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51. 发明专利

JP5613057B2 イオントラップのエンドキャップ電圧制御有权
标题翻译：离子阱的端盖电压控制
公开(公告)号：JP5613057B2
公开(公告)日：2014-10-22
申请号：JP2010538129
申请日：2008-12-10
申请人：ファーストディテクトコーポレイション , ファーストディテクトコーポレイション
发明人：デイビッドラファティー , デイビッドラファティー
IPC分类号： H01J49/42
CPC分类号： H01J49/26 , H01J49/424

52. 发明专利

JP2014518373A One point internal locking mobility correction method 有权
公开(公告)号：JP2014518373A
公开(公告)日：2014-07-28
申请号：JP2014513253
申请日：2012-06-01
申请人：マイクロマスユーケーリミテッド
发明人：ジェフリーマークブラウン， , ケビンジャイルズ，
IPC分类号： G01N27/62
CPC分类号： H01J49/0031 , G01N27/622 , H01J49/26
摘要：イオンをイオン移動度分光計１１に通すこと及び第１のイオン移動度ドリフト時間データを収集することを含む質量分析法が開示される。イオンの物理化学的特性（例えばＣＣＳ）を求めるために第１のイオン移動度ドリフト時間データに校正関数が適用される。次いで、第２のイオン移動度ドリフト時間データが収集され、１つ又は複数の既知のイオン又は参照イオンの物理化学的特性を求めるために第２のイオン移動度ドリフト時間データに校正関数が適用される。次いで、校正関数が調整される。
【選択図】図１

53. 发明专利

JP5557149B1 One point internal locking mobility correction method 有权
公开(公告)号：JP5557149B1
公开(公告)日：2014-07-23
申请号：JP2014513253
申请日：2012-06-01
申请人：マイクロマスユーケーリミテッド
发明人：ジェフリーマークブラウン， , ケビンジャイルズ，
IPC分类号： G01N27/62
CPC分类号： H01J49/0031 , G01N27/622 , H01J49/26
摘要：イオンをイオン移動度分光計１１に通すこと及び第１のイオン移動度ドリフト時間データを収集することを含む質量分析法が開示される。イオンの物理化学的特性（例えばＣＣＳ）を求めるために第１のイオン移動度ドリフト時間データに校正関数が適用される。次いで、第２のイオン移動度ドリフト時間データが収集され、１つ又は複数の既知のイオン又は参照イオンの物理化学的特性を求めるために第２のイオン移動度ドリフト時間データに校正関数が適用される。次いで、校正関数が調整される。
【選択図】図１

54. 发明专利

JPWO2012086419A1 荷電粒子放出銃及び荷電粒子線装置有权
公开(公告)号：JPWO2012086419A1
公开(公告)日：2014-05-22
申请号：JP2012549717
申请日：2011-12-08
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：荒井　紀明 , 紀明荒井
IPC分类号： H01J37/06 , H01J27/26 , H01J37/073 , H01J37/08
CPC分类号： H01J27/022 , H01J29/00 , H01J37/06 , H01J37/08 , H01J49/26 , H01J2237/002 , H01J2237/022 , H01J2237/06341 , H01J2237/0802
摘要：荷電粒子放出銃の作動を長時間停止することなく、チップを加熱させることなく、チップのクリーニングが可能な荷電粒子放出銃を提供する。荷電粒子放出銃は、チップに照射する紫外光又は赤外光を生成するクリーニング用照射光装置と紫外光又は赤外光をチップに導くための光ファイバを有する。クリーニング用照射光装置は、チップの吸着分子を光刺激脱離によって脱離させるために、又は、チップの吸着分子を光刺激脱離によって脱離させ、該脱離した分子をイオン化するために、所定の波長と強度の紫外光又は赤外光を生成する。

