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1. 发明专利

JP6104115B2 画像処理装置有权
公开(公告)号：JP6104115B2
公开(公告)日：2017-03-29
申请号：JP2013198264
申请日：2013-09-25
申请人：三菱電機株式会社
发明人：佐藤真梨子 , 中野貴敬
IPC分类号： G01W1/00 , G06T1/00

2. 发明专利

JP6964834B2 画像処理装置および画像処理方法有权
公开(公告)号：JP6964834B2
公开(公告)日：2021-11-10
申请号：JP2021541757
申请日：2019-08-23
申请人：三菱電機株式会社
发明人：佐藤真梨子 , 中野貴敬 , 鈴木将敬
IPC分类号： G06T7/00

3. 发明专利

JPWO2021038621A1 画像処理装置および画像処理方法有权
公开(公告)号：JPWO2021038621A1
公开(公告)日：2021-10-21
申请号：JP2019032984
申请日：2019-08-23
申请人：三菱電機株式会社
发明人：佐藤真梨子 , 中野貴敬 , 鈴木将敬
IPC分类号： G06T7/00
摘要：画像処理装置(1)は、観測画像を構成するマルチスペクトル画像の画素値を放射輝度に変換する放射輝度変換部(11)と、マルチスペクトル画像から大気散乱放射輝度を検出する散乱特性検出部12と、エアロゾルに対応する視程と大気散乱放射輝度および大気透過率の分光特性データとが対応付けて設定された複数のエアロゾルモデルから、マルチスペクトル画像から検出された大気散乱放射輝度に対応するエアロゾルモデルおよび視程を推定するエアロゾル・視程推定部(13)と、推定されたエアロゾルモデルから、推定された視程に対応する大気散乱放射輝度および大気透過率のデータを抽出する大気特性抽出部(14)と、被撮影領域の入射照度を算出する入射照度算出部(15)と、マルチスペクトル画像の放射輝度値、大気散乱放射輝度、大気透過率および入射照度を用いて、地表反射率を算出する地表反射率算出部(16)を備える。

4. 发明专利

JP6053585B2 光学センサ性能評価装置及び光学センサ性能評価方法有权
标题翻译：光学传感器性能评价装置和光学传感器的性能评价方法
公开(公告)号：JP6053585B2
公开(公告)日：2016-12-27
申请号：JP2013054978
申请日：2013-03-18
申请人：三菱電機株式会社
发明人：酒井真梨子 , 中野貴敬
IPC分类号： G01B11/00 , G01M11/02

5. 发明专利

JP5705016B2 信号処理装置有权
公开(公告)号：JP5705016B2
公开(公告)日：2015-04-22
申请号：JP2011103580
申请日：2011-05-06
申请人：三菱電機株式会社
发明人：松本佳宏 , 中野貴敬 , 浅香公雄
IPC分类号： G06T7/60

6. 发明专利

JPWO2021001945A1 分光イメージング装置有权
公开(公告)号：JPWO2021001945A1
公开(公告)日：2021-09-13
申请号：JP2019026377
申请日：2019-07-02
申请人：三菱電機株式会社
发明人：吉岐航 , 宇野健 , 中野貴敬
IPC分类号： G01N21/27 , B64G1/22 , G03B15/00 , H04N5/225 , G01J3/36
摘要：分光イメージング装置(1)は、視野絞り(2d)、シェーディング光学素子(2c)、分散素子(2f)および二次元検出器(2h)を有した分光部(2)と、二次元検出器(2h)の各画素の電圧値を読み出す検出器読み出し部(3)と、画素の電圧値をデジタル信号に変換するAD変換部(4)と、デジタル信号を信号処理する信号処理部(5)とを備え、シェーディング光学素子(2c)が、分光部(2)における、視野絞り(2d)の前段または視野絞り(2d)の後段と、二次元検出器(2h)の前段との少なくとも一方に配置されている。

7. 发明专利

JP6918243B1 光パターン生成装置有权
公开(公告)号：JP6918243B1
公开(公告)日：2021-08-11
申请号：JP2020533030
申请日：2019-11-28
申请人：三菱電機株式会社
发明人：吉岐航 , 宮城ゆかり , 今城勝治 , 中野貴敬
IPC分类号： G02B27/42 , G02B5/18 , G02B27/06
摘要：光パターン生成装置(100)は、レーザ光を出射するレーザ光源(1)と、レーザ光源(1)が出射したレーザ光を偏向させる光スキャナ(4)と、それぞれが、通過したレーザ光が所定の光パターンを像面(9)上に形成するように、光スキャナ(4)が偏向させたレーザ光の位相分布又は強度分布のうちの少なくとも一方を変調する複数の回折光学素子要素(10)から構成されている回折光学素子部(7)と、を備え、光スキャナ(4)は、レーザ光源(1)が出射したレーザ光を、複数の回折光学素子要素(10)のうちの任意の回折光学素子要素に向けて偏向させるように、レーザ光源(1)が出射したレーザ光を偏向させる偏向方向を変更可能である。

