会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 6. 发明公开
    • Integrierter Halbleiterspeicher mit Speicherzellen mit ferroelektrischem Speichereffekt
    • 具有铁电存储器效应的存储单元的集成半导体存储器
    • EP1126470A2
    • 2001-08-22
    • EP01100917.2
    • 2001-01-16
    • Infineon Technologies AG
    • Esterl, RobertHönigschmid, HeinzKandolf, HelmutRöhr, Thomas, Dr.
    • G11C11/22
    • G11C11/22
    • Ein integrierter Halbleiterspeicher weist Speicherzellen (MC) mit ferroelektrischem Speichereffekt auf, die zu Einheiten von Spaltenleitungen (BL1, BL2) und Zeilenleitungen (WL1, WL2) zusammengefaßt sind. Die Speicherzellen (MC) sind jeweils zwischen eine der Spaltenleitungen (BL1) und eine Ladeleitung (PL1) geschaltet. Die Spaltenleitung (BL1) ist an einen Leseverstärker (2) angeschlossen, an dem ein Ausgangssignal (S21) abgreifbar ist, die Ladeleitung (PL1) ist mit einer Treiberschaltung (3) verbunden, durch die die Ladeleitung (PL1) an einem vorgegebenen Potential (V1, GND) anliegt. Die Spaltenleitung (BL1) und die Ladeleitung (PL1) sind in einer inaktiven Betriebsart gemeinsam im Leseverstärker (2) oder in der Treiberschaltung (3) mit einem Anschluß (22) für ein gemeinsames Versorgungspotential (GND) verbunden. Dadurch ist ein relativ schneller Potentialausgleich zwischen den Leitungen (BL1, PL1) möglich. Es kann dadurch eine unbeabsichtigte Veränderung des Speicherzelleninhalts infolge von Störspannungen vergleichsweise gering gehalten werden.
    • 一种集成的半导体存储器具有存储单元(MC)与铁电体存储器的效果,这在列线(BL1,BL2)和行线(WL1,WL2)单元进行了总结。 的存储单元(MC)是各列线(BL1)和充电线(PL1)连接中的一个之间。 列线(BL1)连接到感测放大器(2),其输出信号(S21)可以拾取,充电线(PL1)被连接到一个驱动电路(3),通过该充电线(PL1)为预定电位( V1,GND)施加。 列线(BL1)和充电线(PL1)连接在读出放大器(2)中共同的非活动模式或在具有用于公共电源电位(GND)的端子(22)(3),所述驱动电路。 由此,线(BL1,PL1)之间的相对更快的电位均衡是可能的。 它可以被保持在存储单元中的内容的非预期的变化,由于干扰电压相对较低。
    • 8. 发明公开
    • Verfahren zum Betrieb eines integrierten Speichers
    • 一种操作集成的存储器的方法
    • EP1148512A2
    • 2001-10-24
    • EP01105035.8
    • 2001-03-01
    • Infineon Technologies AG
    • Esterl, RobertHönigschmid, HeinzKandolf, HelmutRöhr, Thomas, Dr.
    • G11C11/22
    • G11C11/22
    • Es wird ein Verfahren zum Betrieb eines integrierten Speichers beschrieben, der Speicherzellen (MC0; MC255) mit jeweils einem Auswahltransistor (T0, T255) und einem Speicherkondensator (C0, C255) mit ferroelektrischem Speichereffekt aufweist. Der Speicher enthält eine Plattenleitung (PL), die über eine Reihenschaltung des Auswahltransistors (T0) und des Speicherkondensators (C0) jeweiliger Speicherzellen (MC0) mit einer der Spaltenleitungen (BLt) verbunden ist. Ein Speicherzugriff wird nach dem sogenannten "Pulsed Plate Concept" durchgeführt. Der zeitliche Ablauf wird dabei so gesteuert, daß in einem Zugriffszyklus der Speicherkondensator (C0) der auszuwählenden Speicherzelle (MC0) jeweils um den gleichen Betrag aufgeladen und entladen wird. So wird eine durch Source-Drain-Leckströme von nicht aktivierten Auswahltransistoren verursachte Abschwächung oder Zerstörung der in den Speicherzellen gespeicherten Information vermieden.
    • (; MC255 MC0)每一个都具有选择晶体管(T0,T255),并具有一个存储电容器(C0,C255)与铁电记忆效应一种用于操作,存储器单元描述的集成存储器的方法。 该存储器包括一个板线(PL),其通过选择晶体管(T0)和相应的存储器单元(MC0)与所述列线(BLT)中的一个的存储电容器(C0)的一个串联电路连接。 一个存储器存取根据“脉冲平板概念”进行。 被控制的定时,使得,在一个存取周期中,存储电容器(C0)将被选择的存储单元(MC0)以相同的量在每种情况下被充电和放电的。 因此,在引起未活化的选择晶体管的源极 - 漏极漏电流的存储器单元所存储的信息的弱化或破坏得以避免。