55. 发明专利

JP2014506720A Curved type ion guide by the confinement does not depend on the mass-to-charge ratio 有权
公开(公告)号：JP2014506720A
公开(公告)日：2014-03-17
申请号：JP2013554945
申请日：2012-02-24
申请人：マイクロマスユーケーリミテッド
发明人：ジャイルズ、ケビン , グリーン、マーティン、レイモンド , ケニー、ダニエル、ジェームス , ワイルドグース、ジェイソン、リー , ジェイ．ラングリッジ、デイヴィッド
IPC分类号： H01J49/06 , H01J49/28
CPC分类号： H01J49/063 , H01J49/065 , H01J49/26 , H01J49/42
摘要：複数の電極（６）を備える非線形イオンガイドが開示される。複数の電極（６）の間にはイオンガイド領域が配置されており、イオンガイド領域は、少なくとも第１の方向（ｘ方向）に湾曲している。イオンガイド領域内において第１の方向（ｘ方向）にイオンを閉じ込めるように作用するＤＣポテンシャル井戸を形成するために、複数の電極（６）の少なくともいくつかにＤＣ電圧が印加される。
【選択図】図２Ａ

56. 发明专利

JP5293809B2 Mass spectrometry data processing method and apparatus 有权
公开(公告)号：JP5293809B2
公开(公告)日：2013-09-18
申请号：JP2011508066
申请日：2009-04-07
申请人：株式会社島津製作所
发明人：真一山口
IPC分类号： G01N27/62
CPC分类号： H01J49/0036 , G01D7/02 , G06F17/40 , G06F19/00 , G06F19/703 , H01J49/26
摘要： From the data obtained by an LC/MS analysis in which an automatic MS n analysis is performed, all MS 2 spectrum data are collected (S1), and a data matrix is created whose elements are peak intensity data with different precursor ions being arrayed in the horizontal direction and the mass-to-charge ratio of the product ions in the vertical direction (S2). By using the data in this data matrix, the correlation coefficients between two precursor ions are computed to create a correlation coefficient matrix (S3). In the correlation coefficient matrix, the diagonal elements whose value is "1" are all replaced by "0" to create an adjacency matrix (S4). A network analysis is performed for the adjacency matrix to create a network map showing the correlations among different precursor ions (MS 2 spectra) (S5). The network map is displayed on a window of a display unit simultaneously with the result of an MS 1 analysis to provide an analysis operator with information on the compounds contained in a sample or the structure thereof (S6).

57. 发明专利

JP2013181910A Mass spectrometric system 有权
标题翻译：质谱系统
公开(公告)号：JP2013181910A
公开(公告)日：2013-09-12
申请号：JP2012047202
申请日：2012-03-02
申请人： Hitachi High-Technologies Corp , 株式会社日立ハイテクノロジーズ , National Research Institute Of Police Science Japan , 警察庁科学警察研究所長
发明人： KAWAGUCHI YOHEI , HASHIMOTO YUICHIRO , SUGIYAMA MASUYUKI , KUMANO SHUN , KANEKO AKITO , TOGAMI MASATO , NISHIMURA KAZUSHIGE , INOUE HIROYUKI
IPC分类号： G01N27/62
CPC分类号： H01J49/26 , H01J49/0031 , H01J49/0036
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To solve the problem in which there is a tendency of the intensity and the shape of a spectrum to be measured transitioning with the passage of measured time, depending on the volatility and ionization tendency of a component.SOLUTION: A mass spectrometric system includes: a mass spectrometric unit that measures a specimen and outputs a mass spectrum; and an estimator that has an estimation rule on content information, the estimation rule being assigned for each component and each measurement time. The estimator estimates, on the basis of a mass spectrum output from the mass spectrometric unit, content information on each component of a plurality of components that may be contained in the specimen in accordance with the estimation rule.
摘要翻译：要解决的问题：为了解决随着测量时间的流逝而测量光谱的强度和形状的趋势的变化的问题，这取决于组分的挥发性和电离趋势。解决方案：质量光谱测定系统包括：测量样品并输出质谱的质谱单位; 以及对内容信息具有估计规则的估计器，为每个分量分配估计规则和每个测量时间。估计器根据质谱单位输出的质谱估计根据估计规则可以包含在样本中的多个成分的各成分的内容信息。

