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21. 发明专利

JP2016050935A 検査装置、および、検査方法审中-公开
标题翻译：检查装置和检查方法
公开(公告)号：JP2016050935A
公开(公告)日：2016-04-11
申请号：JP2015152161
申请日：2015-07-31
申请人：キヤノン株式会社
发明人：窪田央一 , 尾内敏彦
IPC分类号： G01N21/21 , G01N21/85 , G01N21/3581
CPC分类号： G01N21/3581 , G01N21/85 , G01N21/94 , G01N2021/1789 , G01N21/8851
摘要：【課題】テラヘルツ波を用いた検査装置において、被検体中の異物の検出の正確性を向上することを目的とする。【解決手段】被検体101中の異物を検出する検査装置102であって、被検体にテラヘルツ波を照射する照射部106と、複数の検出素子を用いて前記被検体を透過した又は前記被検体で反射したテラヘルツ波を検出する検出部109と、検出部の検出結果を用いて前記被検体の画像のデータを取得し、被検体中の異物を検出する処理部112と、を有し、処理部は、被検体上におけるテラヘルツ波の照射位置を変更しながら複数の前記被検体の画像のデータを取得し、前記複数の前記被検体の画像のデータと、複数の異物の画像のデータと、前記照射位置の移動速度に関する情報と、を用いて、前記移動速度と同期して移動し且つ前記複数の異物の画像のデータの少なくとも1つと類似する領域を検出する。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提高使用太赫兹波的检查装置中的检测对象物检测异常的精度。解决方案：本发明是一种用于检测被检体101内的异物的检查装置102，该检查装置包括：照射单元106，用于用太赫兹波照射测试对象; 检测单元109，用于通过使用多个检测元件来检测已经发送测试对象或被测试对象反射的太赫兹波; 以及处理单元112，用于使用检测单元的检测结果并检测测试对象中的异物来获取测试对象的图像数据。处理单元在改变测试对象上的太赫兹波的照射位置的同时获取多个测试对象的图像数据，并且通过使用多个测试对象的图像数据，多个异物的图像数据并且关于照射位置的移动速度的信息与移动速度同步地移动，并且检测类似于异物的多个图像数据中的至少一个的区域。图1

22. 发明专利

JP5859955B2 被測定物の特性の測定方法、および、それに用いられるセンシングデバイス有权
标题翻译：待测量测量物体的特性的方法，并且，感测装置在其中使用
公开(公告)号：JP5859955B2
公开(公告)日：2016-02-16
申请号：JP2012509327
申请日：2011-01-20
申请人：株式会社村田製作所
发明人：田中功二 , 神波誠治 , 近藤孝志 , 瀧川和大 , 三浦佳子
IPC分类号： G01N33/48
CPC分类号： G01N21/3581 , G01N2021/3595

