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1. 发明公开

EP2090918A2 Kalibriervorrichtung und Laser-Scanning-Mikroskop mit einer derartigen Kalibriervorrichtung 有权转让
公开(公告)号：EP2090918A2
公开(公告)日：2009-08-19
申请号：EP09000742.8
申请日：2009-01-21
申请人： Carl Zeiss MicroImaging GmbH
发明人： Netz, Ralf , Bathe, Wolfgang , Kleinschmidt, Werner , Fahlbusch, Ingo , Brehm, Michael
IPC分类号： G02B21/34 , G02B27/32 , G01M11/00 , G02B21/00
CPC分类号： G02B21/34 , G01M11/0264 , G02B21/002 , G02B27/32
摘要： Es besteht die Aufgabe, die Vielfalt der Leistungsfähigkeitstest- und/oder Kalibrieraufgaben bei Laser-Scanning-Mikroskopen zeitsparend mit einfachen Mitteln zu bewältigen.
Eine Kalibriervorrichtung, die zueinander in einer gemeinsamen Fassung fest ausgerichtet eine Fokussieroptik und eine in der Fokalebene der Fokussieroptik angeordnete Teststruktur mit im Auflicht und/oder im Durchlicht nachweisbaren Strukturelementen aufweist, ist in einem Laser-Scanning-Mikroskop derart in den Mikroskop-Strahlengang einschaltbar, dass die Pupille der Fokussieroptik mit der Objektivpupille des Laser-Scanning-Mikroskops zusammenfällt oder in einer dazu konjugierten Ebene liegt.
摘要翻译：设备（1）具有在公共保持器（2）中固定地对准在一起的聚焦透镜（3）和测试结构（4）。测试结构被布置在聚焦透镜的焦平面中，并且包括结构元件，例如，由反射光和/或透射光追踪的光栅元件。测试结构可交换地保留在支架中。照明装置（7） LED和卤素灯被形成用于在聚焦透镜的方向上对测试结构进行射线照相，并保持在保持器中。独立权利要求还包括以下内容：（1）激光扫描显微镜（2）用于确定和校正激光扫描显微镜的激发光束行程和检测光束行程之间的调节条件的方法。

2. 发明授权

EP2090918B1 Kalibriervorrichtung und Laser-Scanning-Mikroskop mit einer derartigen Kalibriervorrichtung 有权转让
标题翻译：校准设备和激光扫描显微镜具有这样的校准装置
公开(公告)号：EP2090918B1
公开(公告)日：2012-04-18
申请号：EP09000742.8
申请日：2009-01-21
申请人： Carl Zeiss MicroImaging GmbH
发明人： Netz, Ralf , Bathe, Wolfgang , Kleinschmidt, Werner , Fahlbusch, Ingo , Brehm, Michael , Steinert, Jörg
IPC分类号： G02B21/34 , G02B27/32 , G01M11/00 , G02B21/00
CPC分类号： G02B21/34 , G01M11/0264 , G02B21/002 , G02B27/32

3. 发明公开

EP2090918A3 Kalibriervorrichtung und Laser-Scanning-Mikroskop mit einer derartigen Kalibriervorrichtung 有权转让
标题翻译：校准设备和激光扫描显微镜具有这样的校准装置
公开(公告)号：EP2090918A3
公开(公告)日：2010-04-28
申请号：EP09000742.8
申请日：2009-01-21
申请人： Carl Zeiss MicroImaging GmbH
发明人： Netz, Ralf , Bathe, Wolfgang , Kleinschmidt, Werner , Fahlbusch, Ingo , Brehm, Michael , Steinert, Jörg
IPC分类号： G02B21/34 , G02B27/32 , G01M11/00 , G02B21/00
CPC分类号： G02B21/34 , G01M11/0264 , G02B21/002 , G02B27/32
摘要： Es besteht die Aufgabe, die Vielfalt der Leistungsfähigkeitstest- und/oder Kalibrieraufgaben bei Laser-Scanning-Mikroskopen zeitsparend mit einfachen Mitteln zu bewältigen.
Eine Kalibriervorrichtung, die zueinander in einer gemeinsamen Fassung fest ausgerichtet eine Fokussieroptik und eine in der Fokalebene der Fokussieroptik angeordnete Teststruktur mit im Auflicht und/oder im Durchlicht nachweisbaren Strukturelementen aufweist, ist in einem Laser-Scanning-Mikroskop derart in den Mikroskop-Strahlengang einschaltbar, dass die Pupille der Fokussieroptik mit der Objektivpupille des Laser-Scanning-Mikroskops zusammenfällt oder in einer dazu konjugierten Ebene liegt.

