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111. 发明专利

JP2007515816A Testing of the digital data signals using any of the test signal 审中-公开
公开(公告)号：JP2007515816A
公开(公告)日：2007-06-14
申请号：JP2005507530
申请日：2003-08-06
申请人：アジレント・テクノロジーズ・インクAgilent Technologies, Inc.
发明人：モル，ヨアヒム
IPC分类号： H04L25/02 , G01R23/20 , G01R29/26 , G01R31/317 , H04L1/20
CPC分类号： G01R31/3171 , G01R23/20 , G01R29/26 , H04L1/203
摘要：デジタルデータ信号（２０）をテストするために、サンプリングポイントにおいてデジタルデータ信号（２０）から導出された値（６０Ａ）が、分析ユニット（８０）内で任意のテスト信号の対応する値と比較される。この比較は、導出された値が任意のテスト信号の対応する値と実質的に一致しない場合はエラーと解釈され（８０）、デジタルデータ信号のビットエラーレートが決定される。

112. 发明专利

JP2006329839A Noise characteristic display method 有权
标题翻译：噪声特征显示方法
公开(公告)号：JP2006329839A
公开(公告)日：2006-12-07
申请号：JP2005154746
申请日：2005-05-26
申请人： Tektronix Japan Ltd , 日本テクトロニクス株式会社
发明人： NARA AKIRA
IPC分类号： G01R23/16
CPC分类号： G01R29/26 , H03L7/16
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To measure time-dependent variation of the phase noise characteristic.
SOLUTION: A peak of a measured spectrum is detected, and its frequency is determined as a reference frequency. The offset frequency from the reference frequency is sequentially changed, noise power is integrated with respect to a predetermined frequency width every frequency to obtain an integrated value, and further a divided value is calculated by dividing it by the predetermined frequency width. The divided value is divided by the peak power, and a noise characteristic representing the ratio of the noise power to the peak power is determined. The relation among an offset frequency, noise characteristic, and period is graphically displayed. Thus, the time-dependent variation of the phase noise characteristic is graphically displayed.
COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：测量相位噪声特性的时间相关变化。
解决方案：检测到测量光谱的峰值，并将其频率确定为参考频率。从基准频率的偏移频率依次变化，噪声功率相对于每个频率的预定频率宽度积分，以获得积分值，并且通过将分频值除以预定频率宽度来计算分频值。将分频值除以峰值功率，并且确定表示噪声功率与峰值功率之比的噪声特性。偏移频率，噪声特性和周期之间的关系用图形显示。因此，图形地显示了相位噪声特性的随时间变化。版权所有（C）2007，JPO＆INPIT

113. 发明专利

JP2005233946A Jitter measuring device and method, and program 有权
标题翻译：抖动测量装置和方法及程序
公开(公告)号：JP2005233946A
公开(公告)日：2005-09-02
申请号：JP2005018249
申请日：2005-01-26
申请人： Advantest Corp , 株式会社アドバンテスト
发明人： YAMAGUCHI TAKAHIRO , ISHIDA MASAHIRO , MANI SOOMA
IPC分类号： G01R29/02 , G01R29/26 , G01R31/317 , G01R31/3193 , H04L1/20 , H04L25/02 , H04Q1/20
CPC分类号： G01R31/31709 , G01R29/26 , G01R31/31937 , H04L1/205
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a jitter measuring device for sharply reducing a cost for measuring jitter by precisely finding jitter series from a data signal in a short time. SOLUTION: The jitter measuring device for measuring the jitter of a signal to be measured comprises a squarer for finding a squared signal 2N(N is a positive integer)-squaring the signal to be measured, and a timing jitter estimator for finding timing jitter series of the signal to be measured on the basis of the squaring signal. COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI
摘要翻译：要解决的问题：提供一种抖动测量装置，通过在短时间内精确地从数据信号中发现抖动序列，大大降低了测量抖动的成本。解决方案：用于测量待测信号的抖动的抖动测量装置包括：用于求出待测信号的平方信号2N（N为正整数）的平方器，以及用于查找的定时抖动估计器基于平方信号测量的信号的定时抖动系列。版权所有（C）2005，JPO＆NCIPI

