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1. 发明专利

JP2020089037A ピエゾアクチュエータ、流体制御バルブ、及び、流体制御装置审中-公开
公开(公告)号：JP2020089037A
公开(公告)日：2020-06-04
申请号：JP2018219437
申请日：2018-11-22
申请人： HORIBA LTD
发明人： MIYAMOTO HIDEAKI
IPC分类号： H02N2/06 , F16K31/02 , H01L41/04 , H01L41/083 , H01L41/09 , H01L41/29
摘要：【課題】絶縁破壊が生じても完全に動作が停止せず、制限された可動範囲内だけでも暫定的な運転を継続することができるピエゾアクチュエータを提供する。【解決手段】圧電セラミック層と電極層とを交互に積層して形成された複数のピエゾブロックと、複数の前記ピエゾブロックに接続された駆動回路と、を備え、複数の前記ピエゾブロックがそれぞれ伸縮方向に並べて設けられており、前記駆動回路が、複数の前記ピエゾブロックがそれぞれ並列に接続され、電流を供給する電源部と、複数の前記ピエゾブロックに対してそれぞれ直列に設けられた複数の制限抵抗と、を備えた。【選択図】図2

2. 发明专利

JP2019020375A 分析装置审中-公开
公开(公告)号：JP2019020375A
公开(公告)日：2019-02-07
申请号：JP2017237256
申请日：2017-12-11
申请人： HORIBA LTD
发明人： HIRANO AKIHIRO , YAMADA TAKEHIRO , YONESHIGE HIDENARI , INOUE TAKAHITO
IPC分类号： G01N31/12 , G01N1/00 , G01N1/22 , G01N1/28
摘要：【課題】爆燃性試料を精度よく分析することができる分析装置を提供する。【解決手段】試料を収容する容器Vと、容器Vが投入される加熱炉1a,1bと、加熱炉1a,1bで加熱され燃焼する試料から生じる分析対象ガスを分析する分析計2とを備えた分析装置100であって、試料の燃焼に用いられる支燃ガスを加熱炉1a,1bに供給する支燃ガス供給流路42と、支燃ガス供給流路42から加熱炉1a,1bに供給される支燃ガスの流量を調整し、試料の燃焼を制御する燃焼制御機構7a,7bとを備えていることを特徴とする分析装置である。【選択図】図1

3. 发明专利

JP2019020233A 粒子分析装置における光照射を調整するためのモニター装置审中-公开
公开(公告)号：JP2019020233A
公开(公告)日：2019-02-07
申请号：JP2017138407
申请日：2017-07-14
申请人： HORIBA LTD
发明人： NISHIMORI MASASHI
IPC分类号： G01N15/14 , G01N21/64
摘要：【課題】粒子分析装置における光照射の調整の手間をより少なくする新たな装置を提供すること。【解決手段】本発明のモニター装置は、モニター用制御部10を有し、該モニター用制御部10は、第1のデータ処理部11aと、第2のデータ処理部11bと、指示値出力部12を有する。第1のデータ処理部は、光軸調整のための指示値として、粒子分析装置から得られる受光信号の強度を示す第1の指示値を生成する。第2のデータ処理部11bは、該受光信号のゲイン調整のための指示値として、前記第1の指示値とは異なる、前記受光信号の強度を示す第2の指示値を生成する。指示値出力部12は、第1、第2の指示値を表示装置に出力する。【選択図】図1

4. 发明专利

JP2019002809A 除去部材、校正装置、及びガス分析装置审中-公开
公开(公告)号：JP2019002809A
公开(公告)日：2019-01-10
申请号：JP2017118004
申请日：2017-06-15
申请人： HORIBA LTD
发明人： YAMAMOTO ATSUSHI , AKIYAMA SHIGEYUKI , NAKAGAWA TOSHIAKI
IPC分类号： G01N21/01 , G01N21/61
摘要：【課題】校正ガスから除去対象物質を容易に取り除く。【解決手段】スクラバ103は、入口Isと、ケース1031と、スクラバ物質1034と、出口Osと、を備える。入口Isは、校正ガスGcを排出する排出口Ocに接続される。ケース1031は、入口Isから取り入れた校正ガスGcが通過する内部空間Sを有する。スクラバ物質1034は、ケース1031の内部空間Sに充填され、当該内部空間Sを通過する校正ガスGcに含まれる除去対象物質を除去する固形物である。出口Osは、除去対象物質を除去した校正ガスGcを排出する。【選択図】図1

