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1. 发明申请

WO2011123964A1 ABGLEICH VON POSITRONEN EMISSIONS TOMOGRAPHEN UNTER VERWENDUNG EINES VIRTUELLEN TOMOGRAPHEN 审中-公开
标题翻译： BALANCE排放正电子断层扫描仪使用虚拟断层扫描
公开(公告)号：WO2011123964A1
公开(公告)日：2011-10-13
申请号：PCT/CH2011/000074
申请日：2011-04-07
申请人： UNIVERSITÄT BERN , UNIVERSITÄTSKLINIK FÜR NUKLEARMEDIZIN , WEITZEL, Thilo
发明人： WEITZEL, Thilo
IPC分类号： G06T5/00 , G06T11/00
CPC分类号： G06T7/0012 , A61B6/037 , A61B6/583 , G06T5/003 , G06T11/008 , G06T2207/10081 , G06T2207/10104
摘要： Die Positronen-Emissions-Tomographie, gegebenenfalls in Kombination mit Computer-Tomographie, erlaubt neben der medizinisch diagnostischen Bildgebung die quantitative Bestimmung verschiedener Parameter. Quantitative Messungen unter Verwendung von Tomographen zeigen eine starke und unvermeidliche Abhängigkeit von den Abbildungseigenschaften des jeweiligen Tomographen, was eine quantitative Bewertung der Ergebnisse erschwert. Dies betrifft insbesondere multi-zenfrische medizinische Studien, welche eine quantitative Vergleichbarkeit der von den teilnehmenden Zentren gemessenen Daten zwingend voraussetzen. Die hier beanspruchten Verfahren umfassen die Definition eines virtuellen Tomographen mit festgelegten Abbildungseigenschaften. Die beanspruchten Verfahren umfassen weiter eine Bestimmung der Abbildungseigenschaften unterschiedlicher Tomographen ausgehend von geeigneten Referenzmessungen und gegebenenfalls unter Verwendung eines Eichphantoms. Ausgehend von der Definition des virtuellen Tomographen sowie der Bestimmung der Abbildungseigenschaften unterschiedlicher Tomographen erlauben die erfindungsgemässen Verfahren dann eine Umrechnung und in der Folge einheitliche und quantitativ vergleichbare Darstellung der von den unterschiedlichen Tomographen oder Systemen aufgenommen Bilddaten so, als wären alle Messungen gleichermassen durch das virtuelle System erfolgt. Das erfindungsgemässe Verfahren unterstützt damit die quantitative Auswertung von Bilddaten in multi-zentrischen Studien.
摘要翻译：正电子发射断层扫描，任选地与计算机断层造影组合，不仅允许医疗诊断成像的各种参数的定量测定。利用断层摄影术定量测量显示出强大的和不可避免根据扫描仪，这使得结果的定量评估的成像特性。这尤其涉及多zenfrische医学研究需要从参与中心的数据必须测量的定量比较。目前要求保护的方法包括用规定的摄像特性的虚拟扫描器的定义。所要求保护的方法，还包括不同的断层摄影从合适的参考测量和任选使用校准体模的开始成像特性的确定。从虚拟扫描器的定义开始，并确定不同断层摄影的成像特性，本发明方法允许随后的转化，因此，均匀地和定量地相似表示中的不同断层摄影或系统的图像数据记录为，如果同样通过该虚拟机的所有测量发生。所以，本发明的方法支持在多中心研究的图像数据的定量评价。

