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1. 发明专利

JP5958160B2 部品実装検査のための検査基準情報の設定方法および検査基準情報の作成システム有权
标题翻译：创作系统的设定方法和检查基准信息核查标准信息的部件安装检查
公开(公告)号：JP5958160B2
公开(公告)日：2016-07-27
申请号：JP2012173029
申请日：2012-08-03
申请人：オムロン株式会社
发明人：森弘之 , 藤井心平
IPC分类号： H05K3/00 , H05K3/34 , G01N21/956

2. 发明专利

JP2016130663A 検査装置及び検査装置の制御方法有权
标题翻译：检验装置检测装置及检验装置的控制方法
公开(公告)号：JP2016130663A
公开(公告)日：2016-07-21
申请号：JP2015004253
申请日：2015-01-13
申请人：オムロン株式会社
发明人：藤井心平 , 西貴行 , 川島優人
IPC分类号： G01B11/30 , G01N21/956 , H05K13/08 , G01B11/25
CPC分类号： G01M11/081 , G01N21/8806 , G01N2021/8829 , G01N2021/95638 , G01N2021/95646 , G01N2201/0635
摘要：【課題】物体にパターン画像を投影した状態で撮像した画像を用いて物体の検査を行う検査装置において、2次反射ノイズを抑制し、信頼性の高い計測及び検査を可能にするための検査装置及び検査装置の制御方法を提供する。【解決手段】他の物体の反射面で反射した光に起因する2次反射を生じ得る2次反射物体が存在する場合に、制御装置は、反射面に光が当たらないように投影装置から投影するパターン画像の投影範囲を変更するか、反射面が投影装置から投影するパターン画像の投影範囲から外れるようにパターン画像の投影位置を設定する制御を行う。【選択図】図4
摘要翻译：要解决的问题：提供一种检查装置，其通过使用通过拍摄对象而获得的图像来对物体进行投影，从而对物体进行检查，所述检查装置用于抑制二次反射噪声并能够进行可靠的测量和检查; 以及检查装置的控制方法。解决方案：当存在可能由在另一物体的反射表面上反射的光引起的二次反射的次级反射物体时，控制装置执行将图案图像的投影范围改变为从投射装置投影，使得光不会落在反射面上，或者设置图案图像的投影位置，使得反射面从投影装置突出的图案图像的投影范围落下。选择图4：

3. 发明专利

JP2016038315A 計測装置、基板検査装置、及びその制御方法有权
标题翻译：测量装置，基板检查装置及其控制方法
公开(公告)号：JP2016038315A
公开(公告)日：2016-03-22
申请号：JP2014162400
申请日：2014-08-08
申请人：オムロン株式会社
发明人：藤井心平
IPC分类号： G01N21/956 , H05K13/08 , G01B11/25
CPC分类号： G01N21/95684 , G01N2021/95646
摘要：【課題】はんだ表面の光沢性(鏡面性)の高低にかかわらず、はんだ表面の三次元形状を精度良く計測可能な技術を提供する。【解決手段】計測装置が、複数の色の光を互いに異なる入射角で照射し、はんだの表面にその傾斜角に応じた色情報が現れるようにした状態で撮像された、第1の画像と、パタン光を投影し、はんだの表面にその高さに応じたパタンの位相情報が現れるようにした状態で撮像された、第2の画像とを取得する画像取得部と、はんだの表面上の各点について、第1の画像における色情報の信頼度を求める色信頼度計算部と、はんだの表面上の各点について、第2の画像における位相情報の信頼度を求める位相信頼度計算部と、はんだの表面上の各点の三次元情報を色情報と位相情報のうち信頼度が高い方の情報を用いて求めることによって、はんだの三次元形状を生成するはんだ形状計測部と、を有する。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：提供能够准确测量焊料表面的三维形状的技术，而与焊接表面的光泽度（镜面度）无关。解决方案：测量装置具有：图像获取部分，其获取第一图像拾取在以使得以多种颜色的光束彼此不同的入射角照射的状态，并且根据它们的倾斜角度的颜色信息出现在焊料的表面上，并且以由投影图案光，使得根据图案光的高度的图案的相位信息出现在焊料的表面上; 颜色可靠性计算部分，其针对焊料表面上的各个点计算第一图像中的颜色信息的可靠性; 相位可靠性计算部，其针对焊料的表面上的各个点计算第二图像中的相位信息的可靠性; 以及焊料形状测量部件，其通过使用具有较高可靠性的颜色信息和相位信息的信息，通过计算焊料表面上的各个点的三维信息来产生焊料的三维形状。图2

