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1. 发明专利

JP2017535816A 歪曲収差の少ない顕微鏡审中-公开
公开(公告)号：JP2017535816A
公开(公告)日：2017-11-30
申请号：JP2017525546
申请日：2015-11-11
申请人：カールツァイスマイクロスコピーゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh , カールツァイスマイクロスコピーゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh , カールツァイスアーゲー , カールツァイスアーゲー
发明人：シュウェット，ダニエル , アンフト，ティエモ , ワルド，マティーアス , ベーメ，ベアーテ , カウフホルト，トビアス
IPC分类号： G02B21/00 , G01N21/64
CPC分类号： G02B21/0032 , G02B21/002 , G02B21/0024 , G02B21/0036 , G02B21/0048 , G02B26/10 , G02B26/105 , G02B27/0031 , G02B27/0068
摘要：【課題】光走査型顕微鏡のビーム偏向ユニットは、通常、対物瞳に共役な平面内に配置される。共役瞳面を生成するために必要な走査光学系は、像面湾曲や横方向の色収差などの異なる結像収差を補償する必要があるため、複雑であり、光効率が低い。本発明は、より高い画像品質、より簡単な調整及びより少ない光損失を可能にすることを意図している。【解決手段】この目的のために、光学系は、第1及び第2ビーム偏向ユニット(30A、30B)の各点を、互いの上に結像させるための凹面鏡(36)を備え、照射ビーム経路が凹面鏡(36)で一度だけ反射され、凹面鏡(36)に起因する第1歪みと第1ビーム偏向ユニット及び第2ビーム偏向ユニット(30A、30B)に起因する結像の第2歪みとが、少なくとも部分的に相互に補償するように、凹面鏡(36)と第1ビーム偏向ユニット(30A)と第2ビーム偏向ユニット(30B)とが配置されている。【選択図】図4A

2. 发明专利

JP2017527918A 結果画像を生成する方法及び光学装置审中-公开
公开(公告)号：JP2017527918A
公开(公告)日：2017-09-21
申请号：JP2017512933
申请日：2015-09-15
申请人：カールツァイスマイクロスコピーゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh , カールツァイスマイクロスコピーゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh
发明人：ラルスシュトッペ , ラルスシュトッペ , クリストフフーセマン , クリストフフーセマン , ウルフギャングシンガー , ウルフギャングシンガー
IPC分类号： G06T5/50 , G02B21/36
CPC分类号： G06T5/007 , G06T3/4076 , G06T5/002 , G06T5/003 , G06T5/006 , G06T5/30 , G06T5/50 , G06T2207/10056 , G06T2207/10152 , G06T2207/20221
摘要：【課題】結果画像を生成する方法及び光学装置【解決手段】少なくとも2つの照明ジオメトリ(110−1,110−2)を使用して、物体(100)が順次照明される。少なくとも2つの照明ジオメトリ(110−1,110−2)のそれぞれについて、物体(100)の強度画像が取得される。強度画像は、結果画像を生成するために合成される。合成は、結果画像が所定の最適化基準を満たすように実行される。一例として、この最適化基準は、画像コントラスト、エッジの急峻性、又は画像の鮮明度に関連し得る。最適化は、空間的に分解されて実行され得る。【選択図】図1

3. 发明专利

JP2017524155A 物体を画像化する方法及び装置审中-公开
公开(公告)号：JP2017524155A
公开(公告)日：2017-08-24
申请号：JP2017503476
申请日：2015-07-20
申请人：カールツァイスマイクロスコピーゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh , カールツァイスマイクロスコピーゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh
发明人：ラルスシュトッペ , ラルスシュトッペ , クリストフフーセマン , クリストフフーセマン
IPC分类号： G02B21/36 , G02B27/09 , H04N5/225 , H04N5/232
CPC分类号： G02B21/367 , G02B21/06 , G02B27/58
摘要：物体(100)の少なくとも2つの画像(201−1〜201−3)が得られ、各画像には、所定のビーム形状特性(111−1〜111−3)に関連付けられる照明野(110−1〜110−3)が関連付けられる。少なくとも2つの画像(201−1〜201−3)のそれぞれについて、ビーム形状特性の効果が物体の所定の近似値に付加され、近似値は、それぞれの画像に基づいてフーリエタイコグラフィ技法によって調整され、次に、ビーム形状特性の効果が物体の適合された近似値から除去される。【選択図】図1