2. 发明授权

EP2556489B1 ABGLEICH VON POSITRONEN EMISSIONS TOMOGRAPHEN UNTER VERWENDUNG EINES VIRTUELLEN TOMOGRAPHEN 有权转让
标题翻译： BALANCE排放正电子断层扫描仪使用虚拟断层扫描
公开(公告)号：EP2556489B1
公开(公告)日：2014-01-29
申请号：EP11720001.4
申请日：2011-04-07
申请人： Universität Bern , Universitätsklinik Für Nuklearmedizin
发明人： WEITZEL, Thilo
IPC分类号： G06T5/00 , G06T11/00
CPC分类号： G06T7/0012 , A61B6/037 , A61B6/583 , G06T5/003 , G06T11/008 , G06T2207/10081 , G06T2207/10104
摘要： Positron emission tomography, possibly in combination with computed tomography, allows in addition to medical diagnostic imaging the quantitative determination of various parameters. Quantitative measurements using tomographs exhibit a severe and unavoidable dependency on the imaging properties of the respective tomograph, which makes quantitative assessment of the results difficult. This relates particularly to multicentric medical studies, which obligatorily require quantitative comparability of the data measured by the participating centers. The methods claimed herein include the definition of a virtual tomograph with defined imaging properties. The claimed methods also cover determination of the imaging properties of different tomographs on the basis of suitable reference measurements and possibly by using a calibration phantom. Based on the definition of the virtual tomograph and the determination of the imaging properties of different tomographs, the methods according to the invention then allow conversion and subsequently standardized and quantitatively comparable representation of the image data recorded by the different tomographs or systems as if all measurements were acquired equally by the virtual system. The method according to the invention therefore supports the quantitative evaluation of image data in multicentric studies.

3. 发明公开

EP2556489A1 ABGLEICH VON POSITRONEN EMISSIONS TOMOGRAPHEN UNTER VERWENDUNG EINES VIRTUELLEN TOMOGRAPHEN 有权转让
标题翻译： BALANCE排放正电子断层扫描仪使用虚拟断层扫描
公开(公告)号：EP2556489A1
公开(公告)日：2013-02-13
申请号：EP11720001.4
申请日：2011-04-07
申请人： Universität Bern , Universitätsklinik Für Nuklearmedizin
发明人： WEITZEL, Thilo
IPC分类号： G06T5/00 , G06T11/00
CPC分类号： G06T7/0012 , A61B6/037 , A61B6/583 , G06T5/003 , G06T11/008 , G06T2207/10081 , G06T2207/10104
摘要： Positron emission tomography, possibly in combination with computed tomography, allows in addition to medical diagnostic imaging the quantitative determination of various parameters. Quantitative measurements using tomographs exhibit a severe and unavoidable dependency on the imaging properties of the respective tomograph, which makes quantitative assessment of the results difficult. This relates particularly to multicentric medical studies, which obligatorily require quantitative comparability of the data measured by the participating centers. The methods claimed herein include the definition of a virtual tomograph with defined imaging properties. The claimed methods also cover determination of the imaging properties of different tomographs on the basis of suitable reference measurements and possibly by using a calibration phantom. Based on the definition of the virtual tomograph and the determination of the imaging properties of different tomographs, the methods according to the invention then allow conversion and subsequently standardized and quantitatively comparable representation of the image data recorded by the different tomographs or systems as if all measurements were acquired equally by the virtual system. The method according to the invention therefore supports the quantitative evaluation of image data in multicentric studies.

4. 发明申请

WO2003060422A2 INTERFEROMETRISCHE OPTISCHE ANORDNUNG 审中-公开
标题翻译：干涉测量光学装置
公开(公告)号：WO2003060422A2
公开(公告)日：2003-07-24
申请号：PCT/EP2003/000568
申请日：2003-01-21
申请人： SCINEX AG , WEITZEL, Thilo
发明人： WEITZEL, Thilo
IPC分类号： G01B
CPC分类号： G01B9/02081 , G01B9/02022 , G01B11/22 , G01B2290/30 , G01B2290/70
摘要： Die vorliegende Erfindung betrifft eine spektral dispersive interferometrische optische Vorrichtung mit einer Lichtquelle, Mitteln zur Erzeugung einer Phasenverschiebung, Mitteln zur Messung der Intensität der Interferenzsignale, Mitteln zur selektiven Messung der Intensität des Interferenzsignals und Mitteln zur Bestimmung der Phasenwinkel und/oder einer relativen Phasenverschiebung der Intensität der Interferenzsignale. Erfindungsgemäß umfassen die Mittel zur Erzeugung einer Phasenverschiebung zwischen Komponenten unterschiedlicher Polarisationsrichtung in mindestens einem der Zweige des Interferometers ein Beugungsgitter. Die Mittel zur selektiven Messung der Intensität des Interferenzsignals in Abhängigkeit von der Polarisation erlauben darüber hinaus eine Bestimmung der jeweiligen Intensität für die TE-und TM-Komponenten des Interferenzsignals bezogen auf das Koordinatensystem des Beugungsgitters.
摘要翻译：本发明涉及包括光源的光谱色散干涉光学装置，用于产生相移的装置，用于测量干扰信号的强度的装置，用于选择性地测量干扰信号的强度和用于确定所述相角和/或强度的相对相移干扰信号。根据本发明，用于产生在所述干涉仪的分支中的至少一个不同偏振方向的分量之间的相移的装置，一个衍射光栅。对于在偏振波依赖性的干扰信号的强度的选择性测量的装置还允许基于衍射光栅的坐标系上的干扰信号的TE与TM分量的各自的强度的确定。

