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    • 3. 发明公开
    • Surface acoustic wave device and method of manufacturing a surface acoustic wave device
    • SAW Bauelement und Herstellungsmethodefürein SAW Bauelement
    • EP1675261A1
    • 2006-06-28
    • EP05027864.7
    • 2005-12-20
    • SEIKO EPSON CORPORATION
    • Furuhata, Makoto, c/o Seiko Epson CorporationSato, Hisakatsu, c/o Seiko Epson Corporation
    • H03H9/02
    • H03H3/08H03H9/02866H03H9/02976
    • A surface acoustic wave device including at least an IC region and a surface acoustic wave element region in a semiconductor substrate (30) and formed as a single chip, including, in the IC region, a semiconductor element layer (40) having a semiconductor element (31) and an element insulating film (33) formed to cover the semiconductor element (31) and extending to the surface acoustic wave element region, a wiring layer (41) formed by stacking, on the semiconductor element layer (40), wiring for establishing connection with the semiconductor element and a wiring insulating film (36) extending to the surface acoustic wave element region and for insulating the wiring, and a piezoelectric thin film (38) formed above the wiring insulating film, and in the surface acoustic wave element region, a surface acoustic wave element (24) formed on the piezoelectric thin film and equipped with an IDT electrode (22) provided with a plurality of electrode fingers (21), and at least one layer of layer thickness adjusting films (32,35) having linear shapes and arranged in parallel to and with the same pitch (P) as the electrode fingers (21) of the IDT electrode (22), and formed above one of the semiconductor substrate (30), the element insulating film (33), and the wiring insulating film (36), and below an area in which the surface acoustic wave element is formed.
    • 一种在半导体衬底(30)中至少包括IC区域和表面声波元件区域的表面声波装置,其形成为在IC区域中具有半导体元件层(40)的单芯片, (31)和形成为覆盖半导体元件(31)并延伸到声表面波元件区域的元件绝缘膜(33),在半导体元件层(40)上堆叠形成的布线层(41) 用于与半导体元件建立连接以及延伸到表面声波元件区域并用于绝缘布线的布线绝缘膜(36),以及形成在布线绝缘膜上方的压电薄膜(38),以及在表面声波 元件区域,形成在压电薄膜上并配备有设置有多个电极指(21)的IDT电极(22)的表面声波元件(24),以及至少一层层 具有直线形状并且与IDT电极(22)的电极指(21)平行并与其相同的间距(P)布置的厚度调节膜(32,35),并且形成在半导体衬底(30)之上 ),元件绝缘膜(33)和布线绝缘膜(36),并且在形成表面声波元件的区域的下方。
    • 4. 发明公开
    • Method of manufacturing surface acoustic wave device and surface acoustic wave device
    • Herstellungsmethodefürein SAW Bauelement und SAW Bauelement
    • EP1672789A1
    • 2006-06-21
    • EP05027768.0
    • 2005-12-19
    • SEIKO EPSON CORPORATION
    • Yajima, Aritsugu Seiko Epson CorporationSato, Hisakatsu Seiko Epson CorporationKojima, Takashi Seiko Epson Corporation
    • H03H9/02
    • H03H9/02976H03H3/08H03H9/02866Y10T29/42
    • A method of manufacturing a surface acoustic wave device formed in one chip and including over a semiconductor substrate (30) at least an IC region and a surface acoustic wave element region that are horizontally disposed, the method including: forming in the IC region over the semiconductor substrate a semiconductor element layer (45) that includes a semiconductor element (31) and an insulation layer (33) covering the semiconductor element and being deposited also in the surface acoustic wave element region; forming over the semiconductor element layer a wire layer (46) that includes a plurality of wires coupled to the semiconductor element and a wire insulating film (37) deposited over the plurality of wires to provide insulation among the wires, the wire insulating film (37) being deposited also over the insulation layer (33) in the surface acoustic wave element region; forming an interlayer insulating film (38) having a flattened surface on the wire insulating film (37) in the IC region and the surface acoustic wave element region; forming a piezoelectric thin film (39) on the interlayer insulating film (38); and forming a surface acoustic wave element (40) on the piezoelectric thin film (39) in the surface acoustic wave element region.