23. 发明专利

JP2015215347A プロセス制御のためのリアルタイム厚さ測定と共にテラヘルツ放射を用いる密度の動的測定有权
标题翻译：使用TERAHERTZ辐射的动态测量实时厚度测量进行过程控制
公开(公告)号：JP2015215347A
公开(公告)日：2015-12-03
申请号：JP2015092207
申请日：2015-04-28
申请人：株式会社アドバンテスト
发明人：エドワードキング , ディビッドヒープス , マークサリバン
IPC分类号： G01B11/06 , G01N21/3586
CPC分类号： G01N21/3586 , G01B11/0691 , G01N21/3563 , G01N21/85 , G01N21/8901 , G01N21/8914 , G01N2021/3572 , G01N21/3581 , G01N21/9508 , G01N2201/06113 , G01N9/24
摘要：【課題】ローラー圧縮成形されたリボンの密度を決定する方法を提供する。【解決手段】乾燥薬剤粉体をローラー圧縮成形機のプレスローラーの間で圧縮成形して、圧縮成形体リボンを生成するステップを有する。圧縮成形体リボンがプレスローラーの間から送り出された後に、圧縮成形体リボンの或る点における厚さを非侵襲的に決定するステップも有する。更に、圧縮成形体リボンを、テラヘルツ放出器とテラヘルツ検出器との間のギャップを通過させるステップを有する。次に、圧縮成形体リボンの上記点における屈折率を、テラヘルツ放出器及びテラヘルツ検出器からの測定値並びに上記点における厚さの測定値を用いて決定するステップを有する。最後に、圧縮成形体リボンの上記点における密度を、上記屈折率の値を用いて計算するステップを有する。【選択図】図8
摘要翻译：要解决的问题：提供一种用于确定辊压紧带的密度的方法。解决方案：确定辊压紧带的密度的方法包括在辊式压实机的压辊之间压制干燥的药物粉末，以产生紧凑的带。该方法还包括在压榨辊之间从其压出辊之间以非侵入方式确定紧密带上的一个点处的厚度。此外，该方法包括使紧凑带通过太赫兹发射极和太赫兹检测器之间的间隙。接下来，该方法包括使用来自太赫兹发射器和太赫兹检测器的测量值以及在该点处的厚度的测量值来确定紧凑型带上的点处的折射率。最后，该方法包括使用折射率的值计算该点处的紧密带的密度。

24. 发明专利

JP5809674B2 光線入射装置および反射光測定装置有权
标题翻译：光入射装置和反射光测量装置
公开(公告)号：JP5809674B2
公开(公告)日：2015-11-11
申请号：JP2013193742
申请日：2013-09-19
申请人：株式会社アドバンテスト
发明人：山下友勇 , 入澤昭好
IPC分类号： G01N21/3581
CPC分类号： G01N21/55 , G01N21/3581

25. 发明专利

JP2015159176A 光伝導アンテナ、カメラ、イメージング装置、および計測装置审中-公开
标题翻译：光电天线，摄像机，成像装置和测量装置
公开(公告)号：JP2015159176A
公开(公告)日：2015-09-03
申请号：JP2014032798
申请日：2014-02-24
申请人：セイコーエプソン株式会社
发明人：竹中敏
IPC分类号： H01Q9/16 , H01Q1/38 , H01Q1/24 , G01N21/3581 , H01S1/02
CPC分类号： G01N21/3581
摘要：【課題】従来よりも、キャリア移動度を高め、強度の大きなテラヘルツ波を発生することができる光伝導アンテナを提供する。【解決手段】本発明に係る光伝導アンテナ100は、光パルスPが照射されてテラヘルツ波Tを発生する光伝導アンテナ100であって、光パルスPが照射されてキャリアを形成し、かつ半絶縁性基板によって構成されているキャリア発生層10と、キャリア発生層10上に位置し、光パルスPを透過可能な絶縁層40と、キャリア発生層10の上方に位置し、キャリア発生層10に電圧を印加する第1電極20および第2電極30と、を含み、絶縁層40は、平面視において、第1電極20と第2電極30との間の光パルスPが照射される領域12に設けられている。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够产生更大强度的太赫兹波的光电导天线，通过比常规提高载流子迁移率。解决方案：用光脉冲P照射以产生太赫兹波T的光电导天线100包括载波产生层 10，其被光脉冲P照射以形成载体，并且由半绝缘基板，位于载体产生层10上的能够传输光脉冲P的绝缘层40和第一电极20和第二电极30位于载体产生层10上并向其施加电压。在平面图中，绝缘层40设置在第一电极20和第二电极30之间的区域12中，用光脉冲P照射。

