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101. 发明专利

JPWO2007088603A1 半導体装置及びノイズ計測方法有权
公开(公告)号：JPWO2007088603A1
公开(公告)日：2009-06-25
申请号：JP2007556741
申请日：2006-02-01
申请人：富士通株式会社
发明人：佐藤　富夫 , 富夫佐藤
IPC分类号： G01R29/26 , G01R31/28 , H01L21/822 , H01L27/04
CPC分类号： G01R29/26
摘要：非周期的なノイズ情報から、必要な情報のみを外部に出力する半導体装置を提供する。解析対象情報抽出部(4)は、情報量の多い非周期的なノイズ情報から、誤動作の原因となるノイズを解析するための解析対象情報を指定し、指定した解析対象情報のみをノイズ情報から抽出し、通信部(5)は抽出した解析対象情報を外部出力するので、情報量を削減でき、シリアル通信などの安価な通信部でノイズ情報を出力することができるようになる。

102. 发明专利

JP2009139382A Electronic parts tester, spectral analyzer, electronic parts test method, and tester for magnetic head parts/magnetic media parts 有权
标题翻译：电子部件测试仪，光谱分析仪，电子部件测试方法和磁头部件/磁性部件测试仪
公开(公告)号：JP2009139382A
公开(公告)日：2009-06-25
申请号：JP2008310297
申请日：2008-12-04
申请人： Headway Technologies Inc , ヘッドウェイテクノロジーズインコーポレイテッド
发明人： LOU SHRINKLE , CRILL PETER , YO MEIKI , KO GENKI
IPC分类号： G01R31/00 , G01R23/173
CPC分类号： G01R29/26 , G01R23/16 , G01R31/319 , G01R33/0029 , G01R33/1207
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a simple and low-cost system and a method for testing properties of electronic parts such as magnetic head parts and magnetic media parts. SOLUTION: A magnetic head/media parts tester includes a tester process controller 235 which generates a calibration control signal for the electronic parts tester, and a spectral analyzer 220. This spectral analyzer 220 receives a response characteristic signal (f(t))217 from a magnetic head 205 to determine its frequency spectrum and then transmits this frequency spectrum to the tester process controller 235. This spectral analyzer 220 also receives the calibration control signal from the tester process controller 235 to eliminate the effect of image frequency from the frequency spectrum, determining noise bandwidth of the frequency spectrum. Especially when electronic parts are magnetic head/media parts, magnetic head/media parts tester suitable for measurement of signal-to-noise ratio or overwrite capability, etc. is be obtained. COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：提供一种简单且低成本的系统和用于测试诸如磁头部件和磁性介质部件的电子部件的性能的方法。解决方案：磁头/介质部件测试器包括产生用于电子部件测试器的校准控制信号的测试器过程控制器235和光谱分析器220.该光谱分析器220接收响应特性信号（f（t））217，以确定其频谱，然后将该频谱传输到测试器过程控制器235.该光谱分析器220还从测试器过程控制器235接收校准控制信号，以消除来自测试器过程控制器235的图像频率的影响频谱，确定频谱的噪声带宽。特别是当电子部件是磁头/介质部件时，可以获得适合于测量信噪比或覆盖能力等的磁头/介质部件测试器。版权所有（C）2009，JPO＆INPIT

103. 发明专利

JP2009103717A Measuring apparatus and measuring method 有权
标题翻译：测量装置和测量方法
公开(公告)号：JP2009103717A
公开(公告)日：2009-05-14
申请号：JP2009027914
申请日：2009-02-09
申请人： Advantest Corp , 株式会社アドバンテスト
发明人： YAMAGUCHI TAKAHIRO , ISHIDA MASAHIRO , MANI SOOMA , MUSHA HIROBUMI
IPC分类号： G01R29/02 , G01R29/027 , G01R29/26 , G01R31/30 , G01R31/317 , G01R31/319 , G01R31/3193 , H04L1/20
CPC分类号： G01R31/31709 , G01R29/02 , G01R29/0273 , G01R29/26 , G01R31/31922 , G01R31/31937 , H04L1/203 , H04L1/205
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To efficiently calculate the jitter transfer function of a DUT, a bit error rate, and jitter tolerance. SOLUTION: A measuring apparatus includes a timing jitter estimating section which calculates an output timing jitter sequence which indicates the output timing jitter of an output signal based on an output signal output from the DUT in response to an input signal input to the DUT, and a jitter transfer function estimating section which calculates the jitter transfer function in the DUT based on the output timing jitter sequence. The jitter transfer function estimating section includes an instantaneous phase noise estimating section which calculates an instant phase noise of the output signal based on an output signal, and a resampling section which generates the output timing jitter sequence by resampling the instantaneous phase noise at predetermined timing. COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：有效计算DUT的抖动传递函数，误码率和抖动容限。解决方案：测量装置包括定时抖动估计部分，其响应于输入到DUT的输入信号，计算基于从DUT输出的输出信号来指示输出信号的输出定时抖动的输出定时抖动序列以及基于输出定时抖动序列来计算DUT中的抖动传递函数的抖动传递函数估计部。抖动传递函数估计部分包括：瞬时相位噪声估计部分，其基于输出信号计算输出信号的瞬时相位噪声;以及重采样部分，其通过在预定定时重采样瞬时相位噪声来产生输出定时抖动序列。版权所有（C）2009，JPO＆INPIT