58. 发明专利

JP2013531334A Ion lens for the pollution impact reduction in the mass spectrometer ion guide 有权
公开(公告)号：JP2013531334A
公开(公告)日：2013-08-01
申请号：JP2013509412
申请日：2011-05-10
申请人：ディーエイチテクノロジーズデベロップメントプライベートリミテッド
发明人：アレクサンダーロボダ，
IPC分类号： H01J49/06 , G01N27/62 , H01J49/42
CPC分类号： H01J49/067 , H01J49/26
摘要：質量分析計のイオンガイド内の汚染の影響を低減させるイオンレンズが提供される。イオンレンズは、イオンガイドの出口領域において、所与の半径のオリフィスを備える構造部材であって、イオンレンズを支持する構造部材を備える。イオンレンズは、構造部材から延在する円錐部材をさらに備え、円錐部材は中空であり、所与のテーパ角度と、所与の半径の底面とを備え、底面の周縁はオリフィスの周縁に接続される。円錐部材は、円錐部材の頂部を通る開口であって、イオンガイドからそこを通してイオンを受容する開口をさらに備える。

59. 发明专利

JP2013145637A Tandem quadrupole mass spectroscope 有权
标题翻译： TANDEM QUADRUPOLE MASS SPECTROSCOPE
公开(公告)号：JP2013145637A
公开(公告)日：2013-07-25
申请号：JP2012004689
申请日：2012-01-13
申请人： Shimadzu Corp , 株式会社島津製作所
发明人： HARADA SHIGETOSHI
IPC分类号： H01J49/42 , G01N27/62
CPC分类号： H01J49/26 , G06K9/0051 , H01J49/0036 , H01J49/004 , H01J49/4215
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce spike noise which is significant when the sensitivity of a detector is increased in MS/MS analysis.SOLUTION: For all data obtained from an A/D converter during an integration period (dwell time), the data having a value exceeding a predetermined threshold is excluded from integration object up to a predetermined maximum delete number, and the values of remaining data are integrated thus obtaining one measurement data corresponding to the integration period thereof. Since the number of noise data reflecting jump-in of particle, causing spike noise, is negligible, the noise data is removed in a no-signal state where a target ion does not exist. When a target ion exists, not the noise data but the normal data may be possibly removed, but since the number of which is negligible when compared with the total number of data, the effect of removing normal data does not substantially appear in the integration result. Consequently, spike noise can be reduced effectively.
摘要翻译：要解决的问题：减少在MS / MS分析中检测器的灵敏度增加时显着的尖峰噪声。解决方案：对于在积分期间（停留时间）期间从A / D转换器获得的所有数据，数据具有将超过预定阈值的值从积分对象中排除直到预定的最大删除号，并且剩余数据的值被积分，从而获得对应于其积分周期的一个测量数据。由于反映微粒的跳入的噪声数据的数量，导致尖峰噪声是可以忽略的，因此在不存在目标离子的无信号状态下去除噪声数据。当存在目标离子时，不是噪声数据而是正常数据可能被去除，而是由于与数据总数相比数量可忽略不计，所以在积分结果中基本上不会出现删除正常数据的效果。因此，可以有效地降低尖峰噪声。

60. 发明专利

JP4964413B2 Ion beam / charged particle beam irradiation apparatus 有权
公开(公告)号：JP4964413B2
公开(公告)日：2012-06-27
申请号：JP2004346309
申请日：2004-11-30
申请人：株式会社Sen
发明人：貴典八木田 , 哲也工藤 , 光国月原 , 道朗杉谷 , 純一村上 , 光昭椛澤 , 雅基石川 , 隆司西
IPC分类号： H01J37/317 , G21K1/087 , G21K1/093 , G21K5/04 , H01L21/265
CPC分类号： H01J37/05 , H01J37/317 , H01J49/26

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