5. 发明专利

JP2015001478A 粒子径分布測定装置有权
标题翻译：颗粒尺寸分布测量装置
公开(公告)号：JP2015001478A
公开(公告)日：2015-01-05
申请号：JP2013126911
申请日：2013-06-17
申请人：株式会社堀場製作所 , Horiba Ltd
发明人： SUGASAWA HISAMASA
IPC分类号： G01N15/02
CPC分类号： G01N15/0211
摘要：【課題】精度良く、かつ、安定して粒子径分布を算出できる粒子径分布測定装置を提供する。【解決手段】検査光が粒子群に当たって生じる二次光の特性に基づいて粒子径分布が算出される。粒子径分布の算出において、粒子径分布の仮想解から算出される二次光の特性を実際の測定で得られた二次光の特性に近づけるべく仮想解を複数回更新する。その際、一の反復解法によって算出した粒子径分布を、別の反復解法に仮想解として与え、その結果算出された粒子径分布を新たな粒子径分布として更新し、この手順を複数回繰り返して粒子径分布を算出する。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：提供能够稳定，准确地计算粒度分布的粒度分布测量装置。解决方案：在粒度分布测量装置中，基于通过照射产生的二次光的特性来计算粒度分布检查灯到一个粒子组。在粒度分布计算中，将粒度分布的虚拟解更新多次，使得从虚拟解算出的二次光的特性变得更接近于通过实际测量获得的二次光的实际特性。此时，将通过一个迭代解算成的粒度分布作为虚拟解被应用于另一迭代解，通过所得到的粒度分布将粒度分布更新为新的粒度分布，并且该过程重复多次的时间来计算粒度分布。

6. 发明专利

JP2014236018A 加熱気化システムおよび加熱気化方法有权
标题翻译：热蒸发系统和热蒸发方法
公开(公告)号：JP2014236018A
公开(公告)日：2014-12-15
申请号：JP2013114635
申请日：2013-05-30
申请人：株式会社堀場エステック , Horiba Ltd
发明人： TERASAKA MASAKUNI
IPC分类号： H01L21/205 , C23C16/448 , H01L21/31
CPC分类号： C23C16/4485 , B01D1/0082 , F17C2270/0518
摘要：【課題】ガス流量計や材料ガスに生じる不具合を防止するとともに、ガス導出配管内での結露を防止した加熱気化システムおよび加熱気化方法を提供する。【解決手段】材料を収容し、この材料を加熱及び気化して材料ガスを生成する容器2と、容器2に接続され、容器2内で生成された前記材料ガスを導出する配管3と、配管3に設けられたセンサ用流路3aと、センサ用流路3aに設けられた熱式流量センサ6を具備し、該熱式流量センサ6を用いて配管3を流れる材料ガスの流量を測定する流量検出部4aと、流量検出部4aの上流における配管3を流れる前記材料ガスの流量を調整する流量調整部4bと、流量検出部4aの検出結果を用いて、流量調整部4bを制御する制御部4cとを備える加熱気化システム1。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种布置成防止在气体流量计和材料气体中出现故障并且防止气体引出管中的水分冷凝的热蒸发系统; 热蒸发方法。热蒸发系统1包括：容器2，当容纳材料时，容器2加热和蒸发材料以产生材料的气体; 与容器2连接的管3，用于引出在容器2中产生的原料气体; 设置在管3上的传感器流路3a; 设置在传感器流路3a上的热式流量传感器6; 流量检测器4a，用于通过使用热式流量传感器6测量在管3中流动的原料气体的流量; 用于调节在流量检测器4a上游流过管道3的原料气体的流量的流量调节器4b; 以及用于通过流量检测器4a的检测结果来控制流量调节器4b的控制部分4c。

