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101. 发明授权

EP0483026B1 Procédé d'analyse aux rayons X de pièces monocristallines 失效
标题翻译：为单晶产品的X射线分析法
公开(公告)号：EP0483026B1
公开(公告)日：1997-01-22
申请号：EP91420373.2
申请日：1991-10-21
申请人： CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS) , INSTITUT MAX VON LAUE - PAUL LANGEVIN
发明人： Bastie, Pierre , Hamelin, Bernard
IPC分类号： G01N23/205 , G01N23/207
CPC分类号： G01N23/207

102. 发明公开

EP0512620A3 X-ray analysis apparatus 失效
标题翻译： X射线分析装置
公开(公告)号：EP0512620A3
公开(公告)日：1995-07-05
申请号：EP92201211.7
申请日：1992-05-04
申请人： Philips Electronics N.V.
发明人： Timmers, Jacob , Delhez, Robbert , Tuinstra, Fokke
IPC分类号： G01N23/207 , G01J3/02 , G21K1/04
CPC分类号： G01N23/20008 , G01J3/02 , G01J3/0237 , G01J3/0289 , G01N23/207 , G01N2223/056 , G01N2223/1016 , G01N2223/102 , G01N2223/305 , G01N2223/306 , G01N2223/316
摘要： An X-ray analysis apparatus comprises a central control device which includes means for recording simulated beam paths in the apparatus, thus enabling correction for the effects of radiation-optical deviations as well as of other deviations in the apparatus or a specimen on detection signals. Such a correction facility allows for construction of an apparatus having a large number of freedoms and hence a universal application.

103. 发明授权

EP0432844B1 X-ray analysis apparatus comprising an adjustable slit diaphragm 失效
标题翻译： X射线分析具有可调狭缝光阑。
公开(公告)号：EP0432844B1
公开(公告)日：1995-03-15
申请号：EP90203223.4
申请日：1990-12-07
申请人： Philips Electronics N.V.
发明人： de Lange, Roelof
IPC分类号： G01N23/20 , G21K1/04
CPC分类号： G01N23/20008 , G01N23/207 , G01N2223/1016 , G01N2223/316 , G21K1/04

104. 发明公开

EP0608288A1 X-RAY DIFFRACTOMETER 失效
标题翻译： X射线衍射仪。
公开(公告)号：EP0608288A1
公开(公告)日：1994-08-03
申请号：EP92921150.0
申请日：1992-10-12
申请人： CAMBRIDGE SURFACE ANALYTICS LIMITED
发明人： SALJE, Ekhard, Karl, Hermann
IPC分类号： G01N23
CPC分类号： G01N23/207
摘要： Un spectrographe à rayons X comprend une source (1) servant à produire un faisceau de rayons X; un détecteur (3) sensible à la position servant à détecter des rayons X diffractés sur un grand angle; et des éléments servant à produire de façon régulée une rotation relative entre le détecteur et le faisceau incident provenant de la source de rayons X. Un porte-échantillon (5) est susceptible de tourner autour de trois axes réciproquement perpendiculaires et peut également faire tourner l'échantillon (14), par rapport au porte-échantillon, autour de deux axes perpendiculaires. Des couches minces ou des substrats examinés peuvent être individuellement alignés, selon des géométries de diffraction choisies, par un tel spectrographe. La source de rayons X elle-même peut tourner autour de l'axe du faisceau de rayons X.

105. 发明公开

EP0527536A3 X-ray analysis apparatus 失效
标题翻译： X射线分析装置
公开(公告)号：EP0527536A3
公开(公告)日：1993-12-15
申请号：EP92202426.0
申请日：1992-08-06
申请人： Philips Electronics N.V.
发明人： van Vlijmen, Stefan Leonard Alfred
IPC分类号： G01N23/207
CPC分类号： G01N23/207
摘要： An X-ray analysis apparatus comprises angle encoders for the determination of angular positions of rotary shafts, for example the 0 shaft for a specimen, the θ shaft of a detector arm or the rotary shaft of a source. Because the angles are directly or indirectly measured relative to a fixed point, preferably coupled to a goniometer frame of the apparatus, accurate angle detection is ensured. The encoders can also be used as adjusting mechanisms for exact, flexible angular adjustment.

