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1. 发明专利

JP6919603B2 波長検出装置及び共焦点計測装置有权
公开(公告)号：JP6919603B2
公开(公告)日：2021-08-18
申请号：JP2018044588
申请日：2018-03-12
申请人：オムロン株式会社
发明人：木村和哉 , 早川雅之
IPC分类号： G01B11/00 , G01J3/36 , G01J3/51 , G01J3/26

2. 发明专利

JP6269015B2 光電センサヘッド有权
公开(公告)号：JP6269015B2
公开(公告)日：2018-01-31
申请号：JP2013258219
申请日：2013-12-13
申请人：オムロン株式会社
发明人：村田謙治 , 木村和哉
IPC分类号： H01H35/00

3. 发明专利

JP6888638B2 光源装置およびこれを備えた測距センサ有权
公开(公告)号：JP6888638B2
公开(公告)日：2021-06-16
申请号：JP2019008248
申请日：2019-01-22
申请人：オムロン株式会社
发明人：木村和哉 , 荒川正行 , 早川雅之 , 池谷崇
IPC分类号： F21V8/00 , F21V5/04 , F21V7/22 , G01C3/06 , F21Y115/30 , F21V9/35

4. 发明专利

JP6696597B2 光源装置およびこれを備えた測距センサ有权
公开(公告)号：JP6696597B2
公开(公告)日：2020-05-20
申请号：JP2019010947
申请日：2019-01-25
申请人：オムロン株式会社
发明人：藤原直樹 , 木村和哉 , 早川雅之 , 荒川正行
IPC分类号： F21V7/28 , F21V9/35 , F21V8/00 , G01B11/00 , G01C3/06 , F21Y115/30 , F21S2/00

5. 发明专利

JP2019194540A 3次元形状計測システム及び計測時間設定方法审中-公开
公开(公告)号：JP2019194540A
公开(公告)日：2019-11-07
申请号：JP2018088540
申请日：2018-05-02
申请人：オムロン株式会社
发明人：和澄南 , 木村和哉 , 早川雅之
IPC分类号： G06T7/70 , G01B11/24
摘要：【課題】プローブに位置ずれが生じても、被計測対象の3次元形状を高精度で計測できる技術を提供する。【解決手段】露光時間を設定(ステップ11)し、複数回プローブの位置計測を行う(ステップ12)。複数パターンの平均回数での位置計測誤差を算出する(ステップ13)。計測時間と算出した測位誤差との対応表を算出する(ステップ14)。準備された計測時間と手振れ誤差との対応表を用いて、設定露光時間での、計測時間と(手振れ誤差+測位誤差)の対応表を算出する(ステップ15)。設定候補の全ての露光時間に対してステップ11〜15を繰り返して、計測時間と位置計測誤差の対応表を算出する(ステップ16)。位置計測誤差が最小となる露光時間と平均回数を設定する(ステップ17)。【選択図】図5

6. 发明专利

JP2021143995A 光干渉計測装置审中-公开
公开(公告)号：JP2021143995A
公开(公告)日：2021-09-24
申请号：JP2020044217
申请日：2020-03-13
申请人：オムロン株式会社
发明人：木村和哉 , 早川雅之
IPC分类号： G01B11/00 , G01B9/02
摘要：【課題】装置の大型化を招くことなく、低コストで光干渉計測装置のガイド光照射機能を提供する。【解決手段】光干渉計測装置が、赤外域の波長を有する計測光を出力する第1光源と、可視域の波長を有するガイド光を出力する第2光源と、少なくとも、前記計測光が入力される第1ポート、前記ガイド光が入力される第2ポート、及び、前記計測光と前記ガイド光が結合された結合光が出力される第3ポートを有するファイバカプラと、前記結合光を計測対象に照射し、前記計測対象で反射した戻り光を受光する計測部と、前記戻り光と参照光との干渉信号に基づいて、前記計測対象の距離、速度、又は、振動に関する情報を取得する処理部と、を有する。前記ファイバカプラは、カットオフ波長が前記計測光の波長より短く且つ前記ガイド光の波長より長いシングルモードファイバで構成されている。【選択図】図1