7. 发明专利

JP2014219362A パルス波高検出装置、放射線検出装置、放射線分析装置、及びパルス波高検出方法有权
标题翻译：脉冲波高检测装置，辐射检测装置，辐射分析装置和脉波波高检测方法
公开(公告)号：JP2014219362A
公开(公告)日：2014-11-20
申请号：JP2013100604
申请日：2013-05-10
申请人：株式会社堀場製作所 , Horiba Ltd
发明人： EDA NAOTO
IPC分类号： G01T1/36 , G01T1/17
CPC分类号： G01T1/17 , G01T1/36
摘要：【課題】放射線の検出効率と放射線エネルギーの検出精度とを両立させたパルス波高検出装置、放射線検出装置、放射線分析装置、及びパルス波高検出方法を提供する。【解決手段】放射線検出器1は、放射線のエネルギーに応じた単ステップ状パルスを出力する。パルス波高検出装置2は、第1フィルタ部(第1変換部)22及び第2フィルタ部(第2変換部)23で単ステップ状パルスを台形状パルスへ変換し、波高検出部26で台形状パルスの波高を検出する。パルス波高検出装置2は、プロセスタイムがより短くなる第2フィルタ部23を利用することにより、放射線検出装置及び放射線分析装置での放射線の検出効率を向上させる。また、パルス波高検出装置2は、S/N比がより良好になる第1フィルタ部22を可能な限り利用し、第2フィルタ部23の利用を必要最小限に抑えることにより、放射線エネルギーの検出精度の悪化を可及的に防止する。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供能够实现辐射的检测效率和辐射能量的检测精度两者的脉波检测装置，放射线检测装置，放射线分析装置和脉波检测方法。：辐射检测器1输出对应于辐射能量的单个阶梯状脉冲。脉波高度检测装置2将第一滤波器部（第一转换部）22和第二滤波部（第二转换部）23将单个阶梯状脉冲转换成梯形脉冲，并且检测波高的脉冲波高检测装置2使用具有进一步缩短的处理时间的第二滤波器部23，从而提高放射线检测装置和放射线分析装置中的放射线的检测效率。此外，脉波高度检测装置2使用尽可能进一步提高S / N比的第一滤波部22，抑制第二滤波部23的最小限度的使用，防止检测精度的劣化的辐射能量尽可能多。

8. 发明专利

JP2014215055A 発光分光分析装置及びデータ処理装置审中-公开
标题翻译：排放光谱仪和数据处理单元
公开(公告)号：JP2014215055A
公开(公告)日：2014-11-17
申请号：JP2013089700
申请日：2013-04-22
申请人：株式会社堀場製作所 , Horiba Ltd
发明人： AOYAMA JUNICHI
IPC分类号： G01N21/73
CPC分类号： G01N21/73
摘要：【課題】プラズマにより発光させた試料の元素組成を分析することができる発光分光分析装置及びデータ処理装置を提供する。【解決手段】発光分光分析装置は、プラズマ2により発光させた試料に含まれる特定の元素の原子発光及びイオン発光の強度を検出し、他の元素の原子発光又はイオン発光の強度を検出する。データ処理装置5は、特定の元素の原子発光及びイオン発光の強度の比率と温度との関係を記憶しており、実際に検出した原子発光及びイオン発光の強度の比率から、試料の温度を特定する。また、データ処理装置5は、特定の元素及び他の元素の原子発光又はイオン発光の強度を、特定した温度に応じて補正し、補正後の各元素の原子発光又はイオン発光の強度に基づいて試料の元素組成を分析する。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供能够分析通过等离子体发射光的样品的元素组成的发射分光光度计和数据处理单元。解决方案：发射分光光度计检测包含的特定元素的原子发射和离子发射的强度在通过等离子体2发射光的样品中，并且检测另一元件的原子发射或离子发射的强度。数据处理单元5存储特定元素的原子发射强度和离子发射的比率与温度之间的关系，并且根据实际上的原子发射和离子发射强度的比率确定样品的温度检测。数据处理单元5根据确定的温度进一步校正特定元素和其他元素的原子发射或离子发射的强度，并且基于校正的原子发射或离子发射强度来分析样品的元素组成每个元素