4. 发明公开

EP2317362A1 Mikroskopisches Verfahren und Mikroskop mit gesteigerter Auflösung 有权转让
标题翻译： Mikroskopisches Verfahren und Mikroskop mit gesteigerterAuflösung
公开(公告)号：EP2317362A1
公开(公告)日：2011-05-04
申请号：EP10013882.5
申请日：2010-10-22
申请人： Carl Zeiss MicroImaging GmbH
发明人： Kleppe, Ingo , Netz, Ralf , Novikau, Yauheni
IPC分类号： G02B21/00
摘要： Verfahren zur Steigerung der Auflösung eines Mikroskops bei der Detektion einer beleuchteten Probe und Mikroskop zur Durchführung des Verfahrens,
wobei in einer ersten Position ein Beleuchtungsmuster auf der Probe erzeugt wird, dessen Auflösung vorzugsweise etwa in der Größenordnung der erreichbaren optischen Auflösung des Mikroskopes oder darüber liegt,
wobei zwischen der Detektion und dem Beleuchtungsmuster mindestens einmal mit einer Schrittweite unterhalb der Auflösungsgrenze des Mikroskops eine Relativverschiebung, vorteilhaft senkrecht zur Beleuchtungsrichtuing, von einer ersten in mindestens eine zweite Position des Beleuchtungsmusters auf der Probe erzeugt wird und sowohl in der ersten als auch in der zweiten Position eine Detektion und Abspeicherung der Detektionssignale erfolgt.
摘要翻译：该方法包括在一个位置产生样品的照明图案。在检测和照射图案之间产生垂直于照明方向的相对移动，步长大小低于显微镜从位置到照明图案的另一位置的分辨率极限。检测信号被存储在两个位置。通过抵消存储的检测信号来产生高分辨率图像，其中图案由样本的点形或线性扫描和点图案或线图案的产生组成。对于由照明灯组成的显微镜也包括独立权利要求。

5. 发明公开

EP2090918A8 Kalibriervorrichtung und Laser-Scanning-Mikroskop mit einer derartigen Kalibriervorrichtung 有权转让
标题翻译：校准设备和激光扫描显微镜具有这样的校准装置
公开(公告)号：EP2090918A8
公开(公告)日：2009-10-14
申请号：EP09000742.8
申请日：2009-01-21
申请人： Carl Zeiss MicroImaging GmbH
发明人： Netz, Ralf , Bathe, Wolfgang , Kleinschmidt, Werner , Fahlbusch, Ingo , Brehm, Michael , Steinert, Jörg
IPC分类号： G02B21/34 , G02B27/32 , G01M11/00 , G02B21/00
CPC分类号： G02B21/34 , G01M11/0264 , G02B21/002 , G02B27/32
摘要： Es besteht die Aufgabe, die Vielfalt der Leistungsfähigkeitstest- und/oder Kalibrieraufgaben bei Laser-Scanning-Mikroskopen zeitsparend mit einfachen Mitteln zu bewältigen.
Eine Kalibriervorrichtung, die zueinander in einer gemeinsamen Fassung fest ausgerichtet eine Fokussieroptik und eine in der Fokalebene der Fokussieroptik angeordnete Teststruktur mit im Auflicht und/oder im Durchlicht nachweisbaren Strukturelementen aufweist, ist in einem Laser-Scanning-Mikroskop derart in den Mikroskop-Strahlengang einschaltbar, dass die Pupille der Fokussieroptik mit der Objektivpupille des Laser-Scanning-Mikroskops zusammenfällt oder in einer dazu konjugierten Ebene liegt.

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