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1. 发明公开

EP2183543A1 MOTION DETECTION SYSTEM AND METHOD 有权
标题翻译：运动检测系统和方法
公开(公告)号：EP2183543A1
公开(公告)日：2010-05-12
申请号：EP08776638.2
申请日：2008-07-21
申请人： BAR ILAN UNIVERSITY , Universitat DE Valencia
发明人： ZALEVSKY, Zeev , GARCIA, Javier
IPC分类号： G01B9/02
CPC分类号： G01B9/02094 , A61B5/021 , A61B5/024 , G01B9/02083 , G01H9/002
摘要： A method is presented for imaging an object. The method comprises imaging a coherent speckle pattern propagating from an object, using an imaging system being focused on a plane displaced from the object.

2. 发明公开

EP0731335A3 Apparatus and method for non destructive testing of coherent radiation illuminated material 失效
标题翻译：装置和方法用于相干辐射照射材料的非破坏性测试
公开(公告)号：EP0731335A3
公开(公告)日：1997-12-29
申请号：EP96301533
申请日：1996-03-06
申请人： BRITISH AEROSPACE
发明人： PARKER STEVE CARL JAMIESON , SALTER PHILLIP LANGLEY
IPC分类号： G01B9/02 , G01B11/16
CPC分类号： G01B9/02094 , G01B9/02081 , G01B9/02098 , G01B11/162 , G01B2290/45

3. 发明公开

EP0419936A1 Verfahren und Vorrichtung zur Phasenmessung von Strahlung, insbesondere Lichtstrahlung 有权
标题翻译：方法和装置辐射的相位测量，在特定的光辐射。
公开(公告)号：EP0419936A1
公开(公告)日：1991-04-03
申请号：EP90117490.4
申请日：1990-09-11
申请人： Steinbichler, Hans, Dr.
发明人： Steinbichler, Hans, Dr. , Gutjahr, Jörg
IPC分类号： G01J9/00 , G03H1/04
CPC分类号： G01J9/00 , G01B9/02041 , G01B9/02094 , G01J9/02 , G01J9/0215
摘要： Ein Verfahren dient zur direkten Phasenmessung von Strahlung (2), insbesondere Lichtstrahlung, die von einem Körper (3) mit diffus reflektierender Oberfläche (4) reflektiert wird. Damit die Phase in einer einzigen Aufnahme gemessen werden kann, wird der Körper (3) mit kohärenter Strahlung (2) einer vorbestimmten Frequenz bestrahlt. Die reflektierte Strahlung (5) wird von einer Abildungsoptik (6) in eine Bildebene (7) abgebildet, in der sich ein Sensor (8) mit einer Vielzahl von vorzugsweise regelmäßig angeordneten Sensorelementen befindet. Auf den Sensor (8) wird eine Referenzstrahlung (11) mit der gleichen Frequenz mit definierter Phasenlage überlagert. Bei gerichteten Objektstrahlen, wie sie bei spiegelnden oder transparenten Körpern auftreten, wir der Referenzstrahl so eingestellt, daß auf den Sensor eine Periode des durch die Überlagerung von den Objekt- und Referenzstrahlen entstehende Interferenzfeld mindestens drei Sensorelemente überdeckt. Die Abbildungsoptik (6) wird derart ausgebildet bzw. eingestellt, daß die Bilder der durch die Strahlung (2) auf den Körper (3) erzeugten speckles in der Bildebene (7) mindestens drei Sensorelemente überdecken. Aus den Intensitätssignalen der mindestens drei Sensorelemente wird die Phase der Strahlung (5) von dem Körper (3) bestimmt.
摘要翻译：甲方法用于辐射（2），尤其是爱光辐射的直接相位测量，所有这些是由人体反射的（3），其具有漫反射表面（4）。为了能够测量相在单个外科手术中，主体（3）照射规定的频率的相干辐射（2）。反射的辐射（5）由成像（8），其具有优选地规则地排列的传感器元件的多个（6）在图像平面（7），其中布置有传感器的光学系统成像。叠加到所述传感器（8）是具有相同的频率和规定的相位角的基准辐射（11）。在定向物体光束，：如与反射或透明体发生的情况下，参照光束被调整搜索做了周期由物体光束和参考光束的叠加产生的干涉场的覆盖在传感器上的至少三个传感器元件。所述成像光学系统（6）被构造或调整的检查那样通过在所述主体（3）的辐射（2）中产生的斑点的图像覆盖在图像平面中的至少三个传感器元件（7）。从所述主体的辐射（5）的相位（3）确定的从所述信号的至少三个传感器元件的强度开采。

