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    • 4. 发明公开
    • METHOD FOR MANUFACTURING MEMS DEVICE
    • VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG EINER MEMS-VORRICHTUNG
    • EP2631939A1
    • 2013-08-28
    • EP11852932.0
    • 2011-05-19
    • Lexvu Opto Microelectronics Technology (Shanghai)
    • MAO, JianhongTANG, Deming
    • H01L21/822B81B7/00
    • B81C1/0015B81B2203/0118B81B2207/07B81C1/00293B81C2201/0109B81C2201/0125B81C2203/0145G01P15/0802G01P2015/0828H03H3/0072
    • A method for manufacturing a micro-electro-mechanical system (MEMS) device is provided. The method comprises: providing a semiconductor substrate, the semiconductor substrate having a metal interconnection structure (100) formed therein (S101); forming a first sacrificial layer (201) on the surface of the semiconductor substrate, the material of the first sacrificial layer is amorphous carbon (S102); etching the first sacrificial layer to form a first recess (301) (S103); covering and forming a first dielectric layer (401) on the surface of the first sacrificial layer (S104); thinning the first dielectric layer by a chemical mechanical polishing (CMP) process, until exposing the first sacrificial layer (S105); forming a micromechanical structure layer (500) on the surface of the first sacrificial layer and exposing the first sacrificial layer (S106), wherein a part of the micromechanical structure layer is connected to the first dielectric layer. The method avoids polishing the amorphous carbon, shortens the period of production, and improves the production efficiency.
    • 提供了一种用于制造微机电系统(MEMS)装置的方法。 该方法包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底具有形成在其中的金属互连结构(100)(S101); 在所述半导体衬底的表面上形成第一牺牲层,所述第一牺牲层的材料为无定形碳(S102); 蚀刻第一牺牲层以形成第一凹部(301)(S103); 覆盖并形成在第一牺牲层的表面上的第一介电层(S104); 通过化学机械抛光(CMP)工艺使第一介电层变薄,直到暴露第一​​牺牲层(S105)为止; 在所述第一牺牲层的表面上形成微机械结构层(500)并暴露所述第一牺牲层(S106),其中所述微机械结构层的一部分连接到所述第一介电层。 该方法避免抛光无定形碳,缩短生产周期,提高生产效率。