106. 发明公开

EP0500339A3 Method and apparatus for detecting a crystallographic axis of a single crystal ingot for "of" determination 失效
标题翻译：用于检测单晶晶体的晶体轴的“测定”的方法和装置
公开(公告)号：EP0500339A3
公开(公告)日：1993-07-28
申请号：EP92301356.9
申请日：1992-02-19
申请人： SHIN-ETSU HANDOTAI COMPANY LIMITED
发明人： Ibe, Hiroyuki , Terashima, Seiichi , Masui, Tsumoru
IPC分类号： G01N23/207
CPC分类号： G01N23/20008 , G01N23/207 , G01N2223/056 , G01N2223/1016 , G01N2223/3306 , G01N2223/604
摘要： A method and an apparatus for detecting a crystallographic axis of a single crystal ingot based on the X-ray diffractometry, wherein and whereby a crystal habit line of the single crystal ingot is optically detected first, and thereafter making use of the geographical relation of the crystallographic axis to the crystal habit line, the crystallographic axis is detected with improved economy of time and labor and with improved precision, so that the orientation flat (OF) is made in the right place and direction.

107. 发明公开

EP0500339A2 Method and apparatus for detecting a crystallographic axis of a single crystal ingot for "of" determination 失效
标题翻译：一种确定单晶锭的晶轴的方法和装置。
公开(公告)号：EP0500339A2
公开(公告)日：1992-08-26
申请号：EP92301356.9
申请日：1992-02-19
申请人： SHIN-ETSU HANDOTAI COMPANY LIMITED
发明人： Ibe, Hiroyuki , Terashima, Seiichi , Masui, Tsumoru
IPC分类号： G01N23/207
CPC分类号： G01N23/20008 , G01N23/207 , G01N2223/056 , G01N2223/1016 , G01N2223/3306 , G01N2223/604
摘要： A method and an apparatus for detecting a crystallographic axis of a single crystal ingot based on the X-ray diffractometry, wherein and whereby a crystal habit line of the single crystal ingot is optically detected first, and thereafter making use of the geographical relation of the crystallographic axis to the crystal habit line, the crystallographic axis is detected with improved economy of time and labor and with improved precision, so that the orientation flat (OF) is made in the right place and direction.
摘要翻译：一种方法和装置，用于检测基于所述X射线衍射法，worin和由此的单晶锭的晶轴的单晶锭的晶体习性线被光学首先检测，并且此后利用的地理关系的结晶轴对晶体习性线，晶轴具有改进的时间和劳动并且具有改进的精度检测到经济，所以没有定向平面（OF）在正确的位置和方向是由。

108. 发明公开

EP0473154A2 System for making an on-line determination of degree of alloying in galvannealed steel sheets 失效
标题翻译：系统zur在geglühtenStahlblechen在线-Mestimmung des Legierungsgrades。
公开(公告)号：EP0473154A2
公开(公告)日：1992-03-04
申请号：EP91114538.1
申请日：1991-08-29
申请人： NISSHIN STEEL CO., LTD.
发明人： Chohata, Kazuaki, c/o Steel R & D Laboratories , Saito, Minoru, c/o Steel R & D Laboratories , Kittaka, Toshiharu, c/o Steel R & D Laboratories , Nagatani, Takeshi, c/o Steel R & D Laboratories , Hirose, Yusuke, c/o Steel R & D Laboratories
IPC分类号： G01N23/207
CPC分类号： C23C2/28 , G01N23/207
摘要： A system for making an on-line determination of the degree of alloying in galvannealed steel sheets are provided, which includes an X-ray tube for generating X-ray, detectors for detecting the X-ray diffraction intensity of the phase and r phase of Fe-Zn intermetallic compounds phases of the galvannealed steel sheet and a detector for detecting the background intensity, all the detectors being located same plane on the surface of the galvannealed steel sheets, and further includes an arithmetic unit for receiving the outputs of the detectors to compute the X-ray diffraction intensities. Preferably, this system includes a detector for detecting the X-ray diffraction intensity of the δ 1 phase.
摘要翻译：提供了一种用于在线测定合金化热镀锌钢板中的合金化度的系统，其包括用于产生X射线的X射线管，用于检测ζ相的X射线衍射强度的检测器和GAMMA相的合金化热浸镀锌钢板的Fe-Zn金属间化合物相和用于检测背景强度的检测器，所有检测器位于合金化热浸镀锌钢板表面的同一平面上，还包括用于接收检测器的输出的运算单元以计算X射线衍射强度。优选地，该系统包括用于检测δ1相的X射线衍射强度的检测器。