4. 发明授权

EP2183543B1 MOTION DETECTION SYSTEM AND METHOD 有权
公开(公告)号：EP2183543B1
公开(公告)日：2018-09-19
申请号：EP08776638.2
申请日：2008-07-21
申请人： BAR ILAN UNIVERSITY , Universitat de Valencia
发明人： ZALEVSKY, Zeev , GARCIA, Javier
IPC分类号： G01B9/02
CPC分类号： G01B9/02094 , A61B5/021 , A61B5/024 , G01B9/02083 , G01H9/002
摘要： A method is presented for imaging an object. The method comprises imaging a coherent speckle pattern propagating from an object, using an imaging system being focused on a plane displaced from the object.

5. 发明授权

EP0731335B1 Apparatus and method for non destructive testing of coherent radiation illuminated material 失效
标题翻译：装置和方法用于相干辐射照射材料的非破坏性测试
公开(公告)号：EP0731335B1
公开(公告)日：2001-12-05
申请号：EP96301533.4
申请日：1996-03-06
申请人： BAE SYSTEMS plc
发明人： Parker, Steve Carl Jamieson , Salter, Phillip Langley
IPC分类号： G01B9/02 , G01B11/16
CPC分类号： G01B9/02094 , G01B9/02081 , G01B9/02098 , G01B11/162 , G01B2290/45

6. 发明授权

EP0399004B1 INTERFEROMETRY 失效
标题翻译： INTERFEROMETRIE。
公开(公告)号：EP0399004B1
公开(公告)日：1994-11-17
申请号：EP89910144.8
申请日：1989-09-04
申请人： BRITISH TECHNOLOGY GROUP LIMITED
发明人： TYRER, John, Raymond , MENDOZA-SANTOYO, Fernando , KERR, David
IPC分类号： G01J9/02 , G01B9/02
CPC分类号： G01B9/0201 , G01B9/02094
摘要： An interferometric procedure, such as electronic speckle pattern interferometry, involves generating two signals representing the point-by-point variations in intensity of respective patterns of electromagnetic radiation resulting from the interference of first and second beams of such radiation derived from a coherent source, with at least the first beam from each pattern being scattered, before interference with its respective second beam, from a common object surface, and with a corresponding pair of the beams, one for each pattern, having a predetermined relative phase difference of other than a multiple of π; and determining from the two signals values for a datum phase of the radiation at the object surface. Preferably, as a preliminary to this last determination, DC components are removed from the two signals. Conveniently, to simplify the determination, the phase difference is an odd multiple of π/4 or π/2.

7. 发明公开

EP0399004A1 INTERFEROMETRY 失效
标题翻译：干涉。
公开(公告)号：EP0399004A1
公开(公告)日：1990-11-28
申请号：EP89910144.0
申请日：1989-09-04
申请人： NATIONAL RESEARCH DEVELOPMENT CORPORATION
发明人： TYRER, John, Raymond The Hawthorne , MENDOZA-SANTOYO, Fernando 5 Skevington Avenue , KERR, David
IPC分类号： G01B9 , G01J9
CPC分类号： G01B9/0201 , G01B9/02094
摘要： Une procédure interféromètrique, telle que l'interféromètrie électronique de configuration à tavelures, consiste à produire deux signaux représentant les variations point par point de l'intensité de configurations respectives de rayonnement électromagnétique résultant de l'interférence de premier et de second faisceaux d'un tel rayonnement dérivé d'une source cohérente, au moins le premier faisceau provenant de chaque configuration étant diffusé, avant que ne se produise une interférence avec son second faisceau, provenant d'une surface d'objet commune, et une paire correspondante des faisceaux, un pour chaque configuration, ayant une différence de phase relative prédéterminée différente d'un multiple de pi. Elle consiste également à déterminer à partir des deux signaux des valeurs pour une phase de référence du rayonnement à la surface de l'objet. De préférence, et comme préliminaire à cette dernière détermination, on retire les composants de courant continu des deux signaux. Afin de simplifier la détermination, il convient que la différence de phase soit un multiple impair de pi/4 ou pi/2.

