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1. 发明公开

EP3196636A4 X-RAY ANALYZING APPARATUS 有权
公开(公告)号：EP3196636A4
公开(公告)日：2018-03-07
申请号：EP15841789
申请日：2015-08-27
申请人： RIGAKU DENKI CO LTD
发明人： SAKO YUKIO
IPC分类号： G01N23/223 , G01N23/207 , G01T1/17 , G01T1/36 , G01T1/40
CPC分类号： G01N23/223 , G01N2223/076 , G01N2223/303 , G01N2223/304 , G01T1/17 , G01T1/40
摘要： The X-ray analyzing apparatus according to the present invention includes, in combination: a first correcting unit (13A, 13B) to output a first gain to cause a pulse height of a target peak which is estimated on the basis of a sum of counting rates obtained in preliminary measurement, to match a predetermined expected pulse height; and a second correcting unit (14A, 14B) to output, in real time through feedback control, a second gain to be added to the first gain in order to cause the pulse height of the target peak detected within a predetermined energy range, to match the expected pulse height, and further includes a feedback control stopping unit (16A, 16B) to appropriately determine presence/absence of an interfering line with respect to the target peak, and to set, when determining that the interfering line exists, the gain to a fixed value including only the first gain.

2. 发明公开

EP3035082A1 METHOD FOR MEASURING X-RAY ENERGY OF AN ACCELERATOR IN AN INSPECTION SYSTEM 有权
标题翻译： VERFAHREN ZUR MESSUNG DERRÖNTGENSTRAHLENERGIEEINES BESCHLEUNIGERS IN EINEM INSPEKTIONSSYSTEM
公开(公告)号：EP3035082A1
公开(公告)日：2016-06-22
申请号：EP15200787.8
申请日：2015-12-17
申请人： Nuctech Company Limited , Tsinghua University
发明人： DENG, Yanli , MIAO, Qitian , LI, Junli , ZHU, Guoping , GUAN, Weiqiang , HU, Yuxin , MING, Shenjin , HUANG, Ming
IPC分类号： G01T1/16 , G01T1/29 , H05G1/26 , G01N23/04 , G01N23/087 , G01N23/083
CPC分类号： G01V13/00 , G01N23/083 , G01N2223/303
摘要： The disclosure provides a method for measuring X-ray energy of an accelerator in an inspection system, the method comprises: building a database comprising correspondence between half-value layer (HVL) and energy under a predetermined condition; measuring HVL for X-rays of the accelerator in the inspection system on line under the same predetermined condition; and comparing the measured HVL with the HVLs in the database comprising correspondence between HVL and energy to determine the X-ray energy of the accelerator. The method is applicable to a large-scale container/vehicle inspection system for measurement of X-ray energy / HVL of the accelerator so as to acquire source state of the inspection system in real time.
摘要翻译：本发明提供了一种用于测量检查系统中的加速器的X射线能量的方法，所述方法包括：构建包含半值层（HVL）与预定条件下的能量之间的对应关系的数据库; 在相同的预定条件下测量在检查系统中的加速器的X射线的HVL; 并且将所测量的HVL与数据库中的HVL进行比较，其中包括HVL和能量之间的对应关系，以确定加速器的X射线能量。该方法适用于用于测量加速器的X射线能量/ HVL的大型集装箱/车辆检查系统，以便实时获取检查系统的源状态。

3. 发明公开

EP2080015A1 KALIBRIERMETHODE FÜR ZWEI- ODER MEHRSPEKTRENTOMOGRAPHIE 审中-公开
标题翻译：校准方法对两个或更多的高光谱成像
公开(公告)号：EP2080015A1
公开(公告)日：2009-07-22
申请号：EP07818508.9
申请日：2007-09-27
申请人： VAMP Verfahren und Apparate der Medizinischen Physik GmbH
发明人： KACHELRIESS, Marc
IPC分类号： G01N23/04 , G06T11/00 , A61B6/03
CPC分类号： A61B6/482 , A61B6/032 , A61B6/405 , A61B6/583 , G01N2223/303 , G06T11/008 , G06T2211/408
摘要： The invention relates to a method for calibrating computer tomographs in the case of two-spectra or multispectra tomography. The method is characterized by direct calculation of the material decomposition equations Pi = Di(qj) with i=1,..., I, wherein i denotes the number of materials, and j=1,..., J, wherein j denotes the number of spectra, wherein the decomposition function Di can be represented as a linear combination of basic functions Bn as follows: the formula and the material decomposition coefficients Cin in the image space are determined using a linear combination of reconstructed images.

