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91. 发明专利

JP5897911B2 電線長出力方法及び電線長出力プログラム有权
标题翻译：电线长度输出方法和金属丝长度输出程序
公开(公告)号：JP5897911B2
公开(公告)日：2016-04-06
申请号：JP2012009358
申请日：2012-01-19
申请人：矢崎総業株式会社
发明人：飯盛康生 , 望月保弘 , 金井孝郎
IPC分类号： G06F17/50
CPC分类号： G01B21/02 , G06F17/50 , G06F17/509 , G06F2217/36

92. 发明专利

JP5860061B2 携帯型測定器を用いて個別対応式梱包を行う装置、システム、および方法有权
标题翻译：便携式测量仪装置，其与一系统执行个性化的类型的包装，并且方法
公开(公告)号：JP5860061B2
公开(公告)日：2016-02-16
申请号：JP2013544764
申请日：2011-12-15
申请人：パックサイズ,エルエルシー
发明人：ピーターソン,ニクラス
IPC分类号： G01B11/02 , B65B43/08 , G01B21/02
CPC分类号： B65B5/024 , G01B21/02 , B65B2210/04

93. 发明专利

JP5676618B2 リモートオブジェクトまでの距離とリモートオブジェクトの大きさを測定する方法、デバイス、及び、機械可読命令が記憶されたコンピュータ読み出し可能な媒体有权
标题翻译：如何测量远程对象的距离和大小对远程对象，设备和机器可读指令存储在计算机可读介质
公开(公告)号：JP5676618B2
公开(公告)日：2015-02-25
申请号：JP2012529884
申请日：2010-09-15
申请人：クアルコム,インコーポレイテッド
发明人：マニッシュ・マハジャン
IPC分类号： G01S7/484 , G01C3/06 , G01S7/524 , G01S15/46 , G01S17/10 , G01S17/46
CPC分类号： G01S13/08 , G01B11/02 , G01B17/00 , G01B21/02 , G01C3/08 , G01C15/002 , G01S15/08 , G01S17/08 , G01S17/42 , G01S17/46

94. 发明专利

JP2013234996A Device and method for measuring feature associated with shape, position, and size of machine element 有权
标题翻译：用于测量与机械形状，位置和尺寸相关的特征的装置和方法
公开(公告)号：JP2013234996A
公开(公告)日：2013-11-21
申请号：JP2013093703
申请日：2013-04-26
申请人： Jenoptik Industrial Metrology Germany Gmbh , イェーノプティークインドゥストリアルメトロロギージャーマニーゲーエムベーハー
发明人： ERNST NEUMANN , SCHUBERT MICHAEL
IPC分类号： G01B21/20 , G01B5/00 , G01B5/02 , G01B5/20 , G01B11/24 , G01B21/00 , G01B21/02
CPC分类号： G01B21/02 , G01B5/285 , G01B11/08 , G01B11/24 , G01B21/16 , G01B21/20
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To take measurements with high precision at low structural cost and to provide a possibility of measuring features associated with the shape, position, and size of a rotatable machine element that can measure, with high measurement precision, even a surface greatly inclined to an axis of rotation in an orthogonal direction or below to the axis of rotation and a surface having a hidden area such as an undercut, a gradient, and a non-plane surface.SOLUTION: An optical measurement unit (3) includes an auxiliary mechanical measurement unit (4) having a contact type measuring element (42) for measuring a machine element (5) in an axial direction. The mechanical measurement unit (4) includes a rotary mechanism (41) which is fixed to the optical measurement unit (3), and rotates the contact type measuring element (42) in an orthogonal plane orthogonal to an axis (6) of rotation of the machine element (5).
摘要翻译：要解决的问题：以低结构成本以高精度进行测量，并提供测量与可测量精度甚至大的表面大小相关的可旋转机器元件的形状，位置和尺寸的特征的可能性相对于旋转轴线的正交方向或下方的旋转轴线以及具有隐藏区域（例如底切，梯度和非平面）的表面倾斜。解决方案：光学测量单元（3）包括：辅助机械测量单元（4）具有用于在轴向上测量机器元件（5）的接触式测量元件（42）。机械测量单元（4）包括固定在光学测量单元（3）上的旋转机构（41），并将接触式测量元件（42）旋转在与旋转轴线机器元件（5）。

