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    • H01L29/82
    • H01L27/228H01L27/105
    • First and second transistors are formed on a substrate. An interlayer insulating film is formed on the first transistor. A first contact is formed in the interlayer film on a source or a drain of the first transistor. A second contact is formed in the interlayer film on the other of the source or the drain. A first interconnect is formed on the first contact. A magnetoresistive element is formed on the second contact. The magnetoresistive element is arranged in a layer having a height equal to that of the first interconnect from a substrate surface. A third contact is formed in the interlayer film on a source or a drain of the second transistor. A second interconnect is formed on the third contact. The second interconnect is arranged in a layer having a height equal to those of the first interconnect and the magnetoresistive element from the substrate surface.
    • 第一和第二晶体管形成在衬底上。 在第一晶体管上形成层间绝缘膜。 在第一晶体管的源极或漏极上的层间膜中形成第一接触。 在源极或漏极中的另一个的层间膜中形成第二接触。 在第一接触件上形成第一互连。 在第二触点上形成磁阻元件。 磁阻元件从衬底表面布置成具有与第一互连的高度相同的高度的层。 在第二晶体管的源极或漏极上的层间膜中形成第三接触。 在第三触点上形成第二互连。 第二互连布置在具有与来自衬底表面的第一互连和磁阻元件的高度相同的高度的层中。