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1. 发明专利

JP6662835B2 制御装置有权
公开(公告)号：JP6662835B2
公开(公告)日：2020-03-11
申请号：JP2017201646
申请日：2017-10-18
申请人：ファナック株式会社
发明人：飯島一憲
IPC分类号： H02P5/54

2. 发明专利

JP2019075925A 制御装置审中-公开
公开(公告)号：JP2019075925A
公开(公告)日：2019-05-16
申请号：JP2017201646
申请日：2017-10-18
申请人：ファナック株式会社
发明人：飯島一憲
IPC分类号： H02P5/54
摘要：【課題】複数の電動機によって駆動される駆動機構を制御する制御装置において、プリロード(予圧トルク)を安定的かつ均等に印可できる構成を提供すること。【解決手段】制御装置1は、電動機13,23の出力のない状態から出力非零の状態に移行して予圧トルク重畳部30が予圧トルクを与える場合は、複数の電動機13,23のうちの少なくとも1つの電動機23が速度検出部15で検出された速度検出値に基づく速度制御で駆動機構2と電動機13,23の間に接触部を形成し、接触部が形成された状態で予圧トルク重畳部30による予圧トルクが付与される。【選択図】図2

3. 发明专利

JP2019067136A 数値制御システム审中-公开
公开(公告)号：JP2019067136A
公开(公告)日：2019-04-25
申请号：JP2017191864
申请日：2017-09-29
申请人：ファナック株式会社
发明人：飯島一憲 , 佐藤和宏 , 神谷洋平
IPC分类号： G05B19/18 , G05B23/02 , G05B19/4155
摘要：【課題】加工時のモータの動作パターンや工具、ワーク等が異なる場合であっても、工作機械の運転状態の異常を検知することが可能な数値制御システムを提供すること。【解決手段】本発明の数値制御システム1は、工作機械の加工運転における条件を指定する条件指定部110と、工作機械の運転状態を示す状態量を検出する状態量検出部140と、状態量から加工運転の状態を特徴付ける特徴量を作成する特徴量作成部210と、特徴量から工作機械の運転状態に対する評価値を推論する推論計算部220と、評価値に基づいて異常状態を検知する異常検知部400と、特徴量を用いた機械学習により学習モデルを生成乃至更新する学習モデル生成部500と、学習モデルを加工運転の条件の組み合わせと関連付けて記憶する学習モデル記憶部300と、備える。【選択図】図1

4. 发明专利

JP6469171B2 電動機の制御装置有权
公开(公告)号：JP6469171B2
公开(公告)日：2019-02-13
申请号：JP2017116582
申请日：2017-06-14
申请人：ファナック株式会社
发明人：飯島一憲
IPC分类号： G05D3/12 , G05B13/02 , G05B19/416 , H02P29/00

5. 发明专利

JP6464226B2 電動機の制御装置有权
公开(公告)号：JP6464226B2
公开(公告)日：2019-02-06
申请号：JP2017116583
申请日：2017-06-14
申请人：ファナック株式会社
发明人：田中俊平 , 飯島一憲
IPC分类号： G05B19/416 , H02P29/00

6. 发明专利

JP2018189582A 計測装置审中-公开
公开(公告)号：JP2018189582A
公开(公告)日：2018-11-29
申请号：JP2017093942
申请日：2017-05-10
申请人：ファナック株式会社
发明人：田中俊平 , 飯島一憲
IPC分类号： B23Q17/20 , B24B49/00 , G01B17/06
CPC分类号： G01B17/08 , G01B17/06 , G01S7/521 , G01S7/539 , G01S15/003 , G01S15/88
摘要：【課題】工作機械に用いられる計測装置において、加工される対象物が金型のような複雑な形状を有するものであっても超音波照射によって表面形状を正確に測定できる構成を提供すること。【解決手段】計測装置1は、超音波を被削材(計測対象)51に照射する超音波振動子20と、音響レンズ32と、受光素子配列(受音素子部)41と、A/Dコンバータアレイ42と、A/Dコンバータアレイ42に接続される計算機43と、超音波振動子20に対して被削材51を相対的に移動又は傾斜可能な駆動機構53と、を備える。計算機43は、超音波の走査照射によって受音素子配列41で得られる情報を時系列で記憶し、時系列で記憶した情報を空間情報に変換して音響強度分布を取得する。【選択図】図1

