专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明公开

CN105628979A 一种表征集料与沥青粘附作用的方法无效
公开(公告)号：CN105628979A
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：CN201610113831.9
申请日：2016-02-29
申请人：东南大学
发明人：杨军 , 廖辉 , 龚明辉
IPC分类号： G01Q60/28
CPC分类号： G01Q60/28
摘要：本发明涉及一种表征集料与沥青粘附作用的方法，其特征在于包括如下步骤：步骤1：将沥青放入烘箱中，加热至液态，基质沥青加热至120℃，改性沥青加热至160℃；步骤2：取少量沥青滴于标准尺寸的载玻片(1)一端，并放回烘箱中约10分钟，便于沥青充分散开，形成平整的沥青试样(2)；步骤3：将试样取出冷却至室温，用于试验；步骤4：选择合适的探针(3)并进行校准；步骤5：规定试样中间一块40μm×40μm的正方形区域为扫描区域，并选取正方形区域内的九个测试点；步骤6：利用原子力显微镜设备对测试点逐一测量粘附力，并计算粘附功。得到的试验指标可用于比较不同种类沥青与集料的粘附性能的好坏以及作为粘附性要求的规范标准。

2. 发明公开

CN106841687A 采用开尔文探针力显微镜进行多参数同步测量的方法有权
公开(公告)号：CN106841687A
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201710093432.5
申请日：2017-02-21
申请人：哈尔滨工业大学
发明人：谢晖 , 张号 , 孟祥和 , 宋健民
IPC分类号： G01Q60/30 , G01Q60/28 , G01Q60/24
CPC分类号： G01Q60/30 , G01Q60/24 , G01Q60/28
摘要：采用开尔文探针力显微镜进行多参数同步测量的方法，涉及表面形貌、力学特性和表面局部电势的测量技术，目的是为了解决传统的开尔文探针力显微镜无法实现样品的表面形貌、力学特性和表面局部电势的同步表征的问题。本发明的导电探针始终保持上下往复移动，在一个运动周期内，导电探针和样品之间的最大相互作用力达到设定值对应的时间点为B点，在B点测量表面形貌图像；电探针从样品表面脱离时为C点，在B点和C点之间利用DMT模型得到等效杨氏模量图像；导电探针和样品脱离后继续上升至设定高度并保持一段时间，在该时间段内测量导电探针和样品之间的表面电势差。本发明适用于样品的表面形貌、力学特性和表面局部电势的测量。

3. 发明公开

CN109142795A 一种基于原子力显微镜的粘滞力比较方法有权
公开(公告)号：CN109142795A
公开(公告)日：2019-01-04
申请号：CN201811286078.9
申请日：2018-10-31
申请人：国网山东省电力公司电力科学研究院 , 国家电网有限公司
发明人：李文静 , 王晓明 , 李辛庚 , 姜波 , 张振岳 , 王蝶 , 樊志斌 , 赵洺哲 , 闫风洁 , 郭凯 , 吴亚平 , 宗立君 , 米春旭
IPC分类号： G01Q60/28
CPC分类号： G01Q60/28
摘要：本发明公开了一种基于原子力显微镜的粘滞力比较方法，属于原子力显微镜粘滞力测量技术领域。包括如下步骤：(1)清洗基体；(2)制备样品：在经过步骤(1)清洗的基体上设有首尾连接的N个样品，N为大于或等于2的自然数，得到待比较样品；(3)粘滞力图像的测量：用原子力显微镜的adhesion通道对经过步骤(2)得到的待比较样品扫描测量，得到adhesion图像，从adhesion图像观察待比较样品的粘滞力大小。本发明能够利用原子力显微镜，简单、快速、直观地比较出不同样品与针尖之间的粘滞力大小，降低数据处理工作量，省时省力。

4. 发明公开

CN107064564A 悬臂装置、检查装置、分析表面的方法和微图案形成方法有权
公开(公告)号：CN107064564A
公开(公告)日：2017-08-18
申请号：CN201710061606.X
申请日：2017-01-26
申请人：三星电子株式会社 , 韩国科学技术院
发明人：李京美 , 朴贞珠 , 李时镛 , 金垠成 , 权承哲 , 金尚郁 , 崔荣珠
IPC分类号： G01Q60/38 , H01L21/66
CPC分类号： G01Q60/28 , G01Q60/42 , H01L21/67288 , H01L27/10876 , H01L27/10885 , H01L27/10888 , H01L28/00 , G01Q60/38 , H01L22/12
摘要：本发明提供了形成微图案的方法、基板表面检查装置、用于原子力显微镜的悬臂装置、分析半导体基板的表面的方法、以及探针尖端。该形成微图案的方法包括在半导体基板上形成钉扎图案；在钉扎图案之间的间隔中形成中性图案层；以及通过使用原子力显微镜(AFM)检查引导层的表面，该引导层包括钉扎图案和中性图案层。