5. 发明申请

WO2003060422A3 INTERFEROMETRISCHE OPTISCHE ANORDNUNG 审中-公开
公开(公告)号：WO2003060422A3
公开(公告)日：2003-07-24
申请号：PCT/EP2003/000568
申请日：2003-01-21
申请人： SCINEX AG , WEITZEL, Thilo
发明人： WEITZEL, Thilo
IPC分类号： G01B9/02
摘要： Die vorliegende Erfindung betrifft eine spektral dispersive interferometrische optische Vorrichtung mit einer Lichtquelle, Mitteln zur Erzeugung einer Phasenverschiebung, Mitteln zur Messung der Intensität der Interferenzsignale, Mitteln zur selektiven Messung der Intensität des Interferenzsignals und Mitteln zur Bestimmung der Phasenwinkel und/oder einer relativen Phasenverschiebung der Intensität der Interferenzsignale. Erfindungsgemäß umfassen die Mittel zur Erzeugung einer Phasenverschiebung zwischen Komponenten unterschiedlicher Polarisationsrichtung in mindestens einem der Zweige des Interferometers ein Beugungsgitter. Die Mittel zur selektiven Messung der Intensität des Interferenzsignals in Abhängigkeit von der Polarisation erlauben darüber hinaus eine Bestimmung der jeweiligen Intensität für die TE-und TM-Komponenten des Interferenzsignals bezogen auf das Koordinatensystem des Beugungsgitters.

6. 发明申请

WO2010083847A1 VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR BESTIMMUNG VON OPTISCHEN WEGLÄNGEN 审中-公开
标题翻译：装置和方法用于确定光路长度
公开(公告)号：WO2010083847A1
公开(公告)日：2010-07-29
申请号：PCT/EP2009/000327
申请日：2009-01-20
申请人： WEITZEL, Thilo
发明人： WEITZEL, Thilo
IPC分类号： G01N21/47 , G01B9/02
CPC分类号： G01N21/4795 , A61B5/0059 , A61B5/0066 , A61B5/7207 , G01B9/02004 , G01B9/02032 , G01B9/02079 , G01B9/02091 , G01B2290/45 , G01N21/39 , G01N2021/1787
摘要： Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung von optischen Weglängendifferenzen bzw. zur optischen Kohärenz Tomograhie mit den Schritten: Erzeugung von räumlich kohärentem Licht durch eine Lichtquelle (SQ, BQ), welche einen räumlichen Monomode abstrahlt oder deren Abstrahlung durch geeignete Mittel (F) auf einen einzelnen räumlichen Mode beschränkt wird, Aufteilung zumindest eines Teils des von der genannten Lichtquelle kommenden Lichtes in zwei räumlich getrennte Pfade, Platzierung einer zu vermessenden Probe (P) im Messpfad, Verwendung von wenigstens zwei Detektoren (D) bzw. von einem Detektor (D, A) mit mindestens zwei Detektorelementen (D) und weitere Mittel (S, T, BP, F, Q, L, G, Z) zur Strahlführung, welche Licht aus einem Referenzpfad und einem Messpfad an den Detektoren/Detektorelementen (D) zusammenführen und zur Interferenz bringen, Aufnahme und Auswertung der Lichtintensitäten an den Detektoren/Detektorelementen (D) um einen Datensatz zu erhalten und numerische Auswertung und Darstellung des Datensatzes derart, dass Rückschlüsse auf sowohl räumliche Position als auch Stärke der Reflektion bzw. Streuung der Probe (P) bzw. der Strukturen im inneren der Probe (P) möglich werden.
摘要翻译：本发明涉及一种用于光路长度或光学相干Tomograhie的包括的步骤的测定方法：由光源（SQ，BQ），其辐射的空间单模或通过合适的手段自己产生辐射的空间相干光（F）限于单个空间模式，分配从发出的光的至少一部分所述光源光转换成两个空间分离的路径，将样品放置到使用至少两个检测器（D）或（由探测器D来测量（P）在测量路径，，一个）合并（具有至少两个探测器元件D），和另外的装置（S，T，BP，F，Q，L，G，Z）用于引导光束，参考路径的光，并在检测器/检测器元件（测量路径D）并带来干扰，录制并在检测器/探测器元件分析的光强度（D）以接收数据组 n和数值分析和数据以这样的方式即关于样品（P）的反射或散射的两个空间位置和强度，或在样品（P）的内部结构的结论是可能的设定的呈现。