9. 发明专利

JP2014190452A Fluid control valve 有权
标题翻译：流体控制阀
公开(公告)号：JP2014190452A
公开(公告)日：2014-10-06
申请号：JP2013067266
申请日：2013-03-27
申请人： Horiba Ltd , 株式会社堀場エステック
发明人： YASUDA TADAHIRO , HAYASHI SHIGEYUKI , KAWANAMI NORIYUKI
IPC分类号： F16K1/32 , F16K7/16 , G05D7/06
CPC分类号： F16K41/10 , F16K31/007 , Y10T137/7895
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a fluid control valve having a diaphragm structure which is low in resiliency, can enlarge a stroke by being largely deformed even if a large force is not applied from an actuator, and hardly generates a defect and a failure even if thinly formed, in order to enable large diameter and large output of the control valve.SOLUTION: In a fluid control valve V having a diaphragm structure 4 and an actuator 3 for pressing the diaphragm structure 4, the diaphragm structure 4 comprises: a cylindrical salient part 42 pressed by the actuator 3; a flange part 41 expanding from a base end of the salient part 42 to the outside with respect to the salient part 42; and a support part FI which is formed at an external periphery of the flange part 41, and attached to another member. The flange part 41 is formed into a membrane shape.
摘要翻译：要解决的问题：为了提供一种具有弹性低的隔膜结构的流体控制阀，即使没有从致动器施加大的力也能大幅度地变形，并且几乎不产生缺陷和故障甚至如果薄形成，则可以实现大直径和大的输出控制阀。解决方案：在具有隔膜结构4的流体控制阀V和用于按压隔膜结构4的致动器3中，隔膜结构4包括：圆柱形由致动器3按压的突出部42; 突出部分41相对于突出部分42从突出部分42的基端延伸到外侧; 以及形成在凸缘部41的外周并且附接到另一构件的支撑部FI。凸缘部41形成为膜状。

10. 发明专利

JP2014174054A Exhaust gas analyzer 有权
标题翻译：排气分析仪
公开(公告)号：JP2014174054A
公开(公告)日：2014-09-22
申请号：JP2013048341
申请日：2013-03-11
申请人： Horiba Ltd , 株式会社堀場製作所
发明人： MIYAI MASARU
IPC分类号： G01N21/61 , G01N1/22
CPC分类号： G01M15/108 , G01N1/2247 , G01N1/2252 , G01N1/38 , G01N2001/2255
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an exhaust gas analyzer to be used together with a CVS mechanism, the analyzer being configured to eliminate an influence from moisture contained in an exhaust gas and highly accurately analyze concentration and amount of a component of a measuring object.SOLUTION: An exhaust gas analyzer is used together with a CVS mechanism that samples all exhaust gas exhausted from an internal combustion engine and combines the exhaust gas with a dilution gas to keep a flow rate constant. The exhaust gas analyzer comprises a mix gas housing bag M1, a dilution gas housing bag M2, and an analyzer mechanism 10 that analyzes a mix gas to measure a first concentration related value on a concentration of a component to be measured, analyzes the dilution gas to measure a second concentration related value on the concentration of the component to be measured, and on the basis of these concentration related values calculates a value on the concentration of the component to be measured contained in the exhaust gas. The analyzer mechanism 10 comprises a target component densitometer 11 to measure an influencing moisture concentration related value of the component to be measured and a moisture densitometer 12 to measure a moisture concentration related value, to calculate the first concentration related value and the second concentration related value without the influence of moisture.
摘要翻译：要解决的问题：为了提供与CVS机构一起使用的废气分析装置，分析装置能够消除废气中含有的水分的影响，高精度地分析测定对象的成分的浓度和量。解决方案：一种废气分析仪与CVS机构一起使用，该CVS机构对从内燃机排出的所有废气进行采样，并将废气与稀释气体相结合，以保持流量恒定。废气分析装置包括混合气体容纳袋M1，稀释气体容纳袋M2和分析混合气体以测量待测部件的浓度的第一浓度相关值的分析器机构10，分析稀释气体测量待测组分浓度的第二浓度相关值，并且基于这些浓度相关值计算包含在废气中的被测量组分的浓度的值。分析器机构10包括目标成分密度计11，以测量被测量成分的影响水分浓度相关值和湿度密度计12，以测量水分浓度相关值，以计算第一浓度相关值和第二浓度相关值没有水分的影响。

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