4. 发明专利

JP2017521729A ズーム顕微鏡审中-公开
公开(公告)号：JP2017521729A
公开(公告)日：2017-08-03
申请号：JP2017505206
申请日：2015-07-13
申请人：カールツァイスマイクロスコピーゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh , カールツァイスマイクロスコピーゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh
发明人：ヴィンテロット、ヨハネス
IPC分类号： G02B21/00 , G02B13/00 , G02B21/36 , G03B9/02
CPC分类号： G02B21/025 , G02B15/173
摘要：本発明は、交換可能な対物レンズ(03、13)と、観察ビーム経路内で対物レンズ(03、13)の後ろに配置されている少なくとも2つの可動レンズ群を備えたズームアセンブリ(04)と、ズームアセンブリ(04)の後ろに配置されている鏡筒アセンブリ(08)と、対象物面内に配置された試料の像を捕捉するための、鏡筒アセンブリ(08)の後ろに配置され、かつ像面内にポジショニングされた画像センサー(09)を備えている結像ユニットとを備えたモジュール式ズーム顕微鏡に関する。本発明によれば、対物レンズ(03、13)が、対物レンズの像側焦点がズームアセンブリ内にあるような焦点距離を有しており、かつ可動レンズ群の1つが絞り(07)を含む。これに関し有利な1実施形態では、可動レンズ群を、少なくとも第1の位置では、ズームアセンブリの入射瞳が対物レンズの像側焦点内にあるように調整することができる。

5. 发明专利

JP2016537671A 光学的伝達システムおよびそのような伝達システムを備える顕微鏡审中-公开
标题翻译：光学传递系统和显微镜装备有这种传输系统
公开(公告)号：JP2016537671A
公开(公告)日：2016-12-01
申请号：JP2016527320
申请日：2014-11-13
申请人：カールツァイスマイクロスコピーゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh , カールツァイスマイクロスコピーゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh
发明人：デーゲン、アルトゥル , ゲレス、ミヒャエル , ジーベンモルゲン、イェルク , リッペルト、ヘルムート , カルクブレナー、トーマス , クレッペ、インゴ , ヴァルト、マティアス , ウィッティヒ、ラース−クリスティアン , シンガー、ヴォルフガング , ヴォレシェンスキー、ラルフ
IPC分类号： G02B21/06 , G02B13/18 , G02B21/08
CPC分类号： G02B21/0032 , G02B3/04 , G02B21/0052 , G02B21/0076 , G02B21/02 , G02B21/248 , G02B21/33 , G02B21/34 , G02B21/367 , G02B27/0025
摘要：本発明は、少なくとも1つのレンズを備える光学的伝達システムに関するものであり、該伝達システムは、試料(4)の選択された領域(3)を対象物面(9)から第2の媒体(7)内にある中間画像面(10)に結像するように構成されており、試料(4)は、対象物面(9)にある第1の媒体(5)内で、少なくとも部分的に平行平面のプレート(6)として構成された試料支持体上または試料支持体内に配置されており、結像の際に平行平面のプレート(6)は、光学的伝達システムと試料(4)の領域(3)との間に存在し、対象物面(9)と中間画像面(10)は、伝達システムの光軸(8)と0°から90°までの角度を形成する。本発明はさらに、そのような伝達システムを使用する顕微鏡にも関する。そのような光学的伝達システムでは、当該システムが試料(4)の領域(3)に対して、試料(4)の領域(3)が光学的伝達システムの試料にもっとも近いレンズ(1)の焦点距離内に存在するように位置決めされている。ここで中間画像面(10)と対象物面(9)は、光学的伝達システムの同じ側に存在し、中間画像は仮想画像である。
摘要翻译：本发明涉及包含至少一个透镜的光传输系统，所述传输系统中，样品（4）在选择的区域（3）的物平面（9）的所述第二介质（7 ）是样品内被配置为图像的中间像平面（10）（4）是一第一介质（5），其中是所述物平面（9），至少部分地并行它被设置在上支承体或样品支撑体配置的样品作为板平面（6）中，板平行的平面当成像（6），所述光传输系统的面积和样品（4）（ 3之间存在），物体面（9）和所述中间像平面（10）形成所述光轴（8）的从0°到90°的传输系统中的角度。本发明还涉及使用这样的递送系统的显微镜。在这种光传输系统中，区域（3）的系统，是在样品（4），在该区域的样品（4）的焦点（3）是最靠近透镜到光传输系统的样品（1）它被定位成位于距离内。这里的中间像平面（10）和所述物平面（9）存在于所述光传输系统的同一侧，中间图像是虚像。

