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1. 发明授权

EP1249683B1 Procédé de détection de défauts de planéité 有权
标题翻译：一种用于在平面检测缺陷的方法
公开(公告)号：EP1249683B1
公开(公告)日：2004-09-15
申请号：EP02290887.5
申请日：2002-04-09
申请人： VAI CLECIM
发明人： Faure, Jean-Paul , Malard, Thierry
IPC分类号： G01B7/34 , G01B7/287 , G01L5/04
CPC分类号： G01L5/045 , G01B7/345

2. 发明公开

EP1199543A1 Procédé et dispositif de detection de planéité 有权
标题翻译：用于确定平坦度的方法和装置
公开(公告)号：EP1199543A1
公开(公告)日：2002-04-24
申请号：EP01402728.8
申请日：2001-10-19
申请人： VAI CLECIM
发明人： Faure, Jean-Paul , Malard, Thierry
IPC分类号： G01B21/30 , G01B5/28 , G01B7/34 , B21B38/02
CPC分类号： B21B38/02 , B21B1/26 , G01B5/28 , G01B5/285 , G01B21/30
摘要： L'invention a pour objet un procédé de détection de la planéité d'un produit en bande métallique se trouvant à une température élevée, au moyen d'un rouleau de mesure (1) ayant une face externe cylindrique (13) comprenant un secteur angulaire de contact avec la bande et un secteur libre.
Conformément à l'invention, on réalise un refroidissement forcé du rouleau (1) par circulation d'un fluide caloporteur le long d'au moins une partie du secteur libre de la face externe (13) du rouleau (1) et l'on détermine les paramètres déterminant l'efficacité du refroidissement tels que l'angle d'ouverture (B) du secteur de refroidissement, la température et le débit de circulation du fluide caloporteur, de telle sorte que la face externe (13) du rouleau (1) soit ramenée, à chaque tour, à une température d'équilibre déterminée.
L'invention s'applique spécialement au laminage à chaud des métaux ferreux et non ferreux.

3. 发明公开

EP1249683A2 Procédé de détection de défauts de planéité 有权
标题翻译：一种用于在平面检测缺陷的方法
公开(公告)号：EP1249683A2
公开(公告)日：2002-10-16
申请号：EP02290887.5
申请日：2002-04-09
申请人： Vai Clecim
发明人： Faure, Jean-Paul , Malard, Thierry
IPC分类号： G01B7/34 , G01B7/287 , G01L5/04
CPC分类号： G01L5/045 , G01B7/345
摘要： L'invention a pour objet un procédé de détection des défauts latents de planéité dans un produit en bande (2) appliqué sous traction sur un secteur angulaire (A) d'un rouleau de mesure (1) comprenant une pluralité de zones de détection (4) écartées comprenant chacune un capteur (3) d'émission, à chaque tour, d'un signal de mesure ayant une valeur en charge (i) qui est comparée, à chaque tour, avec une valeur de référence, de façon à déterminer, dans chaque zone longitudinale de la bande (2), une information représentative de la contrainte de traction appliquée dans cette zone.
Selon l'invention, on mesure deux valeurs à vide (i 1 , i 2 ) du signal émis par chaque capteur (3), respectivement avant et après le passage de la zone de détection correspondante (4) dans le secteur angulaire (A) d'application de la bande (2) et la valeur de référence (i o ) à laquelle est comparée, à chaque tour, la valeur en charge (i) du signal émis par chaque capteur (3) est obtenue par combinaison desdites valeurs à vide, respectivement antérieure (i 1 ) et postérieure (i 2 ).

4. 发明公开

EP1249683A3 Procédé de détection de défauts de planéité 有权
标题翻译：一种用于在平面检测缺陷的方法
公开(公告)号：EP1249683A3
公开(公告)日：2003-01-29
申请号：EP02290887.5
申请日：2002-04-09
申请人： Vai Clecim
发明人： Faure, Jean-Paul , Malard, Thierry
IPC分类号： G01B7/34 , G01B7/287 , G01L5/04
CPC分类号： G01L5/045 , G01B7/345
摘要： L'invention a pour objet un procédé de détection des défauts latents de planéité dans un produit en bande (2) appliqué sous traction sur un secteur angulaire (A) d'un rouleau de mesure (1) comprenant une pluralité de zones de détection (4) écartées comprenant chacune un capteur (3) d'émission, à chaque tour, d'un signal de mesure ayant une valeur en charge (i) qui est comparée, à chaque tour, avec une valeur de référence, de façon à déterminer, dans chaque zone longitudinale de la bande (2), une information représentative de la contrainte de traction appliquée dans cette zone. Selon l'invention, on mesure deux valeurs à vide (i 1 , i 2 ) du signal émis par chaque capteur (3), respectivement avant et après le passage de la zone de détection correspondante (4) dans le secteur angulaire (A) d'application de la bande (2) et la valeur de référence (i o ) à laquelle est comparée, à chaque tour, la valeur en charge (i) du signal émis par chaque capteur (3) est obtenue par combinaison desdites valeurs à vide, respectivement antérieure (i 1 ) et postérieure (i 2 ).

5. 发明公开

EP1174695A1 Rouleau de mesure de planéité 有权
标题翻译： Rolle zur Messung der Ebenheit
公开(公告)号：EP1174695A1
公开(公告)日：2002-01-23
申请号：EP01401925.1
申请日：2001-07-18
申请人： Vai Clecim
发明人： Perenon, Rémi , Faure, Jean-Paul
IPC分类号： G01L5/04 , G01B5/28 , G01B7/34 , B21B38/02 , G01B5/207 , G01B7/287
CPC分类号： G01B7/345 , B21B38/02 , G01B7/287 , G01L5/045
摘要： L'invention a pour objet un rouleau (1) de mesure de la planéité d'une bande (M) comprenant un corps tubulaire (12) ayant une face externe cylindrique (11) et une pluralité de capteurs comprenant chacun un palpeur (2) monté dans un logement (3) ménagé en creux dans l'épaisseur du corps tubulaire (12) et fermé par une paroi de protection (50) dont les déformations sont mesurées par le palpeur (2).
Conformément à l'invention, chaque logement (3) est fermé par une pièce creuse formant un couvercle (5) comprenant un fond constitué d'une paroi mince (50) élastiquement déformable et une partie périphérique en forme de douille (53) emboîtée sans jeu dans le logement (3) et formant un pied d'encastrement de la paroi mince (50).
摘要翻译：装置包括具有管状主体（12）的圆柱形滚筒（1），沿其安装多个米。每个包括安装在管状体的厚度内的中空壳体（3）中的传感器（2）。每个壳体由中空的盖（5）封闭，中空的盖（5）的底部是薄壁，通过该薄壁检测表面变形。嵌入式插座，无需在外壳中播放，并与薄壁形成平齐的表面。

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