26. 发明专利

JP2015158487A 分光分析方法及び分光分析器审中-公开
标题翻译：光谱分析方法和光谱分析仪
公开(公告)号：JP2015158487A
公开(公告)日：2015-09-03
申请号：JP2015016588
申请日：2015-01-30
申请人：ハプナーゲーエムベーハーウントコー.カーゲー , HUeBNER GmbH & Co.KG
发明人：ダニエルモルター , フランクエルリッヒ , ダニエルヒュプシュ , トルステンシュプレンガー
IPC分类号： G01N21/3586
CPC分类号： G01N21/3581 , G01J3/108 , G01N21/3586 , G01N22/00 , G01N2201/06113 , G01N2201/12
摘要：【課題】1GHzから30THzの間の電磁放射線の周波数域を用いて、ユーザにとって運転し易く、例えばセキュリティ又は品質管理の点で容易な判断根拠の取得を可能とする、分光分析法を提供する。【解決手段】封筒12を開封せずに危険物を検査する方法で、測定領域19を指定し、当該領域において、1GHzから30THzの間の周波数域の複数の周波数又は周波数帯の電磁放射線を用いて第1生成スペクトルを検出し、データベースの比較スペクトルと相関の高い箇所 X11を抽出し、さらにその直近近傍において第2生成スペクトルを検出し、比較スペクトルのそれぞれとの照合に係る測定値をそれぞれ算出する。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：提供一种光谱分析方法，该方法易于用户使用1 GHz至30 THz之间的电磁辐射频率范围进行驱动，并且可以轻松获得有关安全性或质量控制的判断依据。解决方案：利用用于检查危险材料而不打开信封12的方法，指定测量区域19，使用在1GHz和1GHz之间的频率范围内的多个频率或频带的电磁辐射在相关区域中检测第一代频谱 30 THz，并且提取与数据库的比较谱具有高相关性的部分X11。此外，在其最近的附近检测到第二代频谱，并且计算与每个比较频谱的验证相关的测量值。

27. 发明专利

JP5761416B2 平板状の周期的構造体有权
标题翻译：平周期结构
公开(公告)号：JP5761416B2
公开(公告)日：2015-08-12
申请号：JP2014071984
申请日：2014-03-31
申请人：株式会社村田製作所
发明人：神波誠治 , 瀧川和大 , 近藤孝志 , 田中功二
IPC分类号： G01N21/01
CPC分类号： G01N21/3581

28. 发明专利

JP2015144248A 半導体装置、及びその製造方法审中-公开
标题翻译：半导体器件及其制造方法
公开(公告)号：JP2015144248A
公开(公告)日：2015-08-06
申请号：JP2014245236
申请日：2014-12-03
申请人：キヤノン株式会社
发明人：関口亮太 , 尾内敏彦
IPC分类号： H01L21/329 , H01L29/47 , H01L29/872 , H01L21/8234 , H01L27/06 , H01L21/822 , H01L27/04 , H01L27/146
CPC分类号： H01L31/1123 , G01J1/44 , H01L27/0629 , H01L27/1463 , H01L27/14649 , H01L27/14689 , H01L29/66143 , H01L29/872 , H01L31/1085 , H01L31/1804 , G01J2001/4446 , G01N21/3581 , Y02E10/547 , Y02P70/521
摘要：【課題】 CMOS−コンパチブルで、且つ、ショットキー障壁の特性を設計可能な半導体装置を提供する。【解決手段】半導体装置は、シリコン基板111と、シリコン基板上に配置されている検出素子101、p型MOSトランジスタ102及びn型MOSトランジスタ103と、を有し、検出素子は、半導体層112と電極113、114とを有し、半導体層と電極との間にショットキー障壁が形成されており、半導体層は、(i)p型MOSトランジスタの不純物拡散層と組成及び高さが等しい層の直上、又は、(ii)n型MOSトランジスタの不純物拡散層と組成及び高さが等しい層の直上、又は、(iii)p型MOSトランジスタ又はn型MOSトランジスタのゲート酸化膜の直下のチャネル領域と組成及び高さが等しい領域の直上、又は、(iv)フィールド酸化膜の直下のシリコン基板中の領域と組成及び高さが等しい領域の直上に配置されている。【選択図】図5
摘要翻译：要解决的问题：提供CMOS兼容的半导体器件，并且能够设计肖特基势垒的特性。解决方案：一种半导体器件包括：硅衬底111; 设置在硅基板上的检测元件101; p型MOS晶体管102; 和n型MOS晶体管103.检测元件具有半导体层112和一对电极113和114; 在半导体层和每个电极之间形成肖特基势垒。半导体层设置在（i）与组成和高度的p型MOS晶体管的杂质扩散层相同的层的正上方，（ii）与组成中的n型MOS晶体管的杂质扩散层相同的层和高度，（iii）与p型或n型MOS晶体管的栅极氧化膜正下方的沟道区域的组成和高度相同的区域，或（iv）与硅衬底右侧的区域相同的区域低于组成和高度的场氧化膜。

