを生成し、書き込み回路は、2つの値のうちいずれか一方の値に対応するメモリセルに対して第1の書き込み動作を行う。 【選択図】図28
    • 要解决的问题:提供一种用于生成数字ID数据的PUF(物理不可克隆功能)技术,其进一步改进了安全性能。解决方案:根据本公开的实施例,非易失性存储器件包括:存储单元阵列,其中 多个存储单元被配置为阵列形状,其中具有根据电信号的应用以非易失性和可逆方式在多个电阻值范围内转换的质量的电阻值布置; 读取电路,用于获取与多个存储器单元的一个电阻值相关的多个电阻值信息; 运算电路,用于基于所述多个电阻值信息的至少一部分来计算二值化参考值; 和写电路。 读取电路从两个电阻值信息中的每一个选择性地分配两个值中的一个值,以基于二进制化参考值生成多个数字数据,并且写入电路对相应的存储器单元执行第一写入操作 到两个值的两个值。选择图:图28
    • 7. 发明专利
    • データ記録方法および不揮発性記憶装置
    • 数据记录方法和非易失性存储
    • JP2016015192A
    • 2016-01-28
    • JP2015107475
    • 2015-05-27
    • パナソニックIPマネジメント株式会社
    • 吉本 裕平加藤 佳一小笠原 悟
    • H01L27/105H01L27/10G11C13/00
    • G11C13/0007G11C13/004G11C13/0064G11C13/0069G11C2013/0073G11C2013/0076G11C2013/0083G11C2013/009
    • 【課題】メモリセルのそれぞれが初期状態にあるか可変状態にあるかの違いを利用して、メモリセルアレイにデータを記録する新規の方法を提供する。 【解決手段】初期状態にある複数のメモリセルから選択されたメモリセルに対して、フォーミングストレスを印加するステップS1と、フォーミングストレスが印加されたメモリセルの抵抗値を第1抵抗値範囲内に設定するステップS2と、を含む。初期状態のメモリセルの抵抗値がとりうる範囲と、可変状態のメモリセルの抵抗値がとりうる範囲との間に設定された第1閾値に基づいて読み出される。ステップS2において、フォーミングストレスが印加されたメモリセルの抵抗値が第1判定値よりも大きい場合には、メモリセルに第1修正信号が印加され、メモリセルの抵抗値が第2判定値よりも小さい場合には、メモリセルに第2修正信号が印加される。 【選択図】図5
    • 要解决的问题:提供一种通过利用初始状态或可变条件下的每个存储单元的差异来在存储单元阵列上记录数据的方法。解决方案:该方法包括以下步骤:将成形应力施加到 在初始状态下从多个存储单元中选择的存储单元(步骤S1); 以及将施加有成形应力的存储单元的电阻值设定在第一电阻值的范围内(步骤S2)。 基于在初始状态下存储单元的电阻值可用的范围和可变条件下存储单元的电阻值可用的范围之间设定的第一阈值读出数据。 在步骤S2中,当施加了形成应力的存储单元的电阻值大于第一确定值时,对存储单元施加第一校正信号; 当存储单元的电阻值小于第二确定值时,存储单元被施加第二校正信号。