114. 发明专利

JPWO2003073115A1 測定装置、及び測定方法有权
公开(公告)号：JPWO2003073115A1
公开(公告)日：2005-06-23
申请号：JP2003571750
申请日：2003-02-14
申请人：株式会社アドバンテスト
发明人：山口　隆弘 , 隆弘山口 , 石田　雅裕 , 雅裕石田 , ソーママニ , ソーママニ
IPC分类号： G01R31/30 , G01R29/02 , G01R29/027 , G01R29/26 , G01R31/317 , G01R31/3183 , G01R31/319 , G01R31/3193 , H03K5/156 , H04L1/20 , H04L25/02
CPC分类号： G01R31/31709 , G01R29/02 , G01R29/0273 , G01R29/26 , G01R31/31922 , G01R31/31937 , H04L1/203 , H04L1/205
摘要：電子デバイスの対ジッタ信頼性を測定する測定装置であって、伝送長が所定の長さより短く、確定ジッタを生じない伝送線路を介して入力される入力信号に応じて、電子デバイスが出力する出力信号に基づいて、電子デバイスのジッタ耐力を算出するジッタ耐力推定部と、電子デバイスに伝送線路より長く、確定ジッタが生じる長伝送線路を介して入力信号を入力した場合に、長伝送線路を介した伝送により入力信号に生じる確定ジッタによって劣化するジッタ耐力の劣化量を算出するジッタ耐力劣化量推定部と、電子デバイスのジッタ耐力と、ジッタ耐力の劣化量とに基づいて、長伝送線路と電子デバイスとを含む系のジッタ耐力を算出する系ジッタ耐力推定部とを備えることを特徴とする測定装置を提供する。

115. 发明专利

JP2005134398A Noise measurement system and method 审中-公开
标题翻译：噪声测量系统和方法
公开(公告)号：JP2005134398A
公开(公告)日：2005-05-26
申请号：JP2004313708
申请日：2004-10-28
申请人： Agilent Technol Inc , アジレント・テクノロジーズ・インクAgilent Technologies, Inc.
发明人： TORIN SHIGETSUNE , WONG KENNETH H , BLACKHAM DAVID V
IPC分类号： G01R29/26
CPC分类号： G01R29/26
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an accurate noise measurement system independent of a plurality of frequency conversion stages.
SOLUTION: This noise measurement system 10 measuring noise inside a designated frequency band of an applied signal has: a frequency converter 12 frequency-converting the applied signal by an even-interval separation frequency group to supply a correspondence group of an intermediate frequency signal; a sampler 14 measuring the noise in at least two measurement bands inside each the intermediate frequency signal apart from each other at a frequency interval of an even-interval separation frequency; and a signal processor 16 determining noise power inside the frequency band of the applied signal on the basis of the noise measured by the sampler.
COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI
摘要翻译：要解决的问题：提供独立于多个变频级的精确的噪声测量系统。解决方案：测量所施加的信号的指定频带内的噪声的噪声测量系统10具有：频率转换器12，通过偶数间隔分离频率组对所施加的信号进行频率转换，以提供中频的对应组信号; 采样器14，以偶数间隔分离频率的频率间隔测量每个中频信号内部的至少两个测量带中的噪声; 以及信号处理器16，基于由采样器测量的噪声来确定所施加的信号的频带内的噪声功率。版权所有（C）2005，JPO＆NCIPI

116. 发明专利

JPWO2002103377A1 ジッタ測定装置、及びジッタ測定方法有权
公开(公告)号：JPWO2002103377A1
公开(公告)日：2005-02-10
申请号：JP2003505641
申请日：2002-06-14
申请人：株式会社アドバンテスト , ソーママニ , ソーママニ
发明人：石田　雅裕 , 雅裕石田 , 山口　隆弘 , 隆弘山口 , ソーママニ , ソーママニ
IPC分类号： G01R29/02 , G01R29/26 , G01R31/317
CPC分类号： G01R31/31709 , G01R29/26
摘要：離散化された被測定信号のジッタを測定するジッタ測定装置であって、被測定信号が予め定められた値をとる複数の点と、被測定信号の離散化された標本点のうち、予め定められた値をとる複数の点のいずれかに対して、予め定められた条件を満たす複数の標本点との位相誤差をそれぞれ算出し、位相誤差系列を生成する位相誤差推定器と、位相誤差系列に基づいて、被測定信号の周期ジッタ系列を算出する周期ジッタ推定器とを備える。例えば、位相誤差推定器は、被測定信号における複数のゼロクロス点と、標本点のうち、複数のゼロクロス点のいずれかに対して、予め定められた条件を満たす複数の近似ゼロクロス点との位相誤差をそれぞれ算出し、位相誤差系列を生成する。

117. 发明专利

JP2004519678A Jitter measuring apparatus and a jitter measurement method 有权
公开(公告)号：JP2004519678A
公开(公告)日：2004-07-02
申请号：JP2002573360
申请日：2002-03-08
申请人：ソーママニ , 株式会社アドバンテスト
发明人：ソーママニ , 隆弘山口 , 雅裕石田
IPC分类号： G01R29/02 , G01R29/027 , G01R29/26 , H03K5/26 , H04L1/20
CPC分类号： G01R29/0273 , G01R29/26 , H04L1/205
摘要：【課題】従来の測定方法によって測定される値と互換性のある測定結果が得られるジッタ測定を行う。
【解決手段】被測定信号ｘ（ｔ）を複素数の解析信号ｚ
ｃ（ｔ）に変換し、ｚ
ｃ（ｔ）を用いてｘ（ｔ）の瞬時位相を推定する。その瞬時位相からリニア位相を除去してｘ（ｔ）の瞬時位相雑音Δφ（ｔ）を求め、ｘ（ｔ）のゼロクロス点に近いタイミングでΔφ（ｔ）をサンプリングしてタイミングジッタ系列を求める。続いてタイミングジッタ系列の差分系列を計算して周期ジッタ系列を求め、その周期ジッタ系列に、ｘ（ｔ）の基本周期Ｔ
０と上記サンプリング点間隔Ｔ
ｋ，ｋ＋１との比Ｔ
０／Ｔ
ｋ，ｋ＋１を乗算することによって周期ジッタ系列を補正する。その補正された周期ジッタ系列からｘ（ｔ）の周期ジッタ値を求める。
【選択図】図１２