6. 发明专利

JP2016528557A 高解像度スキャニング顕微鏡法有权
标题翻译：高分辨率扫描显微镜
公开(公告)号：JP2016528557A
公开(公告)日：2016-09-15
申请号：JP2016533860
申请日：2014-07-18
申请人：カールツァイスマイクロスコピーゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh , カールツァイスマイクロスコピーゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh
发明人：クレッペ，インゴ , ノヴィカウ，ヤウヘン , ニーテン，クリストフ , ネッツ，ラルフ
IPC分类号： G02B21/00
CPC分类号： G02B21/0072 , G02B6/08 , G02B15/14 , G02B21/0032 , G02B21/0076 , G02B21/008 , G02B21/361 , H04N7/183
摘要：試料(2)の高解像度スキャニング顕微鏡法のための顕微鏡および方法において、試料(2)を照明するための照明装置(3)と、試料(2)にわたって少なくとも1つの点スポットまたは線スポット(14)をスキャンするため、および点スポットまたは線スポット(14)を検出平面(18)へ結像縮尺のもとで静止した回折限界個別画像(17)へと結像するための結像装置(4)と、結像縮尺を考慮した上で少なくとも1つの広がり/面積に関して回折限界個別画像(17)の半値幅の少なくとも2倍の大きさの位置解像度でさまざまなスキャン位置について検出平面(18)で個別画像(17)を検出するための検出器装置(19)と、検出器装置(19)のデータからスキャン位置について個別画像(17)の回折構造を評価するため、および回折限界を超えて高められた解像度を有する試料の画像を生成するための評価装置(C)とを有しており、検出器装置(19)は、ピクセル(25)を有し、個別画像(17)よりも大きい検出器アレイ(24)と、検出器アレイ(24)に前置され、検出平面(18)からの放射を非結像式に検出器アレイ(24)のピクセル(25)へ分配する非結像式の再分配部材(20〜21;30〜34;30〜35)とを有しており、再分配部材の取替および/または画像サイズを適合化するためのズーム光学系/集束光学系の調整および/または制御信号を用いた検出器アレイの個別ピクセルの統合によって調整が制御ループで行われ、この調整は制御量として画像コントラストおよび/または画像鮮明度および/または信号/雑音比を含んでいる。
摘要翻译：在显微镜和方法样品的高分辨率扫描显微镜（2），将样品和用于照明（2）（3），所述样品的至少一个点的点或线斑点以上（2）（14）的照明装置进行扫描，并且对于一个点斑或线点（14）的衍射极限成像成像装置的各个图像的成像比例下静止检测平面（18）（17）（4）当与至少一个单独的扩频相对于的半值宽度的衍射极限的单个图像（17）/面积至少两倍于检测平面中考虑成像比例的由位置分辨率各个扫描位置的尺寸（18）用于检测图像（17）检测器装置（19），以评估各个图像（17），用于从所述检测器装置（19）的数据的扫描位置的衍射结构，和升高超出衍射极限以产生具有样品分辨率的图像具有的评估装置（C），所述检测器装置（19），所述像素具有（25），较大的检测器阵列比的单个图像（17）（24），所述探测器阵列（24）到前面，用于从在检测平面（18）分配所述检测器阵列的辐射的像素非成像型再分配部件Hiyui图（24）（25）（20-21; 30-34; 使用变焦光学系统的调整和/或控制信号/聚焦光学系统，用于适应更换和/或重新分配构件的图像尺寸分别具有30至35），并且检测器阵列的调节像素的积分在控制回路中进行的，这种调整包括图像对比度和/或图像清晰度和/或信号/噪声比作为控制量。

