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1. 发明专利

KR102237102B1 KR102237102B1 - Test apparatus for concrete electric pole steel reinforcement 有权
公开(公告)号：KR102237102B1
公开(公告)日：2021-04-08
申请号：KR1020190126687A
申请日：2019-10-14
申请人： 한국전력공사
发明人： 강준혁
IPC分类号： G01N21/954 , F16L55/28 , G01B21/30
CPC分类号： G01N21/954 , F16L55/28 , G01B21/30 , G01N2021/9548
摘要： 본 발명은, 콘크리트 전주 내부에 삽입 가능하며, 길이 조절이 가능하도록 형성되는 몸체부; 상기 몸체부의 선단에 돌출되도록 결합되는 금속탐지부; 상기 몸체부의 둘레에 결합되는 바퀴; 상기 몸체부의 후단에 구비되며 상기 금속탐지부로부터 신호를 전달받는 알람부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 콘크리트 전주 철근 검사 장비를 제공한다. 이에 의하여, 콘크리트 전주 내부로 노출된 철근이 있는지 여부를 검사할 수 있다.

2. 发明专利

JP2018527553A 毛髪の粗さ及び光沢を推定するための装置审中-公开
公开(公告)号：JP2018527553A
公开(公告)日：2018-09-20
申请号：JP2017565079
申请日：2016-06-20
申请人：ユニリーバー・ナームローゼ・ベンノートシヤープ
发明人：チャンドラ,ラリーテッシュ , ディセール,シリス・スバシュ , パオリ,トマス・ズビグニェフ
IPC分类号： G01B3/04 , A61B5/107 , G01N33/50
CPC分类号： A61B5/448 , A61B5/1034 , G01B21/30
摘要： a)光沢の上昇勾配を含む第1の領域と、b)粗さの上昇勾配を含む第2の領域とを含む毛髪の粗さ及び光沢を測定するための装置であって、第1の領域が第2の領域に位置合わせされ、光沢の上昇勾配とテクスチャの上昇勾配とが互いに対して逆であり、粗さが毛髪を模倣するようにテクスチャ加工された、テクスチャ加工されたパターンによって与えられる装置。【選択図】図1

4. 发明专利

JP2016536596A 路面における短期凹凸の検出有权
标题翻译：在路面的短期违规检测
公开(公告)号：JP2016536596A
公开(公告)日：2016-11-24
申请号：JP2016535508
申请日：2015-06-09
申请人：ニラ・ダイナミクス・エイビイ
发明人：スヴァンテソン，トーマス , ヨハンソン，リカルド , ノーレン，オッレ
IPC分类号： G01B21/30 , B60G17/019 , B60W40/06 , G01C7/02
CPC分类号： E01C23/01 , G01B21/30
摘要：本発明は、第1のセンサを使用して、第1のホイールにおける時間依存振動を示す第1のセンサ信号を決定し;第2のセンサを使用して、車両シャーシの垂直移動を示す第2のセンサ信号を決定し;第1のセンサ信号及び第2のセンサ信号に基づき、走行車両下の路面の短期凹凸を検出することによって、第1のホイールを有する走行車両下の短期凹凸を検出することに関する。【選択図】図1A
摘要翻译：本发明使用的第一传感器，指示确定的第一轮的依赖于时间的所述第一振动传感器信号;使用第二传感器，所述第二指示车辆底盘的垂直运动确定传感器信号;基于所述第一传感器信号和第二传感器信号，通过运行车辆下检测所述路面的短期的不规则性，对行驶中的车辆下检测具有第一轮短期凹凸它。点域1A

5. 发明专利

JP2016529156A 道路品質を決定するための方法および装置审中-公开
标题翻译：用于确定所述道路质量的方法和装置
公开(公告)号：JP2016529156A
公开(公告)日：2016-09-23
申请号：JP2016537186
申请日：2014-07-23
申请人：ローベルトボッシュゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング , ローベルトボッシュゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング
发明人：ヨハネスフォルティン , ヨハネスフォルティン
IPC分类号： B60Q1/115 , B60Q1/14 , G08G1/00 , G08G1/09
CPC分类号： G06K9/00791 , B60Q1/085 , B60Q2300/32 , G01B11/24 , G01B21/30
摘要：【課題】本発明は、車両(304)により走行される道路(302)の道路品質を決定するための方法に関する。【解決手段】この方法は、走行方向(312)で前記車両(304)の前方に位置する道路区分の特性を表す車道状態情報(310)を示す補助パラメータ(308)に依存して、前記車両(304)により走行される前記道路(302)の道路品質を決定するための処理仕様を変更するステップ(904)を有している。【選択図】図3
摘要翻译：本发明涉及一种方法，用于确定由车辆（304）行驶的道路的道路质量（302）。该方法包括，根据指示道路状态信息（310）的行进方向上的辅助参数（312）表示位于车辆（304）（308）的前方的道路段的一个特征，所述车辆和用于改变处理规范，用于确定是由（304）行驶的道路（302）的道路质量步骤（904）。点域

