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    • 1. 发明申请
    • KAPAZITIVE UND/ODER INDUKTIVE ABSTANDSMESSUNG
    • 电容和/或电感距离测量
    • WO2012022718A1
    • 2012-02-23
    • PCT/EP2011/064036
    • 2011-08-15
    • TRUMPF WERKZEUGMASCHINEN GMBH + CO. KGRITTER, UlrichHORN, ArminSCHOLICH-TESSMANN, WolfgangMEINDL, UlrichHAGENLOCHER, Tobias
    • RITTER, UlrichHORN, ArminSCHOLICH-TESSMANN, WolfgangMEINDL, UlrichHAGENLOCHER, Tobias
    • G01B7/02G01B7/14G01B21/16
    • G01B7/14
    • Die Erfindung betrifft eine Abstandsmesseinrichtung (1) zur kapazitiven und/oder induktiven Messung eines Abstands zwischen elektrisch leitenden Körpern, insbesondere zwischen einer Bearbeitungsdüse und einem Werkstück, umfassend: einen Wandler (4) zur Umsetzung eines periodischen Schwingungssignals (3) mit abstandsabhängiger Frequenz (f) in ein Impulssignal (5), sowie einen Zähler (7) zur Zählung von Impulsen des Impulssignals (5) innerhalb eines Messintervalls zur Bestimmung der abstandsabhängigen Frequenz (f) des periodischen Schwingungssignals (3). Die Abstandsmesseinrichtung (1) weist für die präzise Bestimmung der abstandsabhängigen Frequenz (f) Mittel (10, 11) zur Anpassung der Phasenlage oder Mittel zur Berücksichtigung der Phasenlage zwischen dem Messintervall und den Impulsen des Impulssignals (5) auf. Die Erfindung betrifft auch eine Laserbearbeitungsmaschine mit einer solchen Abstandsmesseinrichtung (1) sowie ein zugehöriges Verfahren.
    • 本发明涉及一种用于电容性和/或电感性测量导电体之间的距离的距离测量装置(1),尤其是加工喷嘴与工件之间,包括:转换器(4),用于周期性的振动信号的执行(3)依赖于距离的频率(f )成脉冲信号(5),和用于测量间隔内计数的脉冲信号(5)的脉冲来确定依赖于距离的频率的计数器(7)(F)的周期性振动信号(3)。 距离测量装置(1),用于调整相位位置的距离相关的频率(f)的装置(10,11)的精确确定包括或装置,用于考虑到测量间隔和脉冲信号的脉冲之间的相位关系(5)。 本发明还涉及具有这样的距离测量装置(1)的激光加工机以及相关联的方法。
    • 2. 发明申请
    • VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM BESTIMMEN DER REFLEKTIVITÄT EINER OBERFLÄCHE
    • 方法和设备用于确定反射率的表面
    • WO2012126769A1
    • 2012-09-27
    • PCT/EP2012/054344
    • 2012-03-13
    • TRUMPF WERKZEUGMASCHINEN GMBH + CO. KGMEINDL, UlrichBRAUN, Sonja
    • MEINDL, UlrichBRAUN, Sonja
    • G01N21/55
    • G01N21/55
    • Bei einem Verfahren zum Bestimmen der Reflektivität einer Oberfläche (2), die mit einer Auflichtbeleuchtung (3) beleuchtet wird, werden von der Oberfläche (2) Bilder mit jeweils unterschiedlichen Belichtungszeiten aufgenommen. Anschließend wird in jedem der aufgenommen Bilder derjenige helle Flächenanteil bestimmt, in dem eine vorbestimmte Mindesthelligkeit erreicht ist, und aus dem hellen Flächenanteil in Abhängigkeit der unterschiedlichen Belichtungszeiten die Reflektivität der Oberfläche (2) bestimmt. Eine hierfür geeignete Vorrichtung (1) umfasst eine Auflichtbeleuchtung (3) zur Beleuchtung der Oberfläche (2), einen Sensor (4) zur Aufnahme eines Bildes von der Oberfläche (2) und ein Bildverarbeitungssystem (7) zur Verarbeitung der aufgenommenen Bilder, wobei das Bildverarbeitungssystem (7) ausgebildet ist, in jedem der aufgenommen Bilder denjenigen hellen Flächenanteil zu bestimmen, in dem eine vorbestimmte Mindesthelligkeit erreicht ist, und aus dem hellen Flächenanteil in Abhängigkeit der unterschiedlichen Belichtungszeiten die Reflektivität der Oberfläche (2) zu bestimmen.
    • 在用来确定一个表面(2),其与反射光照明(3)照射的反射率的方法是从所述表面(2)记录图像中的每个具有不同的曝光时间。 接着,确定在每个所记录的图像,其中,当达到预定的最小亮度的一个明亮的面积比率,并从明亮的面积比确定为不同曝光时间的函数,该表面的反射率(2)。 一种合适的装置(1)包括反射光照明(3)用于照亮所述表面(2),传感器(4),用于取表面(2)和图像处理系统的图像(7),用于处理所捕捉的图像,其中,所述 的图像处理系统(7)适于在每个所记录的图像,其中当达到预定的最小亮度那些表面光亮部分的确定,并且从亮面积比的不同曝光时间的函数确定所述表面(2)的反射率。