7. 发明专利

JP2018151353A 計測装置审中-公开
公开(公告)号：JP2018151353A
公开(公告)日：2018-09-27
申请号：JP2017049604
申请日：2017-03-15
申请人：ファナック株式会社
发明人：飯島一憲
IPC分类号： G01B11/30
CPC分类号： G01B11/303 , G01B11/02 , G01B11/24 , G01B11/30
摘要：【課題】工作機械に用いられる機上測定装置において、計測対象の表面微細構造の深さ方向の形状を精密に測定できる構成を提供すること。【解決手段】機上計測装置1は、計測対象である被削材51をレーザ光源20に対して相対的に移動させてレーザ光の走査照射を行う移動機構30と、レーザ光源20からの光を被削材51に垂直入射させるハーフミラー31と、被削材51で散乱、回折、反射された光を集光するレンズ32と、レンズ32の透過光の焦点像の投影面33と、投影面33の光信号を電気信号に変換してアナログ信号を出力する受光素子配列41と、受光素子配列41からのアナログ信号から変換されたデジタル信号に基づいてレーザ光の走査照射によって受光素子配列41で得られる受光情報を時系列で記憶し、時系列で記憶した受光情報を空間情報に変換して光学回折像を生成し、生成した光学回折像から光強度分布を取得する計算機43と、を備える。【選択図】図2

8. 发明专利

JP2018128735A サーボ制御装置审中-公开
公开(公告)号：JP2018128735A
公开(公告)日：2018-08-16
申请号：JP2017019712
申请日：2017-02-06
申请人：ファナック株式会社
发明人：飯島一憲 , 田中俊平
IPC分类号： G05B13/02 , H02P29/00 , G05B19/19 , G05D3/12
CPC分类号： G05B19/416 , G05B19/39 , G05B19/404
摘要：【課題】周波数特性に対応付けたパラメータを復元することにより、自動調整後にユーザの要求や調整結果の評価に応じて、調整前の状態又は過去の状態に適切に復元できるサーボ制御装置を提供すること。【解決手段】サーボ制御装置10は、速度指令作成部11と、トルク指令作成部12と、速度検出部13と、速度制御ループ30と、速度制御ゲイン14と、フィルタ21と、パラメータ保持部24と、正弦波外乱入力部15と、周波数特性算出部22と、パラメータ調整部23と、を具備する。パラメータ保持部24は、周波数特性算出部22が得た過去の周波数特性の履歴を、過去のパラメータ履歴と対応付けて保持する。【選択図】図2

9. 发明专利

JP6212068B2 機械の周波数特性をオンラインで取得する機能を有するサーボ制御装置有权
公开(公告)号：JP6212068B2
公开(公告)日：2017-10-11
申请号：JP2015089404
申请日：2015-04-24
申请人：ファナック株式会社
发明人：飯島一憲
IPC分类号： G05D3/12
CPC分类号： G05B19/416 , G05B2219/37347 , G05B2219/41112

10. 发明专利

JP5980890B2 実験モード解析を用いたフィルタ自動調整機能を有するサーボ制御装置有权
标题翻译：具有过滤器的自动调整功能利用试验模态分析伺服控制器
公开(公告)号：JP5980890B2
公开(公告)日：2016-08-31
申请号：JP2014250242
申请日：2014-12-10
申请人：ファナック株式会社
发明人：飯島一憲
IPC分类号： G05D3/12 , H02P29/00
CPC分类号： G05B19/19 , G05B11/011 , G05B2219/41144

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