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1. 发明申请

WO2004029544A1 INTERFEROMETRISCHE MESSEINRICHTUNG 审中-公开
标题翻译：干涉测量装置，
公开(公告)号：WO2004029544A1
公开(公告)日：2004-04-08
申请号：PCT/DE2003/001032
申请日：2003-03-28
申请人： ROBERT BOSCH GMBH , MARCHAL, Dominique , DUVOISIN, Marc-Henri , BREIDER, Dominique , DRABAREK, Pawel
发明人： MARCHAL, Dominique , DUVOISIN, Marc-Henri , BREIDER, Dominique , DRABAREK, Pawel
IPC分类号： G01B9/02
CPC分类号： G01B9/02065 , G01B9/0205 , G01B9/02057 , G01B9/0209
摘要： Die Erfindung bezieht sich auf eine interferometrische Messvorrichtung zum Erfassen der Form, der Rauheit oder des Abstandes der Oberfläche eines Messobjektes (8) mit einem Modulationsinterferometer (2), dem von einer Strahlungsquelle (1) kurzkohärente Strahlung zugeführt wird und das einen ersten Strahlteiler (2.3) zum Aufteilen der zugeführten Strahlung in einen über einen ersten Arm geführten ersten Teilstrahl (2.1) und einen über einen zweiten Arm geführten zweiten Teilstrahl (2.1') aufweist, von denen der eine gegenüber dem anderen mittels einer Modulationseinrichtung (2.2, 2.2') in seiner Licht-Phase oder Lichtfrequenz verschoben wird und eine Verzögerungsstrecke (2.9') durchläuft, und die anschliessend an einem weiteren Strahlteiler (2.10) des Modulationsinterferomters (2) vereinigt werden.
摘要翻译：本发明涉及一种干涉测量装置，用于检测具有调制干涉仪（2），该辐射源（1）短相干辐射的被供给的形状，粗糙度或测量对象（8）的表面的距离，并且（一个第一分束器2.3 ）（用于分离馈辐射成经由第一臂的第一部分光束2.1）和被引导的经由第二臂第二部分光束（2.1制导“），其中的一个相对于另一个（由调制装置2.2，2.2的手段”中）它的光相位或光频率偏移，并通过一个延迟路径（2.9“），并且随后在Modulationsinterferomters（2）的进一步的分束器（2.10）相结合。

2. 发明申请

WO2004029543A2 INTERFEROMETRISCHE MESSEINRICHTUNG 审中-公开
标题翻译：干涉测量装置，
公开(公告)号：WO2004029543A2
公开(公告)日：2004-04-08
申请号：PCT/DE2003/001029
申请日：2003-03-28
申请人： ROBERT BOSCH GMBH , MARCHAL, Dominique , DUVOISIN, Marc-Henri , BREIDER, Dominique , DRABAREK, Pawel
发明人： MARCHAL, Dominique , DUVOISIN, Marc-Henri , BREIDER, Dominique , DRABAREK, Pawel
IPC分类号： G01B9/02
CPC分类号： G01B11/2441 , G01B9/02002 , G01B9/0205 , G01B9/02057 , G01B9/02064 , G01B9/0209 , G01B2290/45
摘要： Die Erfindung bezieht sich auf eine interferometrische Messvorrichtung zum Erfassen der Form, der Rauheit oder des Abstandes der Oberfläche eines Messobjektes (8) mit einem Modulationsinterferometer (2), dem von einer Strahlungsquelle (1) kurzkohärente Strahlung zugeführt wird und das einen ersten Strahlteiler (2.3) zum Aufteilen der zugeführten Strahlung in einen über einen ersten Arm geführten ersten Teilstrahl (2.1) und einen über einen zweiten Arm geführten zweiten Teilstrahl (2.1') aufweist, von denen der eine gegenüber dem anderen mittels einer Modulationseinrichtung (2.2, 2.2') in seiner Licht-Phase oder Lichtfrequenz verschoben wird und eine Verzögerungsstrecke (2.9') durchläuft, und die anschließend an einem weiteren Strahlteiler (2.10) des Modulationsinterferomters (2) vereinigt werden, mit einer von dem Modulationsinterferometer (2) räumlich getrennten und mit dieser über eine Lichtleitfaseranordnung (6) gekoppelten oder koppelbaren Messsonde (3), in der die vereinigten Teilstrahlen in einem gemeinsamen Arm in einem teildurchlässigen Bereich (3.3) in einen Messstrahl und einen Referenzstrahl aufgeteilt und in der der an der Oberfläche reflektierte Messstrahl (r 1 (t)) und der an einer Referenzebene reflektierte Referenzstrahl (r 2 (t)) überlagert werden, und mit einer Empfängervorrichtung (4) und einer Auswerteeinheit (5) zum Umwandeln der ihr zugeleiteten Strahlung in elektrische Signale und zum Auswerten der Signale auf der Grundlage einer Phasendifferenz. Ein günstiger Aufbau für zuverlässige Messungen auch in engen Hohlräumen ergibt sich dadurch, dass der teildurchlässige Bereich (3.3) mittels einer bezüglich der optischen Sondenachse (3.5) unter einem Austrittswinkel (a) schrägen Austrittsfläche (3.31) einer Sondenfaser (3.1) und einer ebenfalls bezüglich der optischen Sondenachse (3.5) unter einem Eintrittswinkel ( β ) schrägen Eintrittsfläche (3.32) eines objektseitig folgenden Faserabschnitts (3.2) gebildet ist, wobei zwischen der Austrittsfläche (3.31) und der Eintrittsfläche (3.32) ein keilförmiger Spalt gebildet ist._
摘要翻译：本发明涉及一种干涉测量装置，用于检测具有调制干涉仪（2），该辐射源（1）短相干辐射的被供给的形状，粗糙度或测量对象（8）的表面的距离，并且（一个第一分束器2.3 ）（用于分离馈辐射成经由第一臂的第一部分光束2.1）和被引导的经由第二臂第二部分光束（2.1制导“），其中的一个相对于另一个（由调制装置2.2，2.2的手段”中）它的光相位或光频率偏移，并通过一个延迟路径（2.9“）通过，并随后在所述Modulationsinterferomters（2）的进一步的分束器（2.10）合并，用调制干涉仪的一个空间上分离的（2）和与该一光纤（6）联接或可联接测量探针（3），其中，所述已经在一个部分透射区域（3.3）的公共臂纯化的子光束分成测量光束和参考光束，并且其中，所述反射的测量光束的表面上（R 1（t））和反射的光在基准平面参考光束（R 2（t））的重叠和与接收器装置（4）以及评估单元（5），用于将提供给它转换成电信号的辐射和相位差的基础上评估该信号。一个有利的结构，即使在从所述事实窄空腔结果可靠的测量，一个探针纤维（3.1）中的出射角度的部分透射区域（3.3）由一个相对于所述光学探头轴（3.5）的装置（A）倾斜的出射面（3.31），并相对于一个同样以入射角（测试版）倾斜入口表面（3.32）光学探头轴（3.5）是继纤维段（3.2），物体侧形成的出口面（3.31）和形成的楔形间隙ist._入射面（3.32）之间，由此