4. 发明专利

JP6507653B2 検査装置及び検査装置の制御方法有权
公开(公告)号：JP6507653B2
公开(公告)日：2019-05-08
申请号：JP2015004253
申请日：2015-01-13
申请人：オムロン株式会社
发明人：藤井心平 , 西貴行 , 川島優人
IPC分类号： G01B11/25

5. 发明专利

JP6349734B2 品質管理装置、品質管理方法、およびプログラム有权
公开(公告)号：JP6349734B2
公开(公告)日：2018-07-04
申请号：JP2014004106
申请日：2014-01-14
申请人：オムロン株式会社
发明人：田中真由子 , 藤井心平 , 森弘之
IPC分类号： H05K3/34
CPC分类号： H05K3/341 , G01N2021/95646 , H05K1/0269 , H05K3/3426 , H05K3/3442 , H05K13/0817 , H05K13/083 , H05K2203/0465 , H05K2203/162 , Y02P70/613

6. 发明专利

JP2016011857A 基板検査装置及びその制御方法有权
标题翻译：基板检查装置及其控制方法
公开(公告)号：JP2016011857A
公开(公告)日：2016-01-21
申请号：JP2014132502
申请日：2014-06-27
申请人：オムロン株式会社
发明人：西貴行 , 藤井心平 , 森弘之 , 紺田隆一郎 , 吉田政臣
IPC分类号： G01N21/956 , H05K13/08 , G06T1/00 , G01B11/25
CPC分类号： G01B11/24 , G01M11/00 , G01N21/956 , G01N2021/95638 , G01N2021/95646
摘要：【課題】部品電極に対するはんだの接合状態をより精度良く検査するための技術を提供する。【解決手段】部品のはんだ接合の状態を検査する基板検査装置が、複数の色の光を互いに異なる入射角で基板に照射し、鏡面物体の表面にその法線方向に応じた色特徴が現れるようにした状態で撮像された、第1の画像を用いて、検査対象となるはんだの三次元形状を復元するはんだ形状計測部と、パタン光を前記基板に投影し、拡散物体の表面にその凹凸に応じたパタンの歪みが現れるようにした状態で撮像された、第2の画像を用いて、検査対象となる部品電極の三次元形状を復元する部品形状計測部と、前記はんだ形状計測部により得られた前記はんだの三次元形状と、前記部品形状計測部により得られた前記部品電極の三次元形状とを用いて、前記はんだと前記部品電極の間の接合境界面における接合状態を検査する検査部と、を有する。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：提供一种用于精确检查焊料与部件电极的接合状态的技术。解决方案：用于检测焊料与部件的接合状态的基板检查装置用多种颜色的光照射基板，入射角彼此不同，并且包括：焊料形状测量部，用于使用在与法线的方向相对应的颜色特征的状态下成像的第一图像恢复待检查的焊料的三维形状镜面物体的表面和第二图像投影图案光到基底并且在漫射材料的表面上出现与不规则性相对应的图案的变形的状态下成像; 用于恢复分量电极的三维形状以成为检查对象的部件形状测量部件; 以及检查部，其使用由焊料形状测量部获得的焊料的三维形状和通过由焊料形状测量部获得的部件电极的三维形状来检查焊料和部件电极之间的接合界面中的接合状态部件形状测量部件。