7. 发明专利

JP2019096618A 光源装置およびこれを備えた測距センサ审中-公开
公开(公告)号：JP2019096618A
公开(公告)日：2019-06-20
申请号：JP2019008248
申请日：2019-01-22
申请人：オムロン株式会社
发明人：木村和哉 , 荒川正行 , 早川雅之 , 池谷崇
IPC分类号： F21V8/00 , F21V5/04 , F21V7/22 , G01C3/06 , F21Y115/30 , F21V9/35
摘要：【課題】従来よりも高輝度な光源を得ることが可能な光源装置およびこれを備えた測距センサを提供する。【解決手段】光源装置10は、レーザ光を照射する光源部11と、集光レンズ12と、透光性蛍光体13と、を備えている。集光レンズ12は、光源部11から照射されたレーザ光を集光する。透光性蛍光体13は、集光レンズ12によって集光されたレーザ光が照射されて蛍光を発する。【選択図】図2

8. 发明专利

JP2018206726A 光源装置およびこれを備えた測距センサ审中-公开
公开(公告)号：JP2018206726A
公开(公告)日：2018-12-27
申请号：JP2017114291
申请日：2017-06-09
申请人：オムロン株式会社
发明人：木村和哉 , 荒川正行 , 早川雅之 , 池谷崇
IPC分类号： F21V9/00 , F21V7/22 , G01C3/06 , F21Y115/30 , F21S2/00
摘要：【課題】従来よりも高輝度な光源を得ることが可能な光源装置およびこれを備えた測距センサを提供する。【解決手段】光源装置10は、レーザ光を照射する光源部11と、集光レンズ12と、透光性蛍光体13と、を備えている。集光レンズ12は、光源部11から照射されたレーザ光を集光する。透光性蛍光体13は、集光レンズ12によって集光されたレーザ光が照射されて蛍光を発する。【選択図】図2

9. 发明专利

JP2019075385A 光源装置およびこれを備えた測距センサ审中-公开
公开(公告)号：JP2019075385A
公开(公告)日：2019-05-16
申请号：JP2019010947
申请日：2019-01-25
申请人：オムロン株式会社
发明人：藤原直樹 , 木村和哉 , 早川雅之 , 荒川正行
IPC分类号： F21V7/28 , F21V9/35 , F21V8/00 , G01B11/00 , G01C3/06 , F21Y115/30 , F21S2/00
摘要：【課題】従来よりも高輝度な光源を得ることが可能な光源装置およびこれを備えた測距センサを提供する。【解決手段】光源装置10は、レーザ光を照射する光源部11、集光レンズ12、透光性蛍光体13、取込み用レンズ14、光ファイバ15を備えている。集光レンズ12は、光源部11から照射されたレーザ光を集光する。透光性蛍光体13は、集光レンズ12によって集光されたレーザ光の集光点が内部に設けられており、レーザ光が透過する部分において蛍光を発する。取込み用レンズ14は、少なくとも透光性蛍光体13において発せられた蛍光を集光する。光ファイバ15は、取込み用レンズ14において集光された蛍光が第1端面に照射されるとともに、第1端面とは反対側の第2端面から蛍光を出射する。取込み用レンズ14および光ファイバ15を含む蛍光取込み系は、単一の透光性蛍光体13に対して複数設けられている。【選択図】図15

10. 发明专利

JP2018206725A 光源装置およびこれを備えた測距センサ审中-公开
公开(公告)号：JP2018206725A
公开(公告)日：2018-12-27
申请号：JP2017114290
申请日：2017-06-09
申请人：オムロン株式会社
发明人：藤原直樹 , 木村和哉 , 早川雅之 , 荒川正行
IPC分类号： F21V9/00 , F21V7/22 , G01C3/06 , G01B11/00 , F21Y115/30 , F21S2/00
摘要：【課題】従来よりも高輝度な光源を得ることが可能な光源装置およびこれを備えた測距センサを提供する。【解決手段】光源装置10は、レーザ光を照射する光源部11と、集光レンズ12と、透光性蛍光体13と、を備えている。集光レンズ12は、光源部11から照射されたレーザ光を集光する。透光性蛍光体13は、集光レンズ12によって集光されたレーザ光の集光点が内部に設けられており、レーザ光が透過する部分において蛍光を発する。【選択図】図2

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