95. 发明专利

JP5311143B2 Measuring apparatus and method, and program 有权
公开(公告)号：JP5311143B2
公开(公告)日：2013-10-09
申请号：JP2009548956
申请日：2009-01-09
申请人：株式会社ニコン
发明人：勇雄木村 , 淳竹内
IPC分类号： G01B11/02
CPC分类号： G01B11/02 , G01B21/02 , G02B21/365 , G06T7/60 , G06T2207/10056
摘要： The present invention relates to a measuring apparatus, method and program with which a distance between two points that are not within one photographing range can be easily measured. In an image in which a start point is set, a specified position address calculation circuit 43 stores the coordinates of the start point, and a representative point setting circuit 44 sets a representative point, and stores the coordinates thereof, and characteristic quantity of the neighborhood image. Hereafter in each image until an image in which an end point is set, a representative point searching circuit 45 searches a representative point of the most recent image and stores the coordinates thereof, and the representative point setting circuit 44 sets a new representative point, and stores the coordinates thereof and the characteristic quantity of the neighborhood image. The specified position address calculation circuit 43 stores the coordinates of the end point in the image in which the end point is set. A vector calculation unit 61 calculates a vector between the respective two points connecting the start point, representative points and the end point in the sequence of setting, and a distance calculation unit calculates the distance between the start point and the end point based on the magnitude of the vector from the start point to the end point. The present invention can be applied to, for example, a measuring system using a microscope.

96. 发明专利

JP2013157472A Presumably defective portion determination apparatus, presumably defective portion determination method, fabrication method for semiconductor device and program 审中-公开
标题翻译：预处理部分确定装置，预处理部分确定方法，半导体器件和程序的制造方法
公开(公告)号：JP2013157472A
公开(公告)日：2013-08-15
申请号：JP2012017041
申请日：2012-01-30
申请人： Sony Corp , ソニー株式会社
发明人： DEWA KYOKO , HIRATA TATSUJIRO , SHIBUKI SHUNICHI
IPC分类号： H01L21/66 , H01L21/304
CPC分类号： G01B21/02 , H01L22/10 , H01L22/12 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a presumably defective portion determination apparatus which can determine a presumably defective portion in consideration of not only the value of a level difference but the shape of the level difference.SOLUTION: A level difference included in level difference data which indicates a level difference distribution on the surface of a semiconductor device is divided into two or more unit level differences in the depth direction. For each of the unit level differences obtained by the division, a relationship between the height of a contour line at a level difference position of an upper face and the area of an opening surrounded by the contour line is determined to determine the presence or absence of a presumably defective portion. For example, for each of the unit level differences obtained by the division of the level difference, the height from the deepest portion of the level difference of a contour line at the level difference position of the upper face and the area of an opening surrounded by the contour line are applied to a conditional expression, and the presence or absence of a presumably defective portion is determined based on whether or not the conditional expression is satisfied.
摘要翻译：要解决的问题：提供一种可能的故障部分确定装置，其可以不仅考虑电平差的值而且考虑电平差的形状来确定可能的缺陷部分。解决方案：包括在电平差数据中的电平差表示半导体器件的表面上的电平差分布被划分为深度方向上的两个或更多个单位电平差。对于通过分割获得的每个单位水平差，确定上面的水平差位置处的轮廓线的高度与由轮廓线包围的开口的面积之间的关系，以确定是否存在大概是缺陷部分。例如，对于通过分割水平差获得的每个单位水平差，从上表面的水平差位置处的轮廓线的水平差的最深部分的高度和由将轮廓线应用于条件表达式，并且基于条件表达式是否被满足来确定是否存在可能有缺陷的部分。

97. 发明专利

JP2013531794A Method and system for optimizing the optical inspection of a patterned structure 有权
标题翻译：空值
公开(公告)号：JP2013531794A
公开(公告)日：2013-08-08
申请号：JP2013514839
申请日：2011-06-16
申请人：ノヴァ・メジャーリング・インストゥルメンツ・リミテッド
发明人：ボアズ・ブリル
IPC分类号： G01N21/956 , H01L21/027 , H01L21/66
CPC分类号： G06T7/0004 , G01B11/02 , G01B21/02 , G01B2210/56 , G03F7/70625 , G06T7/80 , G06T2207/30148
摘要：パターン化構造の検査で使用するシステムおよび方法が提示される。本システムは、パターン化構造の少なくとも一部に関するイメージデータを示す第1のタイプのデータを受信するためのデータ入力ユーティリティと、イメージデータを分析し、前記構造におけるパターンの少なくとも1つの特徴に関する形状モデルを決定し、前記形状モデルを使用して、パターン化構造に対する光学測定を示す第2のタイプのデータに関する光学モデルを決定するように構成され、動作可能なデータ処理/分析ユーティリティとを含む。
摘要翻译：提出了一种用于图案化结构检查的系统和方法。该系统包括：用于接收指示图案化结构的至少一部分上的图像数据的第一类型数据的数据输入实用程序，以及被配置和可操作用于分析图像数据的数据处理和分析实用程序，以及至少确定几何模型所述结构中的图案的一个特征，并且使用所述几何模型来确定用于指示图案化结构上的光学测量的第二类型数据的光学模型。