6. 发明专利

JP2016142720A 形状評価方法および形状評価装置审中-公开
标题翻译：形状评估方法和形状评估装置
公开(公告)号：JP2016142720A
公开(公告)日：2016-08-08
申请号：JP2015021309
申请日：2015-02-05
申请人：国立大学法人神戸大学 , 株式会社牧野フライス製作所
发明人：佐藤隆太 , 佐藤友樹 , 尾田光成 , 中山野生
IPC分类号： G01N21/88 , G01B21/30 , G01B21/20
CPC分类号： G01B21/30
摘要：【課題】人が視覚的に感じる対象物の表面の品質を評価できる形状評価方法を提供する。【解決手段】形状評価方法は、設計形状と評価対象形状との誤差である形状誤差を算出する形状誤差算出工程と、形状誤差と予め定められた視覚特性データとに基づいて視認可能な形状誤差を検出する視認可能誤差検出工程とを含む。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：提供一种形状评估方法，其可以评估人的视觉感觉的物体的表面质量。形状评估方法包括：形状误差计算步骤，用于计算形状误差，该形状误差计算步骤是：设计形状和评估对象形状，以及可视识别的错误检测步骤，用于基于形状误差和预定的视觉特征数据来检测视觉上可识别的形状误差。图2

7. 发明专利

JP2015213099A ウエハのそりの評価方法及びウエハの選別方法有权
标题翻译： WAFER的评估方法和WAFER的选择方法
公开(公告)号：JP2015213099A
公开(公告)日：2015-11-26
申请号：JP2014094469
申请日：2014-05-01
申请人：信越半導体株式会社
发明人：斉藤久之
IPC分类号： G01B21/20 , H01L21/027
CPC分类号： G01B21/20 , G01B21/30 , G03F7/20 , H01L22/00 , G01B2210/56
摘要：【課題】ウエハを吸着した際にピンチャックのピッチの違いによって生じるそりの修正度合の違いを示す新規パラメータを導入し、これを用いてウエハのそりを評価する方法を提供する。【解決手段】ウエハのそりを評価する方法であって、吸着していないフリーの状態のウエハのそりを測定する第1の工程と、測定したウエハのそりのデータを用いて、ウエハ面内の任意の点Pを通る直線上にあり点Pを中心として点Pから距離a離れた点Q 1 と点Q 2 の2点間のウエハそり量Aと、同一直線上にあり点Pを中心として点Pから距離aとは異なる距離b離れた点R 1 と点R 2 の2点間のウエハそり量Bを求め、ウエハそり量A及びウエハそり量Bから点Pにおけるウエハそり量の差を算出する第2の工程とを有し、算出したウエハそり量の差からウエハのそりを評価する方法。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种引入新颖参数的方法，该参数表示在吸附晶片的情况下由针卡盘的间距差引起的翘曲校正度的差异，并且使用该新颖参数来评估晶片的翘曲。解决方案：评估晶片翘曲的方法包括：测量晶片在非吸附自由状态下的翘曲的第一步骤; 以及第二步骤，使用晶片的测量翘曲的数据来计算通过晶片表面内的任何任意点P并从该点分离的直线上的两个点之间的点Q和点Q之间的晶片翘曲量A. P距离（a）当点P定义为中心时，晶圆翘曲量B在点Rand的两点之间，点R位于相同的直线上并与点P分开距离（b ）与点P定义为中心时的距离（a）不同。从计算的晶片翘曲量的差异来看，评估晶片的翘曲。

