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    • 2. 发明专利
    • 半導体装置の製造方法
    • 半导体器件制造方法
    • JP2016146449A
    • 2016-08-12
    • JP2015023586
    • 2015-02-09
    • トヨタ自動車株式会社
    • 加藤 邦仁
    • H01L21/02
    • H01L21/6835H01L21/30604H01L2221/68327H01L2221/6834
    • 【課題】 比較的低温で支持基板を反らせることが可能な技術を提供する。 【解決手段】 半導体装置を製造する方法であって、支持基板の一方の表面に液体を付着させる工程と、前記液体を固体化させ、その相変化に伴って生じる体積変化によって前記支持基板を反らせる工程(相変化に起因する反り工程)と、加熱状態において、前記支持基板と異なる線膨張係数を持つ半導体基板を前記支持基板に貼り付ける工程と、前記半導体基板が貼り付けられた前記支持基板を冷却して前記支持基板を反らせる工程(線膨張係数差に起因する反り工程)を有する。相変化に起因する反り方向が線膨張係数差に起因する反り方向と逆向きである。 【選択図】図6
    • 要解决的问题:提供能够使支撑基板在相对低的温度下翘曲的技术。解决方案:半导体器件制造方法包括:将液体附着到支撑基板的一个表面的工艺; 凝固液体的过程(由于相变引起的翘曲过程),使得支撑基板随着相变而发生体积变化; 在加热状态下将具有与支撑基板的线膨胀系数不同的线性膨胀系数的半导体基板接合到支撑基板的工序; 以及冷却与半导体衬底接合的支撑衬底以使支撑衬底翘曲的过程(由于线膨胀系数差导致的翘曲过程)。 由于相变和翘曲方向由于线膨胀系数差而产生的翘曲方向彼此相反。选择图:图6
    • 4. 发明专利
    • 半導体装置の製造方法
    • 半导体器件制造方法
    • JP2016146429A
    • 2016-08-12
    • JP2015023219
    • 2015-02-09
    • トヨタ自動車株式会社
    • 加藤 邦仁
    • H01L21/02
    • H01L23/562H01L21/4803H01L27/0727
    • 【課題】 予め支持基板に反りを生じさせる技術とは別の方策により、積層基板の反りを抑制する技術を提供する。 【解決手段】 半導体装置を製造する方法であり、加熱しながら半導体基板を支持基板に貼り付ける工程と、前記支持基板に貼り付けられた前記半導体基板を加工する工程を備える。前記支持基板は、前記半導体基板と異なる線膨張係数を有する。前記支持基板と前記支持基板に貼り付けられた前記半導体基板が重なる範囲を重複領域としたときに、前記重複領域内に前記支持基板の表面と裏面の間を貫通する複数の貫通孔が形成されている。前記重複領域の中心から前記支持基板の表面に沿って何れの方向に直線を引いたとしても、前記直線が何れかの前記貫通孔と交差する。 【選択図】図2
    • 要解决的问题:提供一种通过与在支撑基板上预先引起翘曲的技术不同的方法来抑制层压基板的翘曲的技术。解决方案:半导体器件制造方法包括:将半导体衬底附着到支撑体 衬底,同时加热半导体衬底和支撑衬底; 以及处理附着在支撑基板上的半导体基板的工序。 支撑基板具有与半导体基板不同的线膨胀系数。 当假设支撑衬底和附接到支撑衬底的半导体衬底彼此重叠的范围是重叠区域时,在重叠区域中形成有从表面到背面刺穿支撑衬底的多个通孔。 即使当沿任何方向沿着支撑基板的表面从重叠区域的中心拉出直线时,直线与任何通孔交叉。图示:图2