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    • 47. 发明专利
    • 表面処理銅箔及びその製造方法、プリント配線板用銅張積層板、並びにプリント配線板
    • 表面处理铜箔及其制造方法,铜 - 用于印刷线路板覆铜箔层压板,以及印刷电路板
    • JP6030815B1
    • 2016-11-24
    • JP2016544484
    • 2016-03-24
    • 三井金属鉱業株式会社
    • 松浦 宜範
    • B32B9/00B32B15/04B32B15/20H05K1/09C23C14/06
    • B32B9/00B32B15/04B32B15/20C23C14/06C23C14/14H05K1/03H05K3/38
    • スパッタリング等の蒸着法により形成されたような極めて平坦な銅箔表面であっても樹脂層との高い密着強度を実現可能であり、しかも、プリント配線基板のファインピッチ化に適した望ましい絶縁抵抗を有する表面処理層を備えた表面処理銅箔が提供される。本発明の表面処理銅箔は、銅箔と、銅箔の少なくとも片面に設けられ、主としてシリコン(Si)からなるシリコン系表面処理層とを備える。シリコン系表面処理層は、XPS(X線光電子分光)により測定した場合に、炭素(C)、酸素(O)及びシリコン(Si)の3元素の合計量100原子%に対し、炭素濃度が1.0〜35.0原子%であり且つ酸素濃度が12.0〜40.0原子%である。
    • 即使是非常平坦的铜表面,诸如,例如溅射可以实现的,而且,所期望的绝缘电阻适合于精细间距印刷电路板与所述树脂层的密合强度高通过气相沉积形成 提供了具有具有表面处理层的表面处理铜箔。 本发明的表面处理铜箔包含铜箔,提供了一种在铜箔上,主要包括硅(Si)硅系表面处理层的至少一个表面上。 基于硅的表面处理层,通过XPS(X射线光电子光谱法),碳(C),氧(O)和(Si)的,其硅的三个要素的100原子%的总量测定的碳浓度为1.0 〜35.0原子%,氧浓度为12.0〜40.0原子%。
    • 48. 发明专利
    • 金属ベース回路基板及びその製造方法
    • 金属基板电路板及其制造方法
    • JP2016143775A
    • 2016-08-08
    • JP2015018744
    • 2015-02-02
    • 日本発條株式会社
    • 水野 克美池田 大記
    • H05K3/44H05K1/03H05K3/20H05K3/46H05K1/05
    • H05K1/03H05K1/05H05K3/20H05K3/44
    • 【課題】絶縁層の膜厚を薄くしても、耐電圧特性に優れ、高い絶縁信頼性を有する金属ベース回路基板、およびその製造方法を提供すること。 【解決手段】金属ベース基板11と、第一の回路パターン13と、前記金属ベース基板と前記第一の回路パターンとの間に第一の絶縁層12を具備する金属ベース回路基板10であって、前記第一の絶縁層は、前記第一の回路パターンのうち、前記金属ベース基板と向き合った下面13bと、前記第一の回路パターンの側面のうち少なくとも前記下面と隣接した領域13aとを被覆している金属ベース回路基板。 【選択図】図2
    • 要解决的问题:即使当绝缘层的膜厚减小时,也可提供耐电压特性优异且绝缘可靠性高的金属基电路板,并提供其制造方法。 基底电路板10包括:金属基底11; 第一电路图案13; 以及在金属基底基板和第一电路图案之间的第一绝缘层12。 第一绝缘层覆盖面向第一电路图案的金属基底的下表面13b,并且覆盖第一电路图案的侧面的至少与下表面相邻的区域13a。图2