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    • 3. 发明专利
    • ジッタ及びノイズの決定方法及び試験測定機器
    • 用于确定抖动和噪声的方法,以及测试和测量仪器
    • JP2016033513A
    • 2016-03-10
    • JP2015150598
    • 2015-07-30
    • テクトロニクス・インコーポレイテッドTEKTRONIX,INC.
    • マーク・エル・ギュンターカン・タン
    • G01R29/02
    • H04L1/205G01R13/029G01R31/31709G01R31/3171G01R31/31711G01R13/0272G01R29/26
    • 【課題】入力信号の相関なしジッタ及びノイズを決定する。 【解決手段】オシロスコープは、入力信号を取込み、夫々単位間隔に分割された相関あり波形及び相関なし波形を決定する。各単位間隔に対して相関あり波形600及び相関なし波形602の間のタイミング変位(t1)を測定して皮相ジッタ配列([t1])を形成する。広がり単位間隔に対して相関あり波形600及び相関なし波形602の間の電圧変位(V1)を測定して皮相ノイズ配列([V1])を形成する。各単位間隔に対して相関あり波形600及び相関なし波形602の間の水平シフト(ts)を測定して補償されたエッジ時間配列([ts])を形成する。各単位間隔に対して相関あり波形600及び相関なし波形602の間の垂直シフト(Vs)を測定して補償された振幅電圧配列([Vs])を形成する。 【選択図】図6
    • 要解决的问题:确定输入信号的不相关抖动和噪声。解决方案:示波器将输入信号输入,并确定相关波形和不相关波形,每个波形分为单位间隔。 对于每个单位间隔测量相关波形600和不相关波形602之间的定时位移(t1),以形成视在抖动阵列([t1])。 对于达到单位间隔测量相关波形600与不相关波形602之间的电压位移(V1),以形成表观噪声阵列([V1])。 对于每个单位间隔测量相关波形600与不相关波形602之间的水平偏移(ts),以形成经补偿的边缘时间阵列([ts])。 对于每个单位间隔测量相关波形600和不相关波形602之间的垂直移位(Vs),以形成补偿振幅电压阵列([Vs])。选择的图示:图6
    • 4. 发明专利
    • 乱数生成のための装置、方法及びシステム
    • 装备,方法和系统的随机数生成
    • JP2014216014A
    • 2014-11-17
    • JP2014087159
    • 2014-04-21
    • オムニヴィジョン テクノロジーズ インコーポレイテッドOmnivision Technologies Incオムニヴィジョン テクノロジーズ インコーポレイテッド
    • DOMINIC MASETTICHEN GANG
    • G06F7/58H03K3/84
    • G06F7/582G01R29/26G06F7/588
    • 【課題】コンピュータネットワーキング及び他の種類の通信に対するセキュリティリスクの数及び多様性が増すにつれ、高度に予測不能な数生成に対する必要性が増大している。真の乱数生成に対する従来の機構は、典型的に、複雑さ、速度、サイズ及び電力のうちの1又はそれ以上のものについて不十分である。【解決手段】1つの実施形態において、第1信号が、第1ソースフォロワトランジスタを含む第1セルから受信される。回路論理が、第1信号のパルスを検出し、パルスに応答して、第1ソースフォロワトランジスタにおける第1ランダムテレグラフ雑音事象の検出を示す信号を生成する。別の実施形態において、第1カウント更新が、第1ランダムテレグラフ雑音事象の示された検出に応答して実行される。第1カウント更新は、複数のランダムテレグラフ雑音事象に対応する数の生成に対する1つのベースである。【選択図】図1
    • 要解决的问题:为了解决真正随机数生成的常规机制相对于复杂性,速度,大小和功率中的一个或多个而言通常是低效的问题,尽管对于高度不可预测的数量生成的需求随着安全性的数量和种类的增加而增加 计算机网络和其他类型通信的风险增加。解决方案:在一个实施例中,从包括第一源跟随器晶体管的第一单元接收第一信号。 电路逻辑检测第一信号的脉冲,并且响应于脉冲,产生指示检测第一源极跟随器晶体管中的第一随机电报噪声事件的信号。 在另一实施例中,响应于所指示的第一随机电报噪声事件的检测,执行第一计数更新。 第一计数更新是用于生成与多个随机电报噪声事件相对应的数字的一个基础。
    • 8. 发明专利
    • Power device analyzer
    • 电源设备分析仪
    • JP2013231724A
    • 2013-11-14
    • JP2013095539
    • 2013-04-30
    • Agilent Technologies Incアジレント・テクノロジーズ・インクAgilent Technologies, Inc.
    • MIKATA ATSUSHIKAKIYA HISAOTOKUNO YUKIFUMITANIDA SHINICHINAGAI YOSHI
    • G01R31/26
    • G01R25/00G01R29/26G01R31/2603
    • PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a device analyzer for analyzing a power device.SOLUTION: A device analyzer includes: a collector power supply configured to generate a plurality of power supply signal pulses having selected voltage or a current level, and power signal pulse width in high current capacity; and a power supply switch connected to a collector power supply source terminal on which the plurality of power supply signal pulses is applied, when a test object ("DUT") is connected so as to form a current path between the collector power supply source terminal and a collector power supply common terminal. The power supply switch is configured to transmit the plurality of power supply signal pulses as a plurality of narrowed sweep signal pulses having the high current capacity of a collector power supply current, or to operate by adjusting a current in the current path to be a selected constant current level.
    • 要解决的问题:提供一种用于分析功率器件的器件分析器。解决方案:一种器件分析器,包括:集电极电源,被配置为产生具有选定电压或电流电平的多个电源信号脉冲,以及功率信号脉冲宽度 在大电流容量; 以及连接到集电极电源端子的电源开关,当连接了被测对象(“DUT”)时,在集电极电源端子之间形成电流路径,在集电极电源端子上施加有多个电源信号脉冲, 和集电极电源公共端子。 电源开关被配置为将多个电源信号脉冲作为具有集电极电源电流的高电流容量的多个变窄的扫描信号脉冲发送,或者通过将当前路径中的电流调整为选定的 恒流电平。