104. 发明专利

JP2008304450A Vector network analyzer-noise figure measurement 审中-公开
标题翻译：矢量网络分析仪噪声测量
公开(公告)号：JP2008304450A
公开(公告)日：2008-12-18
申请号：JP2008050008
申请日：2008-02-29
申请人： Agilent Technol Inc , アジレント・テクノロジーズ・インクAgilent Technologies, Inc.
发明人： RHYMES RICHARD L , FAICK JOHN C , BROWN BARRY A , SHOULDERS ROBERT E , POLLARD ROGER D
IPC分类号： G01R27/28 , G01R35/00
CPC分类号： G01R29/26
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To predict a noise figure of a DUT without mechanical switching in a test set.
SOLUTION: The DUT 26 is arranged between a port 1 reflectometer 20 where a mismatch tuner 16 is connected between first and second directional couplers 14 and 18 and a port 2 reflectometer 32 formed of third and fifth directional couplers 24 and 34, and a fourth directional coupler 28 is connected to a low noise receiver 30. The noise figure of the DUT 26 is predicted based on the load alignment of the low noise receiver 30 measured using the mismatch tuner 16, and noise electric power output and S parameter of the DUT 26.
COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：在机组切换中预测DUT的噪声系数。解决方案：DUT 26布置在第一和第二定向耦合器14和18之间连接不匹配调谐器16的端口1反射计20和由第三和第五定向耦合器24和34形成的端口2反射计32之间，以及第四定向耦合器28连接到低噪声接收器30. DUT 26的噪声系数是基于使用不匹配调谐器16测量的低噪声接收器30的负载对准和噪声功率输出以及S参数被告26.版权所有（C）2009，JPO＆INPIT

105. 发明专利

JPWO2006087782A1 波形測定装置の評価装置および評価方法ならびにジッター測定方法有权
公开(公告)号：JPWO2006087782A1
公开(公告)日：2008-07-03
申请号：JP2007503522
申请日：2005-02-17
申请人：京セラキンセキ株式会社 , 信川島 , 信川島
发明人：加藤　学 , 加藤　　学 , 土井　新 , 新土井 , 信川島 , 信川島
IPC分类号： G01R29/02 , G01R13/20
CPC分类号： G01R29/26 , G01R35/00
摘要：ジッター測定器によって測定されたジッターから、当該ジッター測定に用いる波形測定器の時間的な揺らぎを差し引いて、信号発生器の持つジッターをより正確に測定する。波形測定器の揺らぎは、容量(112)を有する受動回路(101)と、前記容量を充放電する駆動回路(102)と、波形測定装置(103)によって測定して得られる、前記受動回路の出力信号の時間的変化を表す応答波形を信号処理して、前記波形測定装置の時間的な揺らぎを求める信号処理手段(105)とを備え、前記信号処理手段は、前記容量を同一の条件の下で充電または放電したときに前記波形測定装置により測定された前記受動回路の複数の応答波形に基づいて、前記受動回路の出力信号の前記波形測定装置による測定値のばらつきを求める処理手段(105a)と、この処理手段により得られた前記波形測定装置による測定値のばらつきを時間的な揺らぎに変換する変換手段(105b)とを有する評価装置によって評価する。

106. 发明专利

JP4070725B2 Electronic apparatus having a noise detection function 有权
公开(公告)号：JP4070725B2
公开(公告)日：2008-04-02
申请号：JP2004013234
申请日：2004-01-21
申请人：ファナック株式会社
发明人：真広三浦 , 稔中村 , 一成青山
IPC分类号： G01R29/08 , H03L7/08 , G01R23/20 , G01R29/26
CPC分类号： G01R29/26 , H03L7/08