8. 发明专利

JP6827603B1 レーザレーダ装置有权
公开(公告)号：JP6827603B1
公开(公告)日：2021-02-10
申请号：JP2020553547
申请日：2020-01-14
申请人：三菱電機株式会社
发明人：伊藤優佑 , 吉岐航 , 今城勝治 , 中野貴敬
IPC分类号： G01S17/95 , G01S17/34 , G01S17/50 , G01S7/486
摘要：レーザレーダ装置(1)は、測定対象空間に存在するHT(100)の計測および測定対象空間におけるHT(100)までの間に存在するST(101)の計測を行い、レーザ光の照射方向の距離とレーザ光の受信信号のSNRとの対応関係を示すデータおよびSNRの検出限界値に基づいて、受光されたレーザ光からHT(100)において反射されたレーザ光を判別し、判別されたレーザ光の受信信号の強度が飽和しないように制御する。

9. 发明专利

JP2015231150A 撮像制御装置、撮像装置および撮像制御方法有权
标题翻译：成像控制装置，成像装置和成像控制方法
公开(公告)号：JP2015231150A
公开(公告)日：2015-12-21
申请号：JP2014116935
申请日：2014-06-05
申请人：三菱電機株式会社
发明人：佐藤真梨子 , 中野貴敬
IPC分类号： G03B7/08 , H04N5/232
摘要：【課題】リアルタイムに撮像画像の解析結果を得ることができない光学センサに対しても、撮像画像の画質の最適化のための制御を可能にする。【解決手段】撮像対象を撮像する光学センサへの入射輝度における当該光学センサの撮像画像の鮮鋭度とSN比との関係を示したセンサ画質特性曲線を取得するセンサ画質特性曲線計算部3と、ある画質における鮮鋭度とSN比との関係を示した画質曲線を複数の画質について取得する等画質曲線取得部5と、センサ画質特性曲線と画質曲線とから光学センサの撮像設定条件を決定する撮像設定条件計算部7と、決定された撮像設定条件に基づいて、光学センサの制御パラメータを設定する撮像設定条件出力部8とを備える。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：即使对于不能实时获得拍摄图像的分析结果的光传感器，也执行用于优化拾取图像的图像质量的控制。解决方案：一种成像控制装置，包括：传感器图像质量特性曲线计算部分3，用于获取表示成像目标的成像目标的光传感器的摄像图像的锐度与S / N比之间的关系的传感器图像质量特性曲线; 相同的图像质量曲线获取部分5，用于获取指示关于多个图像质量的某一图像质量中的锐度和S / N比之间的关系的图像质量曲线; 成像设置条件计算部分7，用于根据传感器图像质量特性曲线和图像质量曲线确定光传感器的成像设置条件; 以及成像设定条件输出部8，用于根据所确定的成像设定条件来设定光传感器的控制参数。

10. 发明专利

JPWO2021106123A1 光パターン生成装置有权
公开(公告)号：JPWO2021106123A1
公开(公告)日：2021-12-02
申请号：JP2019046471
申请日：2019-11-28
申请人：三菱電機株式会社
发明人：吉岐航 , 宮城ゆかり , 今城勝治 , 中野貴敬
IPC分类号： G02B5/18 , G02B27/42
摘要：光パターン生成装置(100)は、レーザ光を出射するレーザ光源(1)と、レーザ光源(1)が出射したレーザ光を偏向させる光スキャナ(4)と、それぞれが、通過したレーザ光が所定の光パターンを像面(9)上に形成するように、光スキャナ(4)が偏向させたレーザ光の位相分布又は強度分布のうちの少なくとも一方を変調する複数の回折光学素子要素(10)から構成されている回折光学素子部(7)と、を備え、光スキャナ(4)は、レーザ光源(1)が出射したレーザ光を、複数の回折光学素子要素(10)のうちの任意の回折光学素子要素に向けて偏向させるように、レーザ光源(1)が出射したレーザ光を偏向させる偏向方向を変更可能である。

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