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    • 83. 发明专利
    • エピタキシャル構造体
    • 外来结构
    • JP2015187072A
    • 2015-10-29
    • JP2015063889
    • 2015-03-26
    • ツィンファ ユニバーシティ鴻海精密工業股▲ふん▼有限公司
    • 魏 洋▲ハン▼ 守善
    • C30B29/38C23C16/04C23C16/40C23C16/34B82Y40/00B82Y30/00C30B25/04
    • H01L21/0237H01L21/0242H01L21/02444H01L21/02458H01L21/0254H01L21/02639H01L21/02642H01L21/02647B82Y40/00Y10S977/842
    • 【課題】エピタキシャル構造体の提供。 【解決手段】基板120と、エピタキシャル層130と、ナノチューブフィルム114と、を含むエピタキシャル構造体10であって、基板120は成長表面を有し、エピタキシャル層130は基板120の前記成長表面に設置され、ナノチューブフィルム114は基板120とエピタキシャル層130との間に設置され、ナノチューブフィルム114は自立構造体であり、同じ方向に沿って配列された複数のナノチューブを含み、ドローン構造カーボンナノチューブフィルムにおける複数のカーボンナノチューブの表面全体に原子層堆積法によってナノ材料層を形成した後、ドローン構造カーボンナノチューブフィルムを除去して形成される、複数の前記ナノチューブは間隔を開けて設置され、相互に前記ナノチューブが接触されている箇所ではイオン結合しているナノチューブフィルム114を含有するエピタキシャル構造体10。 【選択図】図20
    • 要解决的问题:提供外延结构。解决方案:提供包括衬底120,外延层130和纳米管膜114的外延结构10.外延结构10的特征在于:衬底120具有 生长面; 外延层130安装在基板120的生长表面上; 并且纳米管膜114安装在基板120和外延层130之间,是自立式结构,并且包括沿相同方向排列的多个纳米管。 通过在无机骨架碳纳米管膜的多个碳纳米管的整个表面上通过原子层沉积法形成纳米材料层之后去除无机骨架碳纳米管膜而形成外延结构10,并且包括纳米管膜114 具有间隔地安装的多个纳米管,并且还具有彼此接触的纳米管的离子键。
    • 85. 发明专利
    • Semiconductor bulk crystal and method of manufacturing semiconductor bulk crystal
    • 半导体晶体晶体和制造半导体大理石晶体的方法
    • JP2014181170A
    • 2014-09-29
    • JP2013058585
    • 2013-03-21
    • Mitsubishi Chemicals Corp三菱化学株式会社
    • OHATA TATSUHIROENATSU YUKIKUBO SHUICHIFUJITO TAKESHI
    • C30B29/38C30B25/04C30B25/20H01L21/205
    • PROBLEM TO BE SOLVED: To provide semiconductor bulk crystal which has a nonpolar surface or semipolar surface as a main surface, and includes group III metal nitride crystal having less lamination defects and excellent crystallinity, and a method thereof.SOLUTION: There is provided semiconductor bulk crystal which has group III metal nitride semiconductor crystal 20 grown on a main surface of a ground substrate 10 which has a nonpolar surface or semipolar surface as the main surface, which has a striped recessed part. A cavity 1A is formed between the ground substrate 10 and the grown group III metal nitride semiconductor crystal 20, a surface of the cavity 1A on the side of the group III metal nitride semiconductor crystal 20 has opposite facet surfaces 20A, 20B, and tilt angles of the facet surfaces 20A, 20B from the main surface of the ground substrate 10 are 40°-80°.
    • 要解决的问题:提供具有非极性表面或半极性表面作为主表面的半导体本体晶体,并且包括具有较小层压缺陷和优异结晶度的III族金属氮化物晶体及其方法。解决方案:提供半导体体 具有生长在具有非极性表面或半极性表面作为主表面的接地衬底10的主表面上的III族金属氮化物半导体晶体20的晶体,其具有条纹凹部。 在接地衬底10和生长的III族金属氮化物半导体晶体20之间形成空腔1A,III族金属氮化物半导体晶体20一侧的空腔1A的表面具有相对的小面20A,20B和倾斜角 从面接地基板10的主表面的面面20A,20B的面积为40°-80°。