8. 发明公开

EP3022523A1 OPTICAL APPARATUS AND METHODS 审中-公开
标题翻译：光学设备和方法
公开(公告)号：EP3022523A1
公开(公告)日：2016-05-25
申请号：EP14753110.7
申请日：2014-07-17
申请人： Cambridge Consultants Limited
发明人： JONES, Robert , NEWMAN, Alfred , BROCK, Martin , GRIFFITHS, Dean, Stuart
IPC分类号： G01B9/02
CPC分类号： G01B9/02094 , G01B9/02098
摘要： Optical apparatus for measuring characteristics of a measurement target comprising an illumination portion, detection portion and processing portion. The illumination portion produces at least one pair of spatially separated areas of illumination for illuminating a measurement target to produce an associated light field. The light field produced by illumination of the measurement target comprises a component corresponding to interference between the areas of illumination, illuminates a first site on the measurement target and illuminates a second site on the measurement target. The detection portion receives light from the measurement target, directs the received light onto a detector, outputs signals from the detector dependent on the intensity of the detected light. The processing portion analyses the signals output by the detecting means to measure the characteristics of the measurement target.
摘要翻译：用于测量包括照明部分，检测部分和处理部分的测量目标的特性的光学设备。照明部分产生至少一对空间分离的照明区域以照亮测量目标以产生相关联的光场。通过照射测量目标而产生的光场包括与照射区域之间的干涉相对应的分量，照射测量目标上的第一部位并照射测量目标上的第二部位。检测部分接收来自测量目标的光，将接收到的光引导到检测器上，根据检测到的光的强度从检测器输出信号。处理部分分析由检测装置输出的信号以测量测量目标的特性。

9. 发明公开

EP0731335A2 Apparatus and method for non destructive testing of coherent radiation illuminated material 失效
标题翻译：装置和方法用于相干辐射照射材料的非破坏性测试
公开(公告)号：EP0731335A2
公开(公告)日：1996-09-11
申请号：EP96301533.4
申请日：1996-03-06
申请人： BRITISH AEROSPACE PUBLIC LIMITED COMPANY
发明人： Parker, Steve Carl Jamieson , Salter, Phillip Langley
IPC分类号： G01B9/02 , G01B11/16
CPC分类号： G01B9/02094 , G01B9/02081 , G01B9/02098 , G01B11/162 , G01B2290/45
摘要： An optical non destructive test apparatus includes a shearing two-armed Mach-Zehnder interferometer device (1) and two separate recording means (2, 3). Four phase shifted laterally displaced speckle pattern images of the material are taken before stressing and four phase shifted laterally displaced speckle pattern images are taken after stressing. The phase change is effected by means of a piezo electric transducer mounted mirror (11) which increments the path length of one of the arms of the device (1). In this way four successive images are generated and recorded on two separate recording means (2, 3) with a single phase step. The four speckle pattern images taken before stressing are used to derive a speckle phase profile as are the four images taken after stressing and the two speckle phase profiles are differenced to reveal the material defects.
摘要翻译：光学非破坏性测试装置包括剪切两名武装马赫 - 策德尔干涉仪装置（1）和两个分开的记录装置（2,3）。四个相移材料的尾盘反弹移位散斑图案图像强调和四个相移尾盘反弹移位散斑图案图像被强调后取出之前会被执行。该相变是由递增装置（1）的臂中的一个的路径长度的压电换能器安装反射镜（11）来实现的。以这种方式四个连续图像被产生并记录在两个分离的记录装置（2,3）与单相步骤。应力之前拍摄的四个斑点图案图像被用来导出散斑相位轮廓是强调和2个光斑相分布是差分以显示材料的缺陷之后拍摄的四个图像。

10. 发明授权

EP0419936B1 Verfahren und Vorrichtung zur Phasenmessung von Strahlung, insbesondere Lichtstrahlung 有权
标题翻译：方法和装置辐射的相位测量，在特定的光辐射。
公开(公告)号：EP0419936B1
公开(公告)日：1994-06-01
申请号：EP90117490.4
申请日：1990-09-11
申请人： Steinbichler, Hans, Dr.
发明人： Steinbichler, Hans, Dr. , Gutjahr, Jörg
IPC分类号： G01J9/00 , G03H1/04
CPC分类号： G01J9/00 , G01B9/02041 , G01B9/02094 , G01J9/02 , G01J9/0215

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