7. 发明申请

WO2004008092A1 VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR OPTISCHEN SPEKTROSKOPIE UND OPTISCHEN SENSORIK SOWIE VERWENDUNG DER VORRICHTUNG 审中-公开
标题翻译： DEVICE AND METHOD FOR光学，光谱学与光学传感器和设备的使用
公开(公告)号：WO2004008092A1
公开(公告)日：2004-01-22
申请号：PCT/EP2002/007861
申请日：2002-07-15
申请人： CAMPUS TECHNOLOGIES AG , WEITZEL, Thilo
发明人： WEITZEL, Thilo
IPC分类号： G01J3/453
CPC分类号： G01J3/453
摘要： Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zur optischen Spektroskopie und optischen Sensorik sowie die Verwendung der Vorrichtung.Eine Vorrichtung mit hoher spektraler Auflösung bei gleichzeitig vergleichsweise geringen Ansprüchen an die Qualität der optischen Komponenten wird dadurch geschaffen, dass die Vorrichtung zur optischen Spektroskopie Mittel zur Erzeugung eines Interferenzmusters, Mittel zur Einkopplung des zu untersuchenden Lichtfeldes dergestalt, dass nur eine oder einzelne räumliche Moden des Feldes zugelassen werden, und einen Detektor umfasst, der die Intensität des erzeugten Interferenzmusters an einer Vielzahl räumlich unterschiedlicher Positionen aufnehmen kann, wobei durch spektral dispersive bzw. diffraktive optische Elemente die Wellenfronten und/oder die Ausbreitungsrichtung mindestens eines der am Interferenzmuster beteiligten Lichtfelder abhängig von der Wellenlänge verändert werden. Die vorliegende Erfindung betrifft ferner ein Verfahren zur Bestimmung des optischen Spektrums und/oder von durch ein optisches Spektrum kodierten bzw. übertragenen Messwerten durch Analyse des mit einer erfindungsgemässen Vorrichtung oder unter Verwendung einer erfindungsgemässen Vorrichtung gemessenenen Interferenzmusters.
摘要翻译：本发明涉及一种装置和用于光学光谱和光学传感器，并在同一时间上的光学组件的质量要求相对较低创建，用于光学光谱设备装置，用于使用Vorrichtung.Eine设备的具有高光谱分辨率的方法生成的干涉图案，用于将所述被检查光场耦合，使得只有一个，或个别场的空间模式被登记，并包括适于接收在多个空间上不同的位置处的所产生的干涉图案的强度的检测器，或者通过光谱色散。衍射光学元件，波前和/或参与所述干涉图案的光场中的至少一个的传播方向可根据波长变化。本发明还涉及一种用于光学光谱的确定和/或通过光频谱编码或通过本发明的具有设备的分析或根据gemessenenen干涉图案使用装置发送的测量值。

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