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21. 发明专利

JP2018120522A 情報処理システムおよび情報処理システムの制御方法审中-公开
公开(公告)号：JP2018120522A
公开(公告)日：2018-08-02
申请号：JP2017013127
申请日：2017-01-27
申请人：日本電気株式会社
发明人：根橋竜介 , 杉林直彦
IPC分类号： G06F12/16
摘要：【課題】小容量の不揮発性メモリで長期間運用できる情報処理システムを提供する。【解決手段】情報処理システムは、不揮発性メモリと、不揮発性メモリの中のブロックの割り当て制御を行うメモリ制御手段と、バッドリストと、フリーリストとを有する。バッドリストは、不揮発性メモリの中の、エラーが増加傾向にあるメモリセルを含むページをバッドページとし、当該バッドページを含む連続ページからなるブロックを集めたリストである。フリーリストは、上記のバッドページを含まない連続ページからなるブロックを集めたリストである。メモリ制御手段は、ブロックの割り当て制御を行う時に、先にフリーリストのブロックの割り当て処理を試みる。ここで、フリーリストのブロックの割り当てができない場合には、バッドリストのブロックの割り当て処理を試みる。【選択図】図1

22. 发明专利

JP2018116463A 電子機器及びHDD切り離しプログラム审中-公开
公开(公告)号：JP2018116463A
公开(公告)日：2018-07-26
申请号：JP2017006706
申请日：2017-01-18
申请人：京セラドキュメントソリューションズ株式会社
发明人：鈴木将浩
IPC分类号： G06F12/16 , G06F3/06
摘要：【課題】電子機器の大型化や部品点数増加に伴うコストアップを抑制する。【解決手段】システム制御部により、HDD106のそれぞれのパーティションA〜DとHDD106より記憶容量の小さいSSD107とをマウント処理によって管理し、いずれかのパーティションA〜Dの読み出し又は書き込みが不能となると、他のパーティションA〜DのデータをSSD107に移動させ、不能となったパーティションA〜Dを切り離すとともに、HDD106のそれぞれのパーティションA〜Dの領域のサイズの比率に合わせ、HDD106に新たなパーティションA’〜D’を再構築し、SSD107に移動させたデータをHDD106の新たなパーティションA’〜D’に移動させる。これにより、HDD106を増設することなく、動作を継続できる。【選択図】図4

23. 发明专利

JP2018081736A 記憶装置、半導体装置、電子機器、及びサーバシステム审中-公开
公开(公告)号：JP2018081736A
公开(公告)日：2018-05-24
申请号：JP2017212426
申请日：2017-11-02
申请人：株式会社半導体エネルギー研究所
发明人：青木健 , 黒川義元
IPC分类号： G11C11/4091 , G11C11/405 , H01L21/28 , H01L29/423 , H01L29/49 , H01L29/417 , H01L27/1156 , H01L21/8242 , H01L27/108 , H01L21/336 , H01L29/788 , H01L29/792 , H01L27/11551 , H01L21/8239 , H01L27/105 , H01L29/786 , H01L51/50 , H01L27/32 , G02F1/133 , G09F9/30 , G09F9/46 , G06F12/16 , G11C11/56
CPC分类号： G06F11/1004
摘要：【課題】ソフトエラーによって破壊されたデータの修復をする。【解決手段】第1のメモリセル、第2のメモリセル、ビット線、第1のセンス線、第2のセンス線、センス回路、デジタルアナログ変換回路、及びアナログデジタル変換回路を有し、デジタルアナログ変換回路は、ビット線を介して、第1のメモリセルと、第2のメモリセルと、に、電気的に接続されている。センス回路には、第1のセンス線を介して第1のメモリセル、及び第2のセンス線を介して第2のメモリセルが電気的に接続されている。デジタルアナログ変換回路は、第1のメモリセルと、第2のメモリセルとに、第1の信号として電圧を与える機能を有している。第1のメモリセル、又は第2のメモリセルでソフトエラーが発生するとしても、センス回路は、第1のメモリセル、又は第2のメモリセルのいずれか大きな電圧を選択して出力することで、ソフトエラーによって破壊されたデータの修復をする機能を有する記憶装置。【選択図】図1

24. 发明专利

JP2018073040A メモリシステム审中-公开
公开(公告)号：JP2018073040A
公开(公告)日：2018-05-10
申请号：JP2016210551
申请日：2016-10-27
申请人：東芝メモリ株式会社
发明人：石山政浩
IPC分类号： G06F12/16 , G06F11/14
CPC分类号： G06F12/0804 , G06F3/0616 , G06F3/0647 , G06F3/0656 , G06F3/068 , G06F12/0246 , G06F12/0868 , G06F12/1009 , G06F2212/1024 , G06F2212/1036 , G06F2212/205
摘要：【課題】不揮発性メモリの寿命を延ばすメモリシステムを実現する。【解決手段】実施形態によれば、メモリシステムは、不揮発性メモリと、ランダムアクセスメモリと、コントローラとを含む。コントローラは、ライトコマンドに対応するデータをランダムアクセスメモリにライトし、当該データに対応する第1の論理アドレスとランダムアクセスメモリ上の当該データに対応する第1の物理アドレスとをマッピングするようにアドレス変換データを更新する。また、コントローラは、不正電源断を検知した場合に、蓄電装置からの電力に基づいて、ランダムアクセスメモリに保存されている当該データを不揮発性メモリにライトし、第1の論理アドレスと不揮発性メモリ上の当該データに対応する第2の物理アドレスとをマッピングするようにアドレス変換データを更新する。【選択図】図1