107. 发明专利

JP2008508535A Method for measuring the phase jitter of the RF signal, and the measuring apparatus for performing the method 有权
公开(公告)号：JP2008508535A
公开(公告)日：2008-03-21
申请号：JP2007524208
申请日：2005-07-11
申请人：ローデウントシュワルツゲーエムベーハーウントコーカーゲー
发明人：ロート，アレクサンダー
IPC分类号： G01R29/02 , G01R23/16
CPC分类号： G01R29/26
摘要：高周波信号の位相ジッターを測定するためにスペクトラムアナライザが用いられる。測定対象の高周波信号（HF）がM倍され（38）、且つ／或いはスペクトラムアナライザに具備される可変周波数発振器（12-15）の出力周波数がNで割られ（33）、双方の信号が同一周波数に設定されて混合器（30）で混合される。そして、混合器の出力信号は、スペクトラムアナライザに具備された好適なデジタル評価装置（10）にて高速フーリエ変換法に従って評価される。この目的のため、スペクトラムアナライザは追加の混合器、分周器及び／又は周波数逓倍器のみを必要とする。

108. 发明专利

JP2008501933A Wideband signal analysis equipment, wideband period jitter analyzing apparatus, wideband skew analyzing apparatus, wideband signal analysis method, and test equipment system 有权
公开(公告)号：JP2008501933A
公开(公告)日：2008-01-24
申请号：JP2006545836
申请日：2005-06-07
申请人：株式会社アドバンテスト
发明人：マニソーマ， , 隆弘山口 , 雅裕石田
IPC分类号： G01R23/16 , G01R29/02 , G01R29/26 , G01R31/317 , H04L25/02
CPC分类号： G01R23/16 , G01R29/26 , G01R31/31709
摘要：入力信号を解析する広帯域信号解析装置であって、入力信号の周波数帯域を複数に分割した場合に、それぞれの周波数帯域が予め定められた中間帯域に推移するように、入力信号の周波数をそれぞれ異なる推移量で推移させ、複数の中間周波数信号を生成する周波数推移手段（１０、１３）と、それぞれの中間周波数信号の複素スペクトルを出力するスペクトル測定手段（１４）と、それぞれの複素スペクトルを連結するスペクトル連結手段（１５０）とを備える広帯域信号解析装置を提供する。

109. 发明专利

JP2008008811A Method and device for detecting jitter 审中-公开
标题翻译：用于检测抖动的方法和装置
公开(公告)号：JP2008008811A
公开(公告)日：2008-01-17
申请号：JP2006180702
申请日：2006-06-30
申请人： Leader Electronics Corp , リーダー電子株式会社
发明人： SUGIYAMA IICHIRO
IPC分类号： G01R29/02 , G11B7/005 , G11B20/10
CPC分类号： G01R29/26 , G01R31/31709 , G11B20/10009 , G11B20/10027 , G11B20/10037 , G11B20/10046 , G11B20/10055 , G11B20/10314 , G11B20/225 , G11B2020/1442 , G11B2020/1461 , G11B2220/2562 , G11B2220/2579
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an improved jitter detection device capable of detecting jitter.
SOLUTION: The jitter detection device is equipped with a reception circuit 1 for receiving a signal, a determination circuit 3 for determining a signal portion used for jitter detection in the received signal based on a signal amplitude, and a jitter detection circuit 5 for detecting jitter on the signal based on the determined signal portion. The determination circuit 3 includes the first threshold setting circuit for generating the first threshold, the second threshold setting circuit for generating the second threshold, and a period signal generation circuit for generating a period signal by using the first and second thresholds, and the jitter detection circuit 5 includes a signal portion detection circuit for detecting the signal portion by responding to the received signal following the period signal.
COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：提供能够检测抖动的改进的抖动检测装置。解决方案：抖动检测装置配备有用于接收信号的接收电路1，用于基于信号幅度确定用于接收信号中的抖动检测的信号部分的判定电路3和抖动检测电路5 用于基于所确定的信号部分来检测信号上的抖动。确定电路3包括用于产生第一阈值的第一阈值设置电路，用于产生第二阈值的第二阈值设置电路和用于使用第一和第二阈值产生周期信号的周期信号产生电路，以及抖动检测电路5包括信号部分检测电路，用于通过响应周期信号之后的接收信号来检测信号部分。版权所有（C）2008，JPO＆INPIT

110. 发明专利

JP3974040B2 Jitter measuring apparatus and a jitter measurement method 有权
公开(公告)号：JP3974040B2
公开(公告)日：2007-09-12
申请号：JP2002573360
申请日：2002-03-08
申请人：ソーママニ , 株式会社アドバンテスト
发明人：ソーママニ , 隆弘山口 , 雅裕石田
IPC分类号： G01R29/02 , G01R29/027 , G01R29/26 , H03K5/26 , H04L1/20
CPC分类号： G01R29/0273 , G01R29/26 , H04L1/205

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