4. 发明公开

EP2035816A1 RADIOGRAPHIC CALIBRATION 审中-公开
标题翻译：射线照相标定
公开(公告)号：EP2035816A1
公开(公告)日：2009-03-18
申请号：EP07732662.7
申请日：2007-05-03
申请人： Rolls-Royce plc
发明人： SKUSE, Kevin, Frank , KENNERELL, Scott
IPC分类号： G01N23/04
CPC分类号： G01N23/04 , G01N2223/303
摘要： By providing holes (32, 45, 46, 47, 51, 52, 53) in hole groups (31, 41, 42, 43) (generally in a triangular orientation for a range of incremental hole sizes) it is possible to provide an image quality indicator which provides a minimum defect size which can be determined based upon contrast sensitivity and spatial resolution. Each hole (32, 45, 46, 47, 51, 52, 53) has a diameter (d) which is the same as its depth (d) and the three holes (32, 45, 46, 47, 51, 52, 53) in a hole group (31, 41, 42, 43) have a spacing (s) the equivalent of the hole diameter (d) and depth (d). The value of the spacing (s), diameter (d) and depth (d) is defined as a calibration value and is generally a percentage of the material thickness.

5. 发明授权

EP3141187B1 MIRE ET PROCÉDÉ DE CALIBRATION D'UN DISPOSITIF D'IMAGERIE PAR RAYONS X 有权
标题翻译： MIRE ETPROCÉDÉDE CALIBRATION D'UN DISPOSITIF D'IMAGERIE PAR RAYONS X
公开(公告)号：EP3141187B1
公开(公告)日：2017-08-30
申请号：EP16186349.3
申请日：2016-08-30
申请人： Thales
发明人： BERNARD, Guillaume , MURIENNE, Albert
IPC分类号： A61B6/03 , A61B6/00
CPC分类号： G01N23/04 , A61B6/032 , A61B6/583 , A61B6/584 , G01N2223/303

6. 发明公开

EP3173775A1 X-RAY SCATTER SYSTEMS AND METHODS FOR DETECTING STRUCTURAL VARIATIONS 有权
标题翻译：用于检测结构变化的X射线散射体系统和方法
公开(公告)号：EP3173775A1
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：EP16187910.1
申请日：2016-09-08
申请人： The Boeing Company
发明人： ENGEL, James E. , GEORGESON, Gary , SAFAI, Morteza
IPC分类号： G01N23/203 , G01T1/169 , G01T7/00
CPC分类号： G01N23/203 , G01N2223/053 , G01N2223/303
摘要： Embodiments of the present disclosure provide systems (100) and methods (300) for detecting one or more thermal and/or mechanical properties of a structure (112). The method may include forming one or more test structures (120) from a material (122) that forms the structure, generating and storing (302) calibration data determined from the one or more test structures, emitting X-ray radiation into the structure, detecting (306) X-ray scatter (116) from the structure, and determining the one or more properties of the structure based on the detected X-ray scatter and the calibration data.
摘要翻译：本公开的实施例提供用于检测结构（112）的一个或多个热和/或机械特性的系统（100）和方法（300）。该方法可以包括由形成结构的材料（122）形成一个或多个测试结构（120），生成并存储（302）从一个或多个测试结构确定的校准数据，将X射线辐射发射到结构中，从结构检测（306）X射线散射（116），以及基于检测到的X射线散射和校准数据来确定结构的一个或多个属性。

7. 发明公开

EP3129771A1 DISPOSITIF DE MESURE POUR LA CORRECTION DE DEPLACEMENTS PARASITES DANS UN TOMOGRAPHE A RAYONS X 有权转让
标题翻译： MESSVORRICHTUNG ZUR KORREKTUR VONPARASITÄRENBEWEGUNGEN在EINEMRÖNTGENSTRAHLTOMOGRAPHEN
公开(公告)号：EP3129771A1
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：EP15720357.1
申请日：2015-04-07
申请人： Université Grenoble Alpes
发明人： SALAGER, Simon , ANDO, Edward Carlo Giorgio , DESRUES, Jacques
IPC分类号： G01N23/04
CPC分类号： G01N23/046 , G01N2223/303 , G01N2223/309 , G01N2223/42
摘要： The invention concerns a device for measuring parasitic movements in a sample (5) to be analysed in an X-ray tomography apparatus, the device comprising: a source (1) emitting an X-ray beam (6) to a detector (3), the sample, carried by a support (13), being traversed by the beam; and a sight (17) carrying at least three balls (21) that are opaque to X-rays, the sight being attached to said support such that, on the detector, images (25) of the balls are around an image (16) of the sample, the shape and the materials of the sight being chosen such that the positions of the balls relative to the support are insensitive to temperature variations.
摘要翻译：本发明涉及一种用于测量在X射线断层摄影装置中要分析的样品（5）中的寄生移动的装置，该装置包括：源（1）向检测器（3）发射X射线束（6），由支撑件（13）承载的样品被梁横穿; 以及携带至少三个对X射线不透明的球（21）的瞄准镜（17），所述瞄准器附接到所述支撑件，使得在所述检测器上，所述球的图像（25）围绕图像（16）样品的形状和材料被选择为使得球相对于支撑件的位置对温度变化不敏感。

