会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 6. 发明公开
    • VERFAHREN ZUR LICHTBLATTMIKROSKOPISCHEN UNTERSUCHUNG EINER PROBE
    • EP3234679A1
    • 2017-10-25
    • EP15795201.1
    • 2015-11-18
    • Carl Zeiss Microscopy GmbH
    • KALKBRENNER, ThomasLIPPERT, HelmutSIEBENMORGEN, Jörg
    • G02B21/00G02B21/10G02B21/16G02B21/36
    • G02B21/367G02B21/0032G02B21/10G02B21/16
    • The invention relates to a method for examining a specimen (1) by means of light sheet microscopy, wherein a plurality of illumination wavelengths is selected, of which examination light for the specimen (1) is composed. For a center wavelength, the modulation depth of a phase-selective element is set at π. A specified phase distribution is applied to the phase-selective element, and a specified aperture structure is applied to an aperture (24) in the aperture plane, which specified aperture structure makes it possible to compose the illumination light of a plurality of illumination wavelengths and thus to illuminate the specimen (1) by means of a light sheet composed of a plurality of colors. For this purpose, a preferred wavelength is selected and, for a light sheet of specified form, the electric field of said light sheet is determined in the focal plane of the illumination objective (10) by means of light of the preferred wavelength. The phase distribution to be specified is calculated therefrom. The phase-selective element is illuminated by means of illumination light and the illumination light is structured by the phase-selective element. The structured illumination light is imaged into an aperture plane and the zeroth orders of the multi-colored, structured light are removed, such that a structured light sheet is formed in a focal plane of an illumination objective (10) arranged downstream, said light sheet having a light sheet plane that lies perpendicular to the focal plane of the illumination objective (10). The specimen (1) is illuminated by means of the structured light sheet in the light sheet plane and light emitted by the specimen is detected in a detection direction that includes an angle with the light sheet plane, which angle is different from zero.
    • 本发明涉及一种借助光片显微镜检查样本(1)的方法,其中选择多个照射波长,其中组成了样本(1)的检查光。 对于中心波长,相位选择元件的调制深度设为π。 对相位选择元件施加指定的相位分布,并且将特定的孔径结构施加到孔径平面中的孔径(24),该孔径结构使得可以组成多个照明波长的照明光,并且 从而借助于由多种颜色组成的光片照亮样本(1)。 为此目的,选择优选的波长,并且对于特定形式的光片,借助于优选波长的光在照明物镜(10)的焦平面中确定所述光片的电场。 由此计算要指定的相位分布。 相位选择元件通过照明光照亮,并且照明光由相位选择元件构成。 结构化照明光被成像到孔平面中,并且去除多色结构光的零阶,使得结构化光片形成在布置在下游的照明物镜(10)的焦平面中,所述光片 具有垂直于照明物镜(10)的焦平面的光片平面。 借助于光片平面中的结构化光片来照射样本(1),并且在包括与光片平面成角度的检测方向上检测样本发出的光,该角度不同于零。
    • 7. 发明公开
    • MIKROSKOP
    • EP3879329A1
    • 2021-09-15
    • EP21173059.3
    • 2010-09-17
    • Carl Zeiss Microscopy GmbH
    • LIPPERT, HelmutWALD, MatthiasGOELLES, MichaelHAUSCHILD, RobertBATHE, Wolfgang
    • G02B26/08G02B21/00G02B21/36
    • Die Erfindung betrifft ein Mikroskop, umfassend eine Beleuchtungseinrichtung (19), mit der ein Lichtblatt zur Beleuchtung eines Probenbereichs (P) erzeugt wird, welches in Richtung einer Beleuchtungsachse (X) eines Beleuchtungsstrahlenganges und in Richtung einer Querachse (Y), welche quer zur Beleuchtungsachse (X) liegt, annähernd flächig ausgedehnt ist, außerdem umfassend eine Detektierungseinrichtung (1), mit der Licht detektiert wird, welches entlang einer Detektierungsachse (Z) eines Detektierungsstrahlengangs aus dem Probenbereich (P) abgestrahlt wird, wobei Beleuchtungsachse (X) und Detektierungsachse (Z) sowie Querachse (Y) und Detektierungsachse (Z) in einem von Null verschiedenen Winkel aufeinander stehen, und wobei die Detektierungseinrichtung außerdem im Detektierungsstrahlengang ein Detektierungsobjektiv (2) umfaßt.
      Bei einem solchen Mikroskop umfaßt die Beleuchtungseinrichtung (19) im Beleuchtungsstrahlengang mindestens ein Beleuchtungsobjektiv (20) und ein von einer Frontlinse des Beleuchtungsobjektivs (20) räumlich getrennt angeordnetes und unabhängig von dieser verstellbares optisches Beleuchtungselement, mittels dessen eine Beleuchtungsfokusebene im Probenbereich (P) und damit eine Taille des Lichtblatts entlang der Beleuchtungsachse (X) stufenlos verschiebbar ist.