29. 发明专利

JP2015142101A 光伝導アンテナ、カメラ、イメージング装置、および計測装置有权
标题翻译：光电天线，摄像机，成像设备和测量设备
公开(公告)号：JP2015142101A
公开(公告)日：2015-08-03
申请号：JP2014015707
申请日：2014-01-30
申请人：セイコーエプソン株式会社
发明人：竹中敏
IPC分类号： H01Q9/16 , H01S3/00 , H01Q1/38 , G01N21/3581 , H01S1/02
CPC分类号： G01N21/3581 , G01N2201/0696
摘要：【課題】従来よりも、キャリア移動度を高め、強度の大きなテラヘルツ波を発生することができる光伝導アンテナを提供する。【解決手段】本発明に係る光伝導アンテナ100は、光パルスPが照射されてテラヘルツ波Tを発生する光伝導アンテナ100であって、光パルスPが照射されてキャリアCを形成する第1層10と、第1層10上方に位置し、かつ、第1層10のキャリア移動度よりも大きいキャリア移動度を有する第2層20と、第2層20上方に位置し、かつ、第2層20に電圧を印加する第1電極30および第2電極32と、を含む。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够通过实现比常规的更高的载流子迁移率而产生具有更高强度的太赫兹波的光电导天线。解决方案：作为光电导天线100的光电导天线100，其产生具有光学的太赫兹波T 脉冲p被照射，包括形成载体C的第一层10，其被照射的光脉冲p。位于第一层10上并具有比第一层10更高的载流子迁移率的第二层20; 以及位于第二层20上并向第二层20施加电压的第一电极30和第二电极32。

30. 发明专利

JP5720028B1 包装体の検査装置有权
标题翻译：包装检查装置
公开(公告)号：JP5720028B1
公开(公告)日：2015-05-20
申请号：JP2014540243
申请日：2013-10-03
申请人：株式会社システムスクエア
发明人：鈴木敦士 , 池田倫秋
IPC分类号： G01N21/3581 , G01N23/04
CPC分类号： G01V5/0016 , G01N21/3581 , G01V11/00 , G01V8/10
摘要：【課題】電磁波検知部が光学検知用の照明光の影響を受けにくい構造の包装体の検査装置を提供する。【解決手段】包装体を移送する移動機構6の間隙部6cの下側に、包装体を透過したX線を検知するX線センサ13と、間隙部6cに照明光を与える照明部16が設けられている。X線センサ13と照明部16は隔壁42で区画されている。X線センサ13へのX線の入射経路に遮光部材43が設けられている。遮光部材43は、カーボンシートのように、X線を透過して照明光を透過せず、且つX線の照射による劣化が生じにくい素材で形成されている。【選択図】図3
摘要翻译：电磁波检测单元，以提供封装受用于光学检测的照明光硬结构的测试装置。移动机构6的用于传送包的间隙部6c，和用于检测通过封装发射的X射线的X射线传感器13的下方A中，照明单元16提供照明光的间隙部6c设置是的。 X射线传感器13和照明单元16由分隔壁42隔开。屏蔽X射线的入射路径上部件43被设置成在X射线传感器13。由于X射线的照射遮蔽构件43，从而使碳片，不发送降解通过X射线透射照明光，并形成在发生硬质材料。点域

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