8. 发明公开

EP2787891A1 INSTALLATION DE RADIOGRAPHIE D'UNE CHARGE POUR RÉALISER UNE DÉTECTION ET PROCÉDÉ CORRESPONDANT. 有权
标题翻译： DEVICE放射线摄影负载的检测和相关方法的实施情况
公开(公告)号：EP2787891A1
公开(公告)日：2014-10-15
申请号：EP12795450.1
申请日：2012-12-05
申请人： Smiths Heimann SAS
发明人： DESAUTE, Pascal , DORION, Irène , DUMAY, Nicolas
IPC分类号： A61B6/03 , G01N23/04 , G01V5/00
CPC分类号： G01V5/0066 , G01N23/04 , G01N2223/303 , G01V5/0016
摘要： The invention relates to equipment (1) for the radiography of a load (11) moving relative thereto, in order to perform detection, the radiography equipment including: a source (2) for emitting pulses (16) of divergent X-rays; a collimator (4) for the source for delimiting an incident X-ray beam (22); and sensors (8) for receiving X-rays, which are aligned with the incident beam so as to collect the X-rays after the latter have passed through the load and generate raw image signals. The equipment includes a reference block (6) comprising the intermediate X-ray sensors (28) which are to be located within the incident beam, between the source and the load, so as to be irradiated by at least two separate angular sectors of the incident beam, and which are to output separate reference signals corresponding to each angular sector to be used in the conversion of the raw image signals into a portion of a radiographic image. The invention also relates to a corresponding method.
摘要翻译：本发明涉及一种设备（1）用于负载的移动相对其放射成像（11），所述射线照相设备，包括发散的X射线的发射脉冲的源（2）（16），一个用于源准直器（4）对于事件的限定X射线束（22）和传感器（8），用于接收X射线，其与入射光束对准，以便收集后期后的x射线已经穿过负载传递，并产生原始图像信号。该设备包括：参考块（6）包括在中间的X射线传感器（28），其以位于入射光束内时，源和负载之间，以通过所述至少两个分开的角度扇区被照射入射光束，并且被分开相应于每个角扇区输出参考信号以在原始图像信号的转换可以使用成放射线图像的一部分。因此本发明涉及对应的方法。

9. 发明公开

EP2737852A1 Verfahren zum Erfassen geometrischer Abbildungseigenschaften eines Flachbilddetektors, entsprechend eingerichtete Röntgenprüfanlage und Kalibrierkörper 有权
标题翻译：用于根据已建立和校准检测的平板检测器，X射线检查的几何成像性质方法
公开(公告)号：EP2737852A1
公开(公告)日：2014-06-04
申请号：EP12195054.7
申请日：2012-11-30
申请人： GE Sensing & Inspection Technologies GmbH
发明人： Neuser, Eberhard , Suppes, Alexander , Rothe, Nils , Pokutnev, Pavel
IPC分类号： A61B6/00 , G01N23/04
CPC分类号： G01T7/005 , A61B6/03 , A61B6/4233 , A61B6/5258 , A61B6/583 , A61B6/585 , F04C2270/041 , G01N23/046 , G01N2223/303 , G01N2223/3035 , G01N2223/419
摘要： Ein Verfahren zum Erfassen geometrischer Abbildungseigenschaften eines Flachbilddetektors (12) in einer Röntgenprüfanlage umfasst die Schritte Anordnen eines Kalibrierkörpers (13) zwischen einer Röntgenstrahlungsquelle (11) und dem Flachbilddetektor (12), wobei der Kalibrierkörper (13) mindestens ein diskretes geometrisches Objekt (30) aufweist; Aufnehmen mindestens eines Röntgenbildes des Kalibrierkörpers (13) mit dem Flachbilddetektor (12), wobei in dem Röntgenbild durch Abbildung des mindestens einen diskreten geometrischen Objekts (30) des Kalibrierkörpers (13) mindestens eine diskrete geometrische Figur (32) erzeugt wird; und Ermittlung eines ortsabhängigen Verzeichnungsfehlers des Flachbilddetektors (12) aus dem mindestens einen Röntgenbild auf der Grundlage mindestens eines Merkmals der mindestens einen diskreten geometrischen Figur (32). Sämtliche zur Ermittlung des ortsabhängigen Verzeichnungsfehlers verwendeten Merkmale der mindestens einen diskreten geometrischen Figur (32) sind von den Abmessungen des Kalibrierkörpers (13) unabhängig.
摘要翻译：该确定方法包括记录校准体模（13）与所述平面检测器（12）中的至少一个X射线图像。离散几何形状的X射线图像中由成像校准体模的离散几何对象产生的。基于离散几何形状的特征，从X射线图像的平板检测器的位置相关的失真误差确定性开采。用于确定性采矿位置相关的失真误差离散几何形状的所有特征都是独立的校准体模的尺寸。一个独立的claimsoft被包括用于在X射线检查系统。

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