7. 发明专利

JP2016525229A 光シート顕微鏡検査用の装置有权
标题翻译：设备，用于显微镜检查的光学片
公开(公告)号：JP2016525229A
公开(公告)日：2016-08-22
申请号：JP2016524791
申请日：2014-07-08
申请人：カールツァイスマイクロスコピーゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh , カールツァイスマイクロスコピーゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh
发明人：ジーベンモルゲン、イェルク , カルクブレナー、トーマス , リッペルト、ヘルムート
IPC分类号： G02B21/34 , G02B5/10
CPC分类号： G02B27/0025 , G01N21/15 , G01N2021/0396 , G02B21/0032 , G02B21/0076 , G02B21/0088 , G02B21/02 , G02B21/16 , G02B21/33 , G02B21/34 , G02B21/367 , G02B27/0068
摘要：本発明は、光シート顕微鏡検査用の装置に関する。このような装置は、媒質(2)内に存在する試料(3)を収容するための試料容器(1)を含む。試料容器(1)は、平坦な基準面を基準にして位置決めされている。この装置はさらに、試料(3)を光シートにより照明するための照明対物レンズ(6)を備える照明光学系と、検出対物レンズ(8)を備える検出光学系とを含み、照明対物レンズ(6)の光軸(7)と光シートとは、基準面の法線とゼロ以外の照明角(β)を成す平面内にあり、検出対物レンズ(8)の光軸(9)は基準面の法線とゼロ以外の検出角(δ)を成す。このような装置において、所定の厚さを有し、かつ所定の材料から作製された1つまたは複数の層の分離層システムが、試料(3)の存在する媒質(2)を照明対物レンズ(6)および検出対物レンズ(8)から空間的に分離するために設けられている。分離層システムは、基準面に対して平行に位置決めされた境界面(11)が、照明および検出のための照明対物レンズ(6)および検出対物レンズ(8)に対して少なくとも接近できる領域内では媒質(2)と接触している。照明角(β)と検出角(δ)は、検出対物レンズ(8)または照明対物レンズ(6)の開口数(NAD、NAB)に基づいて設定されている。
摘要翻译：本发明涉及一种用于光学片显微镜的装置。这种装置包括一个样品（3）样品的容器（1），用于在介质收容一个存在（2）。样品容器（1）它被定位相对于所述平坦的参考平面。该装置还包括照明光学系统，其包括用于照射该光学片材（6）的样品（3）照明物镜和检测光学系统包括检测物镜（8），所述照明物镜（6 形成照明比正常和零参考平面的角度的光轴（7）和所述光学片材），在平面（测试版），光轴（9检测物镜（8））为基准平面形成比正常为零其它检测角度（δ）。在这样的装置，它具有预定的厚度，并且一个或从给定的材料制成的分离层系统的多个层，有一个介质（2）样品的照明物镜（3）（它被提供给空间上分开6）和检测物镜（8）。分离层系统相对于所述参考平面（11）定位成平行于边界面上的至少一个可访问在用于照明和检测照明物镜的区域（6）和检测物镜（8）它是在与介质（2）接触。照明角度（测试版）和检测角（δ），检测物镜（8）或所述照明物镜的数值孔径（6）（NAD，NAB）设定基础上的。

8. 发明专利

JP2016514258A 撮影装置および撮影方法审中-公开
标题翻译：成像装置和成像方法
公开(公告)号：JP2016514258A
公开(公告)日：2016-05-19
申请号：JP2015559462
申请日：2014-02-14
申请人：カールツァイスアーゲー , カールツァイスアーゲー , カールツァイスマイクロスコピーゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh , カールツァイスマイクロスコピーゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh
发明人：シュミット−マンダーバッハ、トビアス , クランパート、ゲルハルト , ヘルミッヒ、ヴィプケ , リッペルト、ヘルムート
IPC分类号： G01N29/06 , G01N21/00 , G01N21/17 , G01N29/24 , G01N29/44
CPC分类号： G01N29/0654 , G01N29/2418 , G01N29/44
摘要：圧力波を放出させるために試料(3)を励起する励起モジュール(2、10;9、10)と、生成された圧力波を検出するための音響モジュール(9、10)と、音響モジュール(9、10)のデータに基づいて音響画像を確定する制御モジュール(10)とを備えた撮影装置が提供される。この撮影装置は、試料(3)を光学的に結像するための結像モジュール(5)をさらに備えており、制御モジュール(10)が、試料(3)の光学的結像に基づいて試料境界および試料(3)内部のセグメント境界のうちの少なくとも一方を特定し、特定された試料境界およびセグメント境界のうちの少なくとも一方を音響画像の確定の際に考慮する。
摘要翻译：样品泵送模块，以激发（3），以便释放所述压力波;和（2,10 9,10），和用于检测所产生的压力波（9，10），声学模块声学模块（9 ，成像装置，包括用于确定所述声学图像（10）的控制模块被设置在10的数据的基础上）。的成像装置中，样品（3），还包括用于光学成像（5），控制模块（10）的成像模块，基于所述样品（3）样品的光学图像识别的边界中的至少一个和所述样本（3）的分割边界内，考虑确定声象的过程中确定的样本边界和段边界中的至少一个。