26. 发明专利

JP2018067072A 半導体記憶装置及びその制御方法审中-公开
公开(公告)号：JP2018067072A
公开(公告)日：2018-04-26
申请号：JP2016203982
申请日：2016-10-18
申请人：東芝メモリ株式会社
发明人：鈴木理気 , 檜田敏克 , 天木健彦 , 井川原俊一
IPC分类号： G06F12/06 , G06F12/00 , G06F12/16
CPC分类号： G06F3/0619 , G06F3/0616 , G06F3/0634 , G06F3/0635 , G06F3/0656 , G06F3/0658 , G06F3/0679 , G06F11/1048 , G06F11/1068 , G06F12/0246 , G06F12/0875 , G06F2212/1032 , G06F2212/2022 , G06F2212/45 , G06F2212/7203 , G11C29/52 , G11C29/74 , G11C29/78
摘要：【課題】半導体記憶装置の信頼性を維持する【解決手段】実施形態の半導体記憶装置は、コントローラと、データを記憶する不揮発性半導体メモリと、データを記憶する揮発性半導体メモリと、を具備する。不揮発性半導体メモリは複数の記憶領域を含み、半導体記憶装置の起動に際してコントローラが使用する起動情報を記憶する。起動情報は、不揮発性半導体メモリの製造時に不揮発性半導体メモリの少なくとも1つの記憶領域に記憶される。コントローラは、不揮発性半導体メモリの記憶領域をアドレスに関連付けて管理し、アドレスを指定する第1のコマンドを不揮発性半導体メモリに発行することにより、起動情報を不揮発性半導体メモリから読み出す。【選択図】図7

27. 发明专利

JP6313073B2 固体記憶素子及び方法有权
公开(公告)号：JP6313073B2
公开(公告)日：2018-04-18
申请号：JP2014041912
申请日：2014-03-04
申请人：ベンホフゲーエムベーハーエルエルシー , BENHOV GMBH,LLC
发明人：エルドリッジケネスジェイ , ヴァンアーケンスティーブンピー
IPC分类号： G11C16/06 , G11C29/42 , G06F12/16
CPC分类号： G06F12/0246 , G11C11/56 , G11C11/5628 , G11C11/5642 , G11C2211/5641

28. 发明专利

JP6294251B2 誤り訂正機能による寿命予測を有する制御装置有权
公开(公告)号：JP6294251B2
公开(公告)日：2018-03-14
申请号：JP2015037377
申请日：2015-02-26
申请人：ファナック株式会社
发明人：秋元信二
IPC分类号： G06F12/16
CPC分类号： H03M13/353 , G06F11/008 , G06F11/0793 , G06F11/3409 , H03M13/1515 , H03M13/152

29. 发明专利

JP2018036823A 制御回路の検査方法审中-公开
公开(公告)号：JP2018036823A
公开(公告)日：2018-03-08
申请号：JP2016168916
申请日：2016-08-31
申请人：株式会社デンソー
发明人：水谷広昭
IPC分类号： G06F12/16
CPC分类号： G01R31/28 , G06F12/16
摘要：【課題】メモリ部、および制御部を基板から取り外すことなく、両者の切り分けをして、市場不具合の要因調査を可能とする制御回路の検査方法を提供することにある。【解決手段】制御回路の検査方法において、出荷前段階において、予め基板に、メモリ部、および制御部を検査する検査装置を接続可能とするフットパターン部と、フットパターン部、および信号線の中間部を接続する接続線と、を設けておく。そして、市場不具合に基づく制御回路の回収後に、フットパターン部に検査装置を接続する接続工程と、信号線のメモリ部と中間部との間を接続状態に維持すると共に、制御部と中間部との間を切断状態にして、検査装置によってメモリ部の良否を検査する第1検査工程と、信号線の制御部と中間部との間を接続状態に維持すると共に、メモリ部と中間部との間を切断状態にして、検査装置によって制御部の良否を検査する第2検査工程とを設ける。【選択図】図2

30. 发明专利

JP6290057B2 復号装置、復号方法およびメモリシステム有权
公开(公告)号：JP6290057B2
公开(公告)日：2018-03-07
申请号：JP2014192611
申请日：2014-09-22
申请人：株式会社東芝
发明人：西義史 , 丸亀孝生 , 三谷祐一郎
IPC分类号： H03M13/19 , G06F12/16 , G06F11/10
CPC分类号： G06F11/1068 , H03M13/1125 , H03M13/6597

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