98. 发明专利

JP5141468B2 Torso vertical and horizontal width measuring unit and the visceral fat measuring device 有权
公开(公告)号：JP5141468B2
公开(公告)日：2013-02-13
申请号：JP2008243169
申请日：2008-09-22
申请人：オムロンヘルスケア株式会社
发明人：広道家老 , 剛宏濱口 , 知也井尻 , 寧章村川 , 正次郎奥
IPC分类号： A61B5/107 , A61B5/05
CPC分类号： G01B21/02 , A61B5/0537 , A61B5/1072 , A61B5/4869 , A61B5/6823 , A61B5/6825 , A61B5/6828 , A61B5/6831 , A61B5/6838 , A61B5/704 , G01B21/08
摘要： A trunk width measuring unit including a first contact portion attached movably in the vertical direction relative to a unit main body, the first contact portion to be brought into contact with an upper surface of a trunk of a subject, second and third contact portions attached movably in the horizontal direction relative to the unit main body, a vertical width detection encoder for detecting a lowering distance of the first contact portion from an original position on the upper side of the trunk of the user to a contact point with the upper surface of the trunk, and a horizontal width detection encoder attached movably in the horizontal direction relative to the unit main body by the same distance as a moving distance of the second contact portion, the horizontal width detection encoder detecting a moving distance of the third contact portion relative to the second contact portion.

99. 发明专利

JP2013504771A Distance sensor of small form factor 有权
公开(公告)号：JP2013504771A
公开(公告)日：2013-02-07
申请号：JP2012529884
申请日：2010-09-15
申请人：クアルコム,インコーポレイテッド
发明人：マニッシュ・マハジャン
IPC分类号： G01S7/484 , G01C3/06 , G01S7/524 , G01S15/46 , G01S17/10 , G01S17/46
CPC分类号： G01S13/08 , G01B11/02 , G01B17/00 , G01B21/02 , G01C3/08 , G01C15/002 , G01S15/08 , G01S17/08 , G01S17/42 , G01S17/46
摘要：本明細書に開示する主題は、モバイルデバイスからリモートオブジェクトまでの距離、またはリモートオブジェクトのサイズを決定することに関する。
本発明は、回転可能なマイクロリフレクタを回転させてエネルギーをリモート表面に向ける段階であって、前記回転可能なマイクロリフレクタがモバイルデバイス中に配置され、前記回転させることが前記モバイルデバイスに関係する段階と、前記向けられたエネルギーの結果として生じる前記リモート表面からの反射エネルギーに少なくとも部分的に基づいて距離を測定する段階とを含む。

100. 发明专利

JPWO2009148003A1 寸法測定システム有权
公开(公告)号：JPWO2009148003A1
公开(公告)日：2011-10-27
申请号：JP2009545031
申请日：2009-05-26
申请人：新日本製鐵株式会社
发明人：憲午中尾 , 憲午中尾 , 英隆山下 , 英隆山下 , 克視平野 , 克視平野
IPC分类号： G01B21/02 , G10L15/24 , H04R1/00
CPC分类号： G01B21/02 , G10L15/26 , H04R27/00 , H04R2227/003 , H04R2410/00 , H04R2420/07
摘要：作業員の耳孔内に装着され、作業員の鼓膜から発せられ耳孔内を伝播する空気の振動から音声信号を生成し且つ音声信号を出力する音声入出力装置と、前記音声入出力装置が出力した音声信号から、被測定物の寸法の測定値の認識を行う音声認識機能、及び、前記測定値が前記被測定物の基準値を満たすか否かを判定する判定機能を実現する情報処理装置と、を有する寸法測定システムを提供する。

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