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    • 2. 发明申请
    • KAPAZITIVE UND/ODER INDUKTIVE ABSTANDSMESSUNG
    • 电容和/或电感距离测量
    • WO2012022718A1
    • 2012-02-23
    • PCT/EP2011/064036
    • 2011-08-15
    • TRUMPF WERKZEUGMASCHINEN GMBH + CO. KGRITTER, UlrichHORN, ArminSCHOLICH-TESSMANN, WolfgangMEINDL, UlrichHAGENLOCHER, Tobias
    • RITTER, UlrichHORN, ArminSCHOLICH-TESSMANN, WolfgangMEINDL, UlrichHAGENLOCHER, Tobias
    • G01B7/02G01B7/14G01B21/16
    • G01B7/14
    • Die Erfindung betrifft eine Abstandsmesseinrichtung (1) zur kapazitiven und/oder induktiven Messung eines Abstands zwischen elektrisch leitenden Körpern, insbesondere zwischen einer Bearbeitungsdüse und einem Werkstück, umfassend: einen Wandler (4) zur Umsetzung eines periodischen Schwingungssignals (3) mit abstandsabhängiger Frequenz (f) in ein Impulssignal (5), sowie einen Zähler (7) zur Zählung von Impulsen des Impulssignals (5) innerhalb eines Messintervalls zur Bestimmung der abstandsabhängigen Frequenz (f) des periodischen Schwingungssignals (3). Die Abstandsmesseinrichtung (1) weist für die präzise Bestimmung der abstandsabhängigen Frequenz (f) Mittel (10, 11) zur Anpassung der Phasenlage oder Mittel zur Berücksichtigung der Phasenlage zwischen dem Messintervall und den Impulsen des Impulssignals (5) auf. Die Erfindung betrifft auch eine Laserbearbeitungsmaschine mit einer solchen Abstandsmesseinrichtung (1) sowie ein zugehöriges Verfahren.
    • 本发明涉及一种用于电容性和/或电感性测量导电体之间的距离的距离测量装置(1),尤其是加工喷嘴与工件之间,包括:转换器(4),用于周期性的振动信号的执行(3)依赖于距离的频率(f )成脉冲信号(5),和用于测量间隔内计数的脉冲信号(5)的脉冲来确定依赖于距离的频率的计数器(7)(F)的周期性振动信号(3)。 距离测量装置(1),用于调整相位位置的距离相关的频率(f)的装置(10,11)的精确确定包括或装置,用于考虑到测量间隔和脉冲信号的脉冲之间的相位关系(5)。 本发明还涉及具有这样的距离测量装置(1)的激光加工机以及相关联的方法。
    • 3. 发明申请
    • VORRICHTUNG ZUR ANALYSE DES STRAHLPROFILS EINES LASERSTRAHLS
    • DEVICE FOR THE束分布的激光束的分析
    • WO2009132760A1
    • 2009-11-05
    • PCT/EP2009/002665
    • 2009-04-09
    • TRUMPF WERKZEUGMASCHINEN GMBH + CO. KGSCHOLICH-TESSMANN, WolfgangMARTINS, Marcelo-Cabaleiro
    • SCHOLICH-TESSMANN, WolfgangMARTINS, Marcelo-Cabaleiro
    • B23K26/42G01K17/00G01J1/42
    • G01J1/4257B23K26/705
    • Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung (6) zur Analyse des Strahlprofils eines Laserstrahls (3), umfassend: eine Trägerplatte (7), eine Mehrzahl von ersten temperaturempfindlichen Messelementen (9a bis 9g), insbesondere von Dioden, die an einer Mehrzahl von Messpunkten in einer bevorzugt matrixförmigen Anordnung an einer ersten Seite der Trägerplatte (7) angebracht sind, und eine Mehrzahl von zweiten temperaturempfindlichen Messelementen (11 a bis 11g), insbesondere von Dioden, die in einer weiteren bevorzugt matrixförmigen Anordnung an einer zweiten Seite der Trägerplatte (7) angebracht sind, wobei jeweils eines der ersten Messelemente (9a bis 9g) einem der zweiten Messelemente (11a bis 11g) gegenüberliegend angeordnet und mit diesem über durch die Trägerplatte (7) hindurch verlaufende Leiterbahnen (12a bis 12g. 13a bis 13g) thermisch gekoppelt ist. Die Erfindung betrifft weiterhin eine Laserbearbeitungsmaschine mit einer solchen Vorrichtung (6) sowie ein zugehöriges Verfahren zur Analyse des Strahlprofils eines Laserstrahls (3).
    • 本发明涉及一种装置(6),用于分析的激光束(3)的束轮廓,其包括:支承板(7),多个第一温度敏感测量元件(9A至图9G),尤其是二极管,其在由多个测量点 优选矩阵型布置附接至承载板(7)的第一侧;以及多个第二温度敏感测量元件(11A到11g),尤其是二极管,在进一步优选的矩阵型排列(7)上安装在载体板的第二侧 是,在每种情况下,第一测量元件中的一个(图9A至图9G)相对地设置第二测量元件中的一个(11A到11g),并用此穿过其中在由所述支承板(7)延伸,导体路径(12A至图12G。13A至13g)热耦合。 本发明还涉及一种具有激光加工机这样的设备(6),以及用于分析的激光束(3)的束分布曲线的相关方法。