5. 发明申请

WO2011121097A2 METHOD AND DEVICE FOR ANALYSING MOLECULAR BONDS 审中-公开
标题翻译：方法和设备进行调查分子键
公开(公告)号：WO2011121097A2
公开(公告)日：2011-10-06
申请号：PCT/EP2011055062
申请日：2011-03-31
申请人： UNIV MUENCHEN TECH , GEISLER MICHAEL , HUGEL THORSTEN , NETZ ROLAND
发明人： GEISLER MICHAEL , HUGEL THORSTEN , NETZ ROLAND
IPC分类号： G01Q60/28
CPC分类号： G01Q60/42 , C12Q1/6816 , G01Q60/28 , C12Q2565/601
摘要： A scanning force microscope (1) is used for a measurement process in order to analyse the molecular bond to a probe molecule (5) of individual molecules which are in a solution. To this end, the bond parameters can be determined for the adsorbed state of the probe molecule (5), wherein the probe molecule (5) is adsorbed on an adsorption surface (7), or for a desorbed state of the probe molecule (5).
摘要翻译：原子力显微镜（1）用于测定的方法来研究的分子结合，在溶液中单分子可用的探针分子（5）。结合参数可以为探针（5），其中，所述探针分子吸附在吸附面（7）（5）的吸附状态来确定，或者对于所述探针的解吸状态（5）。

6. 发明申请

WO2006097800A2 METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING MATERIAL PROPERTIES 审中-公开
标题翻译：用于确定材料性质的方法和装置
公开(公告)号：WO2006097800A2
公开(公告)日：2006-09-21
申请号：PCT/IB2006000274
申请日：2006-02-10
申请人： UNIV KARLSRUHE TH FORSCHUNGSUN , SCHIMMEL THOMAS , MUELLER MATTHIAS
发明人： SCHIMMEL THOMAS , MUELLER MATTHIAS
IPC分类号： G01Q10/00 , G01Q60/24 , G01Q60/26 , G01Q60/28
CPC分类号： G01Q60/26 , G01Q60/28
摘要： A method of determining material properties of a contact formed between a measurement tip (3) of a microscopic probe (2) and a sample surface (7) of a sample material (6). According to the method, a distance modulation (DM) is applied for modulating a distance (d) between a support (4) of the microscopic probe (2) end the sample surface (7) in a direction (z) essentially normal to the sample surface (7) and wherein a normal force signal indicative of a normal force is measured and demodulated. In said method it is proposed that said material properties be determined using measurement data comprised in the demodulated normal force signal and related to a (concave) buckling deformation of the microscopic probe (2) relative to and away from the sample surface (7).
摘要翻译：确定在微观探针（2）的测量端（3）和样品材料（6）的样品表面（7）之间形成的接触材料性质的方法。根据该方法，施加距离调制（DM）以在基本上垂直于样品表面（7）的方向（z）处调制位于样品表面（7）的微观探针（2）的支撑体（4）之间的距离（d）样品表面（7），并且其中测量和解调表示法向力的法向力信号。在所述方法中，建议使用包含在解调的法向力信号中并与微观探针（2）相对于和远离样品表面（7）的（凹））屈曲变形相关的测量数据来确定所述材料特性。

7. 发明授权

EP3460489B1 PROCÉDÉ DE COMMANDE D'UNE SONDE 有权
公开(公告)号：EP3460489B1
公开(公告)日：2024-07-03
申请号：EP18196608.6
申请日：2018-09-25
IPC分类号： G01Q60/28 , G01Q60/30
CPC分类号： G01Q60/28 , G01Q60/30