    • 一种制造表面声波装置的方法,所述声表面波装置形成在一个芯片中,并且至少包括水平设置的IC区域和表面声波元件区域的半导体衬底(30)上,所述方法包括: 半导体衬底,包括半导体元件(31)的半导体元件层(45)和覆盖半导体元件并且还沉积在表面声波元件区域中的绝缘层(33); 在所述半导体元件层上形成包括耦合到所述半导体元件的多个导线的线层(46)和沉积在所述多根导线上以在所述导线之间提供绝缘的线绝缘膜(37),所述线绝缘膜(37 )沉积在表面声波元件区域中的绝缘层(33)上; 在所述IC区域中的所述导线绝缘膜(37)上形成具有平坦表面的层间绝缘膜(38)和所述表面声波元件区域; 在所述层间绝缘膜(38)上形成压电薄膜(39); 以及在表面声波元件区域中的压电薄膜(39)上形成表面声波元件(40)。
    • 9. 发明公开
    • Procédé de réalisation d'un dispositif acoustique comprenant une structure de cristal phononique à inclusions de type conique qui contrôle la bande d'arrêt dudit dispositif
    • 制造声学装置,包括带锥形夹杂物调整一个带阻滤波器用于该装置的声子晶体结构的方法
    • EP2487793A1
    • 2012-08-15
    • EP12153557.9
    • 2012-02-02
    • Commissariat à l'Énergie Atomique et aux Énergies Alternatives
    • Gorisse, MarieReinhardt, Alexandre
    • H03H3/007H03H3/08H03H9/02H03H9/64H03H9/17H01L21/033
    • H03H9/02653H01L21/0337H03H3/0072H03H3/08H03H9/02118H03H9/02125H03H9/02338H03H9/02866H03H9/172H03H9/6409
    • L'invention concerne un procédé de réalisation d'un dispositif acoustique comprenant une structure de cristal phononique comprenant une première série d'inclusions réalisées dans un premier milieu réparties dans une matrice constituée par un second milieu, permettant le blocage de la propagation des ondes acoustiques dans une bande de fréquences dite bande d'arrêt, caractérisé en ce qu' il comporte les étapes suivantes :
      - une étape de définition des paramètres géométriques desdites inclusions, lesdites inclusions comportant des parois en contact avec ladite matrice faisant au moins un premier angle (θ) dit angle de paroi, non nul avec la normale au plan de ladite structure, lesdits paramètres géométriques comprenant ledit premier angle de paroi, ladite étape comportant :
      • la détermination d'une fonction relative à l'évolution de la position en fréquence de ladite bande d'arrêt avec ledit angle de paroi et/ou la détermination d'une fonction relative à l'évolution de largeur de ladite bande d'arrêt avec ledit angle de paroi ;
      • la détermination dudit au moins premier angle (θ) pour une position en fréquence et/ou une largeur de la bande d'arrêt, choisies à partir de la ou des fonctions précédemment déterminées ;

      - une étape de réalisation de ladite première série d'inclusions présentant au moins ledit premier angle de paroi, dans ladite matrice constituée par ledit second milieu.
    • 该方法包括限定锥形封闭夹杂物的几何参数:如孔,二维声子晶体结构,包括由第一角度在与非均相基质接触壁:如在壁的角度,产生第一系列的夹杂物 具有壁的在通过第二介质构成的基体中的第一角度,在上硅层(20)提供具有氧化硅层上的硅绝缘体上的基板的表面(10)的一个表面上沉积的树脂层 的基板,以及限定在所述树脂层中蚀刻图案。 该方法包括限定锥形封闭夹杂物的几何参数:如孔,二维声子晶体结构,包括由第一角度在与非均相基质接触壁:如在壁的角度,产生第一系列的夹杂物 具有壁的在通过第二介质构成的基体中的第一角度,在上硅层(20)提供具有氧化硅层上的硅绝缘体上的基板的表面(10)的一个表面上沉积的树脂层 底物, - 定义在树脂层中蚀刻图案,匍匐树脂层以定向蚀刻图案,通过在树脂层中取向的图案上硅层上执行在蚀刻术以便限定具有壁的角锥形孔, 去除树脂层包括蚀刻的图案,并产生一个布拉格反射镜结构支撑的二维声子晶体结构。 的夹杂物中的第一介质形成并分布在由所述第二介质用于在频率阻挡声波的传播构成的基质带审查作为阻带。 所述参数包括第一几何角壁。 所述定义步骤包括:确定开采于频率的频率位置改变有关的功能的带检查与壁和/或确定性采矿相关于与壁的角度的带的宽度变化的函数的角度的阻带; 和确定性开采的频率位置和/或带的从所述确定性函数开采的宽度,所述第一角度。 该功能是通过三维模拟手术进行的确定性挖掘的步骤并通过最终的元素和/或经验测量来执行。 产生第一系列夹杂物的步骤包括沉积在基片上由氮化铝构成的材料层,从而产生在材料层上的树脂掩模,进行反应性离子蚀刻操作在所述材料层,以限定具有壁的角锥形孔, 并除去树脂掩模。被设置在基片具有一个氧化硅层的表面上的上硅层。 该内含物具有圆形,正方形,六边形或三角形的几何形状,被设置雅丁到通过接收一个六边形的基本网状物或正方形或三角形蜂窝获得周期性布置,扩大最大的阻带中,通过重叠和/或并置的材料形成,并且填充 与材料。 所述基质包括层的叠层。