基本信息:
- 专利标题： 電解質濃度測定装置
- 申请号：JP2018161955 申请日：2018-08-30
- 公开(公告)号：JP2020034449A 公开(公告)日：2020-03-05
- 发明人： 竹内 孝憲 , 小沢 理
- 申请人： 株式会社日立ハイテクノロジーズ
- 申请人地址： 東京都港区西新橋一丁目24番14号
- 专利权人： 株式会社日立ハイテクノロジーズ
- 当前专利权人： 株式会社日立ハイテクノロジーズ
- 当前专利权人地址： 東京都港区西新橋一丁目24番14号
- 代理人： 特許業務法人平木国際特許事務所
- 主分类号： G01N27/416
- IPC分类号： G01N27/416 ; G01N27/26
摘要：
【課題】ユーザの介在なしにいつでも校正ができ、作業効率を向上させて電解質濃度測定装置を提供する。 【解決手段】この電解質濃度測定装置は、イオンを含むイオン溶液を供給されるイオン選択性電極と、比較電極液を供給される比較電極と、前記イオン選択性電極と比較電極との間の電位差を測定する測定部と、装置の校正のための電解質標準液を生成する電解質標準液生成部とを備える。前記電解質標準液生成部は、陽イオンの濃度と陰イオンの濃度とを調整可能に構成されて前記電解質標準液を生成する。 【選択図】図1
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N27/00 | 用电、电化学或磁的方法测试或分析材料 |
| --------G01N27/02 | .通过测试阻抗 |
| ----------G01N27/416 | ..系统 |