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1. 发明授权

EP0508062B1 Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung einer elektrischen Leiteranordnung 失效
标题翻译：用于测试电导体排列的方法和装置。
公开(公告)号：EP0508062B1
公开(公告)日：1995-07-19
申请号：EP92102298.4
申请日：1992-02-12
申请人： atg test systems GmbH , Adaptronic Prüftechnik GmbH
发明人： Prokopp, Manfred , Schen, Alexandr Chanevitsch, Dipl.-Math. , Poskatscheev, Andrey Jurevitsch, Dipl.-Phys. , Janenko, Evgeniy Oktavievitsch, Dipl.-Phys.
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/2805

2. 发明公开

EP0508062A1 Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung einer elektrischen Leiteranordnung 失效
标题翻译： Verfahren und Vorrichtung zurPrüfungeiner elektrischen Leiteranordnung。
公开(公告)号：EP0508062A1
公开(公告)日：1992-10-14
申请号：EP92102298.4
申请日：1992-02-12
申请人： atg test systems GmbH , Adaptronic Prüftechnik GmbH
发明人： Prokopp, Manfred , Schen, Alexandr Chanevitsch, Dipl.-Math. , Poskatscheev, Andrey Jurevitsch, Dipl.-Phys. , Janenko, Evgeniy Oktavievitsch, Dipl.-Phys.
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/2805
摘要： Die Erfindung betrifft ein Verfahren sowie eine Vorrichtung zur Prüfung einer elektrischen Leiteranordnung, insbesondere von Leiterbahnen einer Leiterplatte, auf Kurzschluß und/oder Unterbrechung, wobei Prüfpunkte der Leiteranordnung mittels Meßsonden kontaktiert und die ermittelten Meßergebnisse ausgewertet werden. Es ist vorgesehen, daß die Leiteranordnung mit einem elektrischen Feld beaufschlagt wird und daß mindestens ein aufgrund des elektrischen Feldes sich bildendes elektrisches Potential von den Meßsonden an den einzelnen Prüfpunkten abgenommen und mit dem Potential anderer Prüfpunkte und/oder mit einer Referenz verglichen wird.
摘要翻译：本发明涉及一种用于测试电气导体，特别是电路板的导体轨迹的布置用于短路和/或中断的方法和装置，其中导体布置的测试点通过测试探针并测定测定结果。设置电场施加到导体的布置，并且由测试探针在单个测试点拾取由于电场而形成的至少一个电势被拾取并与其它测试点的电位进行比较，并且 /或参考。 ... ...

3. 发明公开

EP3771911A1 PRÜFVORRICHTUNG FÜR ELEKTRISCHE LEITUNGEN 有权
公开(公告)号：EP3771911A1
公开(公告)日：2021-02-03
申请号：EP19189488.0
申请日：2019-07-31
申请人： Adaptronic Prüftechnik GmbH
发明人： HIESER, Hans-Peter , HABERKORN, Michael
IPC分类号： G01R31/12 , G01R31/16
摘要： Die Erfindung bezieht sich auf eine Prüfvorrichtung (1) zur Prüfung der Isolierung einer elektrischen Leitung (2), insbesondere eines Kabels oder eines Kabelbaumes, zur Detektion von Fehlstellen in der Isolierung der elektrischen Leitung (2). Die Prüfvorrichtung (1) weist eine dicht verschliessbare, evakuierbare Kammer (3) zur vollständigen Aufnahme der zu prüfenden elektrischen Leitung (2) auf, wobei im Inneren der Kammer (3) zumindest eine elektrische Anschlussstelle (6), vorzugsweise in Form eines Steckvorrichtungsteils, zum Anschliessen der zu prüfenden elektrischen Leitung (2) angeordnet ist und von der Anschlussstelle (6) eine elektrische Durchführung (7) aus der Kammer (3) herausführt.

4. 发明公开

EP4004568A1 PRÜFVORRICHTUNG FÜR ELEKTRISCHE LEITUNGEN 审中-实审
公开(公告)号：EP4004568A1
公开(公告)日：2022-06-01
申请号：EP20747143.4
申请日：2020-07-24
申请人： Adaptronic Prüftechnik GmbH
发明人： HIESER, Hans-Peter , HABERKORN, Michael
IPC分类号： G01R31/12 , G01R31/16

5. 发明授权

EP0468153B1 Kontaktierungsvorrichtung für Prüfzwecke 失效
标题翻译：用于测试目的接触设备。
公开(公告)号：EP0468153B1
公开(公告)日：1995-10-11
申请号：EP91107673.5
申请日：1991-05-11
申请人： atg test systems GmbH , Adaptronic Prüftechnik GmbH
发明人： Prokopp, Manfred
IPC分类号： G01R31/28 , G01R1/073
CPC分类号： G01R1/07392 , G01R31/2805

6. 发明公开

EP0468153A1 Kontaktierungsvorrichtung für Prüfzwecke 失效
标题翻译： KontaktierungsvorrichtungfürPrüfzwecke。
公开(公告)号：EP0468153A1
公开(公告)日：1992-01-29
申请号：EP91107673.5
申请日：1991-05-11
申请人： atg test systems GmbH , Adaptronic Prüftechnik GmbH
发明人： Prokopp, Manfred
IPC分类号： G01R31/28 , G01R1/073
CPC分类号： G01R1/07392 , G01R31/2805
摘要： Die Erfindung betrifft eine Kontaktierungsvorrichtung, insbesondere für Prüfzwecke, mit mehren in einem Prüffeld entlang von zwei quer, insbesondere senkrecht, zueinander verlaufenden Koordinaten verfahrbaren Positioniergliedern, die je einen auf eine gewünschte Kontaktstelle eines Prüflings aufsetzbaren Kontaktfinger aufweisen, wobei zwei Kontaktfinger ein Sondenpaar bilden, das Bestandteil eines Prüfstromkreises ist. Insbesondere zur Beschleunigung des Prüfvorgangs wird vorgeschlagen, mehrere Sondenpaare (12) auszubilden, deren Positionierglieder (5) unabhängig voneinander entlang der Koordinaten (x,y) verfahrbar sind.
摘要翻译：本发明涉及一种用于接触元件的装置，特别是用于测试的装置，该装置具有多个定位构件，该定位构件可以沿着相对于彼此横向地，特别垂直地延伸的两个坐标在测试场中移动，接触指，其可以放置在测试样本的期望接触点上，两个接触指形成探针对，其是测试电路的一部分。特别是为了加速测试过程，提出了形成几个探针对（12），定位构件（5）可以沿坐标（x，y）彼此独立地移动。

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