8. 发明公开

EP1535020A2 VERFAHREN ZUR BESTIMMUNG TRIBOLOGISCHER EIGENSCHAFTEN EINER PROBENOBERFL CHE MITTELS EINES RASTERKRAFTMIKROSKOPS (RKM) SOWIE EIN DIESBEZ GLICHES RKM 审中-公开
标题翻译：用于确定的原子力显微镜的摩擦学PROBENOBERFL CHE装置（AFM）和性能的方法的diesbez GLICHES RKM
公开(公告)号：EP1535020A2
公开(公告)日：2005-06-01
申请号：EP03792324.0
申请日：2003-08-14
申请人： Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung
发明人： REINSTÄDTLER, Michael , RABE, Ute , ARNOLD, Walter
IPC分类号： G01B7/00
CPC分类号： G01Q60/28 , G01H3/00 , G01N29/22 , G01N29/346 , G01N2291/02827 , G01N2291/101 , G01Q60/26
摘要： The invention concerns a method for examining the surface of samples using a scanning microscope (SEM) comprising a flexible beam with longitudinal extension, whereof the longitudinal measuring tip is arranged precisely relative to a sample surface by means of a fixing device, the spatial position of said measuring tip being sensed by a sensing unit. The microscope is further equipped with at least one ultrasound generator which initiates an oscillation at a give excitation frequency between the sample surface and the flexible beam, whereof the measuring tip is in contact with the sample surface, such that the oscillations imparted to the measuring tip are oriented laterally to the sample surface and perpendicularly to the length of the flexible beam. The torsional oscillations of the flexible beam are sensed and analyzed by means of an evaluation unit. The invention is characterized in that the generation of oscillations is such that the oscillations produced by the measuring tip have a higher harmonic vibration relative to the excitation frequency, the oscillation generation is produced at amplitudes which provoke torsional amplitudes in the flexible beam. Those torsional amplitudes have maximum values which form a substantially constant plateau, even when the torsional amplitudes increase, and, in the range of maximum values, said torsional amplitudes have resonance spectra which develop a dispersion capable of being determined by a plateau width. The method for examining a sample surface consists in using the resonance spectra and, preferably, the plateau value, the plateau width and/or the corresponding resonance spectra increase.

9. 发明申请

US20100313644A1 NOVEL CHARACTERIZATION TOOLS FOR TONER ADHESION AND ADHESION DISTRIBUTION 有权
标题翻译：用于粘合剂粘合和粘合分布的新型特征工具
公开(公告)号：US20100313644A1
公开(公告)日：2010-12-16
申请号：US12482154
申请日：2009-06-10
申请人： Kock-Yee LAW , Grazyna E. KMIECIK-LAWRYNOWICZ , Weiqiang DING , Cetin CETINKAYA
发明人： Kock-Yee LAW , Grazyna E. KMIECIK-LAWRYNOWICZ , Weiqiang DING , Cetin CETINKAYA
IPC分类号： G01N19/04 , G03G15/08
CPC分类号： G01Q60/28
摘要： A system, method and device for measuring toner performance by randomly applying a toner sample having toner particles to a substrate, and positioning the substrate such that a force may be applied to individual particles of the measuring toner. A rolling resistance or rotation of the individual particles of the measuring toner is measured. The measurements may be analyzed to determine adhesion and distribution properties of individual toner particles of the measuring toner sample.
摘要翻译：一种用于通过将具有调色剂颗粒的调色剂样品随机施加到基底来测量调色剂性能的系统，方法和装置，并且将基底定位成可以将力施加到测量调色剂的各个颗粒上。测量测量调色剂的各个颗粒的滚动阻力或旋转。可以分析测量以确定测量调色剂样品的各个调色剂颗粒的粘附和分布特性。

10. 发明申请

US20100011472A1 Apparatus And Method For The Detection Of Forces In The Sub-Micronewton Range 失效
标题翻译：在亚微米范围内检测力的装置和方法
公开(公告)号：US20100011472A1
公开(公告)日：2010-01-14
申请号：US12497364
申请日：2009-07-02
申请人： Thorsten Hugel , Michael Geisler
发明人： Thorsten Hugel , Michael Geisler
IPC分类号： G01N13/10 , G12B21/02
CPC分类号： G01N33/54373 , G01Q30/04 , G01Q60/28 , G01Q60/42
摘要： A force microscope for the detection of forces in the sub-micronewton range has a measurement head which is used to carry out a relative movement with respect to a sample holder and to which a carrier molecule is attached on which probe molecules are placed.
摘要翻译：用于检测亚微米范围内的力的力显微镜具有测量头，该测量头用于相对于样品保持器进行相对运动，并且载置分子附着在其上放置探针分子。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式