9. 发明专利

JP2015532449A 自由に調整可能な試料走査を有する共焦点顕微鏡有权
标题翻译：共焦显微镜与可自由调节样品扫描
公开(公告)号：JP2015532449A
公开(公告)日：2015-11-09
申请号：JP2015533612
申请日：2013-09-27
申请人：カールツァイスマイクロスコピーゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh , カールツァイスマイクロスコピーゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh
发明人：カルクブレナー、トーマス
IPC分类号： G02B21/06 , G01N21/64 , G02B21/00
CPC分类号： G02B21/0032 , G02B21/0036 , G02B21/004 , G02B21/0052
摘要：試料空間(2)内に配置された試料の非ラスタ型共焦点結像のための顕微鏡であって、個々にスイッチオン可能な光源(5;21)から成る光源群(4;20)を有する照明機構と、検出機構(3)と、複数の相並んでいるピンホール素子(13;27)を有するピンホールアレイ(8;26)を含むピンホール機構であって、各々の光源(5;21)に対して1つのピンホール素子(13;27)が存在しているピンホール機構と、各々のピンホール素子(13;27)に、光源群(4;20)の光源(5;21)の個々の放射によって光を当て、試料空間(2)内にある単一スポット(14)を共焦点で照明する光学系(6、7、9、11)とを備えており、各々のピンホール素子(13;27)に単一スポット(14)の1つが割り当てられており、単一スポット(14)が試料空間(2)内で、放射の入射方向に対して相並んでおり、かつ光学系(11、9、7、15、17)が、単一スポット(14)をピンホール機構によって共焦点で検出機構(3)上に結像する顕微鏡を説明する。
摘要翻译：一种用于在能够具有光源每个开关内放入样品空间（2）的样品的非光栅共焦成像显微镜;（20 4）（5 21）组成的光源组的照明机构，检测机构（3）中，针孔元件上设置有多个相的;具有（13 27）针孔阵列;一个针孔机构，其包含（8月26日），每个光源（5; 针孔机构27）存在时，每个小孔元件（13;相对一个小孔元件〜21）（13至27），一个光源组（4;光源20）（5; 21 由各个辐射照射），和一个光学系统（6,7,9,11），用于在共焦照射在样品空间（2）的单个点（14），每个销霍尔元件;一个单点（14）至（13 27），但被分配在单一的点（14）的样品空间（2）内，并且并排侧相对于所述辐射的方向，和光学器件（11,9,7,15,17）是单点通过制备（14）的针孔机构说明集中于在一个共焦检测机构（3）显微镜。

10. 发明专利

JP2015527618A 光学装置および光学顕微鏡有权
公开(公告)号：JP2015527618A
公开(公告)日：2015-09-17
申请号：JP2015530332
申请日：2013-08-02
申请人：カールツァイスマイクロスコピーゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh , カールツァイスマイクロスコピーゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh
发明人：カルクブレナー、トーマス , クランパート、ゲアハルト , ネッツ、ラルフ
IPC分类号： G02B21/06
CPC分类号： G02B21/06 , G02B5/1814 , G02B21/0032 , G02B21/0076 , G02B21/0092 , G02B21/025 , G02B21/04 , G02B21/367 , G02B27/58
摘要：本発明は、照射光線からの構造化された照明光線を提供するために少なくとも1つの第1のおよび1つの第2の光学系コンポーネントを備える、光学顕微鏡の光線経路内に配置するための光学装置に関する。本発明の光学装置は、光が異なる光線経路を介してさまざまな光学系コンポーネントへさらに試料の方向へと伝搬され、電子式制御手段を備え、またこの電子式制御手段が異なる光線経路からさまざまな光学系コンポーネントへ、ある時点においてそれぞれ1つの光線経路を照明するように設定されていて、さまざまな光学系コンポーネントから来る光を試料の方向への共通の光線経路へ導くための、少なくとも1つの第1の光線集光ミラーが存在し、この第1の光線集光ミラーが反射領域を持ち、この反射領域上には、2つの光学系コンポーネントの1つからの光のみが当たり、第1の光線集光ミラーが光線透過領域を持ち、この光線透過領域上には、別の光学系コンポーネントからの光のみが当たることを特徴とする。本発明はさらに、本発明の光学装置を持つ光学顕微鏡に関する。

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