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    • 3. 发明公开
    • DETEKTORANORDNUNG UND ENTSPRECHENDES BETRIEBSVERFAHREN
    • 检测装置和相应的操作方法
    • EP2942812A2
    • 2015-11-11
    • EP15001242.5
    • 2015-04-27
    • Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V.
    • Bähr, AlexanderRichter, RainerSchopper, FlorianTreis, Johannes
    • H01L27/146
    • H01L27/14609H01L27/14641H01L27/14679H04N5/341
    • Die Erfindung betrifft eine Detektoranordnung zur Detektion von Strahlung, insbesondere von Teilchenstrahlung oder elektromagnetischer Strahlung, mit einem Halbleiterdetektor mit mehreren Pixeln zur Detektion der Strahlung. Es wird vorgeschlagen, dass die einzelnen Pixel jeweils ein erstes Subpixel (1) und ein zweites Subpixel (2) aufweisen. Der Halbleiterdetektor ist hierbei umschaltbar zwischen einem ersten Sammelzustand, in dem das erste Subpixel (1) sensitiv und das zweite Subpixel (2) insensitiv ist, so dass strahlungsgenerierte Signalladungsträger im Wesentlichen nur in dem ersten Subpixel (1) gesammelt werden, und einem zweiten Sammelzustand, in dem das zweite Subpixel (2) sensitiv und das erste Subpixel (1) insensitiv ist, so dass die strahlungsgenerierten Signalladungsträger im Wesentlichen nur in dem zweiten Subpixel (2) gesammelt werden. Weiterhin umfasst die Erfindung ein entsprechendes Betriebsverfahren sowie auf dem gleichen Konzept beruhende Detektoranordnungen mit einer höheren Anzahl von Subpixeln pro Pixel.
    • 本发明涉及一种用于检测辐射,特别是粒子辐射或电磁辐射的方法,包括具有多个像素的用于检测辐射的半导体探测器的探测器布置。 所以建议每一个都具有第一子像素(1)和第二子像素(2)的各个像素。 这里所述的半导体检测器是第二收集条件的第一总线状态之间切换,其中,第一子像素(1)敏感,并且所述第二子像素(2)是不敏感的,使得辐射产生的信号载流子基本上只在第一子像素(1)被收集,并且 其中第二子像素(2)不敏感敏感和第一子像素(1),从而使辐射产生的信号载流子被收集仅在第二子像素(2)基本上。 此外,本发明包括基于具有较高数目的每个像素的子像素的相同的概念的检测器阵列的操作的相应方法,以及。