8. 发明专利

JP2015508871A 摩擦を最適化された摺動面を備えた、熱被覆された構成部品有权
标题翻译：具有优化的滑动面的摩擦，加热所述涂覆的部件
公开(公告)号：JP2015508871A
公开(公告)日：2015-03-23
申请号：JP2014555947
申请日：2012-12-21
申请人：ダイムラー・アクチェンゲゼルシャフトDaimler AG , ダイムラー・アクチェンゲゼルシャフトDaimler AG
发明人：ボエーム，イェンス , ハルトヴェク，マルティン , ヘルケ，トビアス , イツクアイエルド，パトリック , ミヒャエル，メヌエル , ラウ，ギュンター , シュヴェイッケルト，シュテファン
IPC分类号： F16C33/10 , B24B33/06 , F16C9/02 , F16C33/14 , F16J1/08
CPC分类号： C23C4/04 , C23C4/00 , F02F1/20 , G01B21/20 , G01B21/30 , G06F17/5009 , Y10T428/24355 , Y10T428/31504
摘要：本発明は、摩擦相手のための、摩擦を最適化された摺動面を備えた、熱被覆された構成部品を提示する。摩擦を最適化された表面は、構成部品被膜表面シミュレーションによってあらかじめ決定可能な10〜800μm3/mm2の理論的オイル保持量VOilを有している。さらに、熱被覆された構成部品の構成部品被膜表面シミュレーションのための方法が開示され、この方法は構成部品被膜表面の表面構造のための特性値特定を含み、その際特性値が構成部品被膜表面と摩擦相手との間の関数をシミュレーションする。【選択図】図1
摘要翻译：本发明中，用于摩擦伙伴，具有优化的滑动面的摩擦，提出了一种热涂覆的组件。摩擦优化的表面具有由组分涂层表面模拟预定的10〜800μm3/ mm 2的理论油保持量VOil。此外，对于组分的涂料表面仿真所公开的方法加热该涂敷的部件，该方法包括用于将组分涂层表面的表面结构，由此特性值组分涂层表面的特定特征值模拟的摩擦伙伴之间的功能。点域1

9. 发明专利

JP5543352B2 Arrangement and method of measuring warpage wafer warpage measurement 有权
公开(公告)号：JP5543352B2
公开(公告)日：2014-07-09
申请号：JP2010527234
申请日：2008-09-29
申请人：ラムリサーチコーポレーション
发明人：ディー．，３世ベイリー，アンドリュー
IPC分类号： H01L21/66 , H01L21/3065
CPC分类号： H01L22/12 , G01B21/08 , G01B21/20 , G01B21/30 , H01L22/20

10. 发明专利

JP2013161795A Three-dimensional mapping using scanning electron microscope images 有权
标题翻译：使用扫描电子显微镜图像的三维图像
公开(公告)号：JP2013161795A
公开(公告)日：2013-08-19
申请号：JP2013031500
申请日：2013-02-01
申请人： Applied Materials Israel Ltd , アプライドマテリアルズイスラエルリミテッド
发明人： SCHWARZBAND ISHAI , YAKOV WEINBERG
IPC分类号： H01J37/28 , H01J37/22 , H01J37/244
CPC分类号： G01B21/30 , G01D18/008 , G01N23/2251 , G01N2223/6116 , H01J37/24 , H01J37/244 , H01J37/26 , H01J37/28 , H01J2237/22 , H01J2237/24465 , H01J2237/2448 , H01J2237/2814 , H01J2237/2826
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method and a system for calculating a three-dimensional topographical model of a sample surface from plural SEM images of a sample captured by plural detectors for preventing distortion of a three-dimensional model when the sample surface is made up of multiple types of materials.SOLUTION: A method includes irradiating a surface of a sample, which is made up of multiple types of materials, with a beam of primary electrons. Emitted electrons emitted from the irradiated sample are detected using plural detectors that are positioned at respective different positions relative to the sample, so as to produce respective detector outputs. Calibration factors are computed to compensate for variations in emitted electron yield among the types of the materials, by identifying, for each material type, one or more horizontal regions on the surface that are made up of the material type, and computing a calibration factor for the material type based on at least one of the detector outputs in the identified horizontal regions. The calibration factors are applied to the detector outputs. A three-dimensional topographical model of the surface is calculated based on the detector outputs to which the calibration factors are applied.
摘要翻译：要解决的问题：提供一种用于从多个检测器捕获的样本的多个SEM图像中计算样品表面的三维形貌模型的方法和系统，用于当制备样品表面时防止三维模型的变形多种类型的材料。解决方案：一种方法包括用一次电子束照射由多种材料构成的样品的表面。使用位于相对于样品的各个不同位置的多个检测器来检测从照射样品发射的发射电子，以便产生相应的检测器输出。计算校准因子，以补偿材料类型中发射的电子产量的变化，通过为每种材料类型识别由材料类型组成的表面上的一个或多个水平区域，并计算校准因子所述材料类型基于所识别的水平区域中的至少一个检测器输出。校准因子应用于检测器输出。基于应用校准因子的检测器输出计算表面的三维地形模型。

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