118. 发明专利

JP2004093345A Jitter measuring circuit 审中-公开
公开(公告)号：JP2004093345A
公开(公告)日：2004-03-25
申请号：JP2002254749
申请日：2002-08-30
申请人： Renesas Semiconductor Engineering Corp , Renesas Technology Corp , 株式会社ルネサスセミコンダクタエンジニアリング , 株式会社ルネサステクノロジ
发明人： HANAI HISAYOSHI , FUNAKURA TERUHIKO , MORI OSANARI
IPC分类号： G01R29/02 , G01R29/26 , G01R31/28
CPC分类号： G01R29/26
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a jitter measuring circuit which simply realizes a jitter measurement at a low cost.
SOLUTION: The jitter measuring circuit includes a converter for sampling either a reference signal or a signal to be measured in response to the other to obtain a sampling data row, and a judging unit for measuring a jitter of the signal to be measured base on the sampling data row obtained from the converter. Since the reference signal is a stable signal of a predetermined period, the row of the measured result depends upon the signal to be measured. A jitter level can be simply measured based on relative measurement of an expected value data in response to the unevenness of the measured result.
COPYRIGHT: (C)2004,JPO

119. 发明专利

JP2004077224A Observation device and failure inspecting device 审中-公开
公开(公告)号：JP2004077224A
公开(公告)日：2004-03-11
申请号：JP2002235952
申请日：2002-08-13
申请人： Nec Electronics Corp , Necエレクトロニクス株式会社
发明人： YOSHIZAWA YUTAKA , SAKAGUCHI KAZUHIRO
IPC分类号： G01R31/26 , G01R23/16 , G01R29/26
CPC分类号： G01R29/26
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an observation device and an observation method capable of efficiently observing a frequency spectrum of power source electric current, and to provide a failure detecting device and a failure detecting method capable of efficiently detecting a failure of a measured integrated circuit. SOLUTION: In the observation device, when a timing generating means 2 generates a timing signal every application period of a test signal, a sampling means 3 samples a current observation signal of the power source electric current based on the timing signal and stores it in a data storing means 5. A number-of-data adjusting means 6 adjusts the number of sampling data so that the number of data is power of integer, and Fourier-converts the sampling data of which number is adjusted to observe the frequency spectrum. The failure detecting device, using such an observation device, analyzes the frequency spectrum of the power source electric current to inspect a failure of the tested integrated circuit. COPYRIGHT: (C)2004,JPO

120. 发明专利

JP2004045403A Method and system for measuring noise level of electronic object to be measured 有权
标题翻译：测量电子对象噪声水平的方法和系统
公开(公告)号：JP2004045403A
公开(公告)日：2004-02-12
申请号：JP2003184670
申请日：2003-06-27
申请人： Rohde & Schwarz Gmbh & Co Kg , ローデウントシュワルツゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツングウントコンパニーコマンディットゲゼルシャフトRohde & Schwarz GmbH & Co.KG
发明人： BOS HERMANN , SCHMIDT KURT , FREIDHOF MARKUS
IPC分类号： G01R29/26
CPC分类号： G01R29/26
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method and a system for determining a noise level of an electronic object to be measured by enabling the discrimination of the noise level even in a case wherein the object to be measured is of a high modulation type.
SOLUTION: An apparatus for determining a loudness of the noise (T
DUT ) inputted to the object (2) is provided with a sinusoidal wave signal source (1) generating a sinusoidal wave signal (S
in ) to be inputted to the object (2) and a level meter (3) for measuring a voltage level of the object (2). The level meter (3) is provided with a sign wave power detector device (31) for capturing a sinusoidal wave power level (P
SIN ) and a noise power level detector device (32) for capturing a noise power level (P
NOISE ).
COPYRIGHT: (C)2004,JPO
摘要翻译：要解决的问题：提供一种用于通过使得能够区分噪声水平来确定要测量的电子对象的噪声水平的方法和系统，即使在要测量的对象具有高调制度的情况下类型。解决方案：用于确定输入到对象（2）的噪声响度（T DUT ）的装置设置有正弦波信号源（1），其生成正弦波信号（S ）输入到物体（2）和用于测量物体（2）的电压电平的电平计（3）。液位计（3）设有用于捕获正弦波功率电平（P SIN ）的符号波功率检测器装置（31）和用于捕获噪声的噪声功率电平检测器装置（32）功率级别（P NOISE ）。版权所有（C）2004，JPO

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