7. 发明专利

JP2021117158A 三次元形状計測装置、三次元形状計測方法及びプログラム审中-公开
公开(公告)号：JP2021117158A
公开(公告)日：2021-08-10
申请号：JP2020011900
申请日：2020-01-28
申请人：オムロン株式会社
发明人：藤井心平 , 田中貴茂
IPC分类号： G01B11/26 , G06T7/521 , G01B11/25
摘要：【課題】カラーハイライト方式による三次元形状計測において、計測対象に含まれる傾斜の方向を精度良く判別する技術を提供する。【解決手段】照明手段と、撮影手段と、計測手段を有する三次元形状計測装置において、前記撮影手段は、前記撮影手段の撮影方向又は前記照明光の照射方向の、前記計測対象に対する鉛直軸回りの角度が異なる複数の画像であって、前記計測対象の所定の部位における前記照明光の反射光の強度又は波長のいずれかを含む反射の態様が異なる、前記複数の画像を取得し、前記計測手段は、前記撮影手段が取得した前記複数の画像に基づいて、前記所定の部位の三次元形状を計測する。【選択図】図1

8. 发明专利

JP6256249B2 計測装置、基板検査装置、及びその制御方法有权
公开(公告)号：JP6256249B2
公开(公告)日：2018-01-10
申请号：JP2014162400
申请日：2014-08-08
申请人：オムロン株式会社
发明人：藤井心平
IPC分类号： G01N21/956 , H05K13/08 , G01B11/25
CPC分类号： G01N21/95684 , G01N2021/95646

9. 发明专利

JP5861462B2 はんだ検査のための検査基準登録方法およびその方法を用いた基板検査装置有权
标题翻译：使用焊料检查的检查标准注册方法和方法基板检查装置
公开(公告)号：JP5861462B2
公开(公告)日：2016-02-16
申请号：JP2012006877
申请日：2012-01-17
申请人：オムロン株式会社
发明人：藤井心平 , 河合直浩 , 紺田隆一郎 , 吉田政臣
IPC分类号： G01N21/956 , H05K3/34 , G06T1/00 , G01B11/24
CPC分类号： G06T7/0004 , G01N21/95684 , H05K13/08 , G01N2021/95646

10. 发明专利

JP2015133406A 品質管理装置、品質管理方法、およびプログラム有权
标题翻译：质量管理设备，质量管理方法和程序
公开(公告)号：JP2015133406A
公开(公告)日：2015-07-23
申请号：JP2014004106
申请日：2014-01-14
申请人：オムロン株式会社
发明人：田中真由子 , 藤井心平 , 森弘之
IPC分类号： H05K3/34
CPC分类号： H05K13/08 , H05K3/341 , G01N2021/95646 , H05K1/0269 , H05K2203/0465 , H05K2203/162 , H05K3/3426 , H05K3/3442 , Y02P70/613
摘要：【課題】リフロー工程後の検査から、不良につながるようなはんだ印刷工程やマウント工程における変動要因を特定し設定パラメータを是正する。【解決手段】品質管理装置は、電子部品または電子部品とプリント基板の接合個所の異なる部分において同一であるべき位置または形状に関する特徴量の不均一度を算出する不均一度算出手段と、前記不均一度が所定の閾値以上であるか否か判定する判定手段と、前記不均一度が前記所定の閾値以上である場合に、はんだ印刷装置またはマウンタに対して設定パラメータを変更するかユーザに変更を提案するパラメータ変更手段と、を備える。不均一度は、異なる部分において本来同一となるべき特徴量の最大値および最小値の差や比などを採用可能であり、例えば、電極や端子の高さ、はんだのぬれ長さやぬれ角などを対象とすることができる。【選択図】図3
摘要翻译：要解决的问题：通过在回流处理之后的检查中识别引起故障的焊接印刷处理或安装过程中的变化因素来校正设定参数。解决方案：质量管理装置包括：不均匀度计算装置，计算电子部件或印刷电路板之间的电子部件或接头上的不同部位均匀的位置或形状的特征量的不均匀度; 确定装置，用于确定不均匀程度是否等于或大于预定阈值; 以及参数改变装置，用于当不均匀度等于或大于预定阈值时，改变焊接打印装置或安装器的设置参数或者向用户提出改变。作为不均匀度，可以采用特征量的最大值和最小值之间的差异或比例在不同部分中通常相同的差异; 例如，电极或端子的高度，焊料的润湿长度或润湿角度等可以是特征量的目标。

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