109. 发明公开

EP0468609A2 Verfahren zur Untersuchung von einkristallinem Material auf Ausscheidungen von Fremdphasen 失效
标题翻译： Verfahren zur Untersuchung von einkristallinem Material auf Ausscheidungen von Fremdphasen。
公开(公告)号：EP0468609A2
公开(公告)日：1992-01-29
申请号：EP91250204.4
申请日：1991-07-23
申请人： Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY , Hahn-Meitner-Institut Berlin Gesellschaft mit beschränkter Haftung
发明人： Schneider, Jochen , Graf, Hans Anton
IPC分类号： G01N23/207
CPC分类号： G01N23/207
摘要： 57 Bei der Herstellung und Bearbeitung von einkristallinem Material ist es wichtig, Abweichungen von der idealen Kristallstruktur erfassen zu können. Benötigt werden Angaben zur Dichte und mittleren Ausdehnung von Fremdphasen-Ausscheidungen.
Die Durchstrahlung diskreter Kristallbereiche mit Wellen- oder Teilchenstrahlen, Erfassung der Intensitätsverteilung der unter Bragg-Bedingungen gebeugten Strahlen und Bestimmung statischer Debye-Waller-Faktoren soll universell, bei unterschiedlichen Probendicken, mit hoher Auflösung und Flexibilität bezüglich Wellenlängen-Änderungen automatisiert erfolgen. Hierzu werden eine Variation des Einfallswinkels der Strahlen zu den beugenden Netzebenen und die Messung des Reflexionsvermögens mittels eines Photonen- bzw. Teilchen-Detektors ausgeführt und das integrale Reflexionsvermögen R, nt bestimmt. Schwenken der Probe um eine Achse, die senkrecht auf beugenden Netzebenen steht, führt zu einer Variation der Probendicke. R, nt wird in Abhängigkeit von der Probendicke erfaßt. Aus der gemessenen Abhängigkeit, an eine theoretische Funktion angepaßt, ergibt sich der statische Debye-Waller-Faktor und bei Messung mehrerer Beugungsordnungen die Dichte bzw. Zahl sowie die mittlere Ausdehnung der Ausscheidungen.
Wichtige Anwendungen liegen in der in-situ Bestimmung von Fremdphasen-Ausscheidungen, in Untersuchungen von Si-Wafern, die ortsabhängig nach Dichte und Größe von Si0 2 -Ausscheidungen karthographiert werden können, und dergleichen.
摘要翻译：在生产和加工单晶材料时，重要的是能够检测到与理想晶体结构的偏差。需要关于外相沉淀物的密度和平均程度的信息。 ... <？>目的是自动执行具有波或粒子束的离散晶体区域的照射，在布拉格条件下衍射的光束的强度分布的测量以及对于不同样品厚度普遍地确定静态德拜沃勒因子相对于波长变化具有高分辨率和灵活性。为此，光束相对于衍射晶格面的入射角变化，用光子或粒子检测器测量反射率，并确定积分反射率Rint。围绕垂直于衍射晶格面的轴旋转样品导致样品厚度的变化。 Rint作为样品厚度的函数进行测量。当与理论函数匹配时，测量的依赖性产生静态德拜沃勒因子，并且如果测量出几个衍射级，则沉淀物的密度或数量和平均程度。 ...重要的应用是在Si晶片的研究中的外来析出物的原位测定，其可以根据SiO 2沉淀物的密度和尺寸等在位置上进行拓扑图的映射。 ... ...

110. 发明授权

EP0183043B1 Einrichtung zur Röntgenanalyse 失效
标题翻译： X射线分析装置
公开(公告)号：EP0183043B1
公开(公告)日：1989-09-27
申请号：EP85113344.7
申请日：1985-10-21
申请人： SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
发明人： Kraeft, Uwe, Dipl.-Min.
IPC分类号： G01N23/207 , G01N23/223
CPC分类号： G01N23/207 , G01N23/223 , G01N2223/076

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