3. 发明申请

WO2009135550A1 MOBILES MESSSYSTEM UND MESSVERFAHREN 审中-公开
标题翻译：移动测量系统和测量方法
公开(公告)号：WO2009135550A1
公开(公告)日：2009-11-12
申请号：PCT/EP2008/067122
申请日：2008-12-09
申请人： ROBERT BOSCH GMBH , VISEL, Benjamin , RICHARD, Matthieu , BONNY, Joel , DUVOISIN, Marc-Henri , JACKISCH, Sebastian
发明人： VISEL, Benjamin , RICHARD, Matthieu , BONNY, Joel , DUVOISIN, Marc-Henri , JACKISCH, Sebastian
IPC分类号： G01C3/02 , G01C15/00 , G01S17/08 , G01B21/20
CPC分类号： G01C3/02 , G01C15/002 , G01S7/003 , G01S7/4972 , G01S17/42 , G01S17/87
摘要： Mobiles Messsystem zum Erfassen von Profilschnitten eines Objektes und/oder Raumes, umfassend zumindest eine berührungsfrei arbeitende Abstandsmesseinrichtung, eine Schwenkeinrichtung zum Verschwenken der Abstandsmesseinrichtung um eine erste Achse und eine Höhenverstelleinrichtung zum Verstellen der Höhe der Abstandsmesseinrichtung, wobei die Abstandsmesseinrichtung zusammen mit der Schwenkeinrichtung um eine zweite Achse verschwenkbar ist, die sich quer zur ersten Achse erstreckt.
摘要翻译：用于检测对象和/或空间的轮廓截面的移动系统，其包括至少一个非接触式距离测量装置，用于枢转所述距离测量装置绕第一轴线和用于调节所述距离测量单元的高度的高度调节装置的枢转装置，所述距离测量与所述枢转装置一起表示第二至是横向延伸到所述第一轴线枢转轴线。

4. 发明申请

WO2009135549A1 MOBILES MESSSYSTEM UND MESSVERFAHREN ZUM ERFASSEN VON PROFILSCHNITTEN ODER KONTUREN 审中-公开
标题翻译：移动测量系统和测量法检查性剖或轮廓
公开(公告)号：WO2009135549A1
公开(公告)日：2009-11-12
申请号：PCT/EP2008/067120
申请日：2008-12-09
申请人： ROBERT BOSCH GMBH , VISEL, Benjamin , RICHARD, Matthieu , BONNY, Joel , DUVOISIN, Marc-Henri , JACKISCH, Sebastian
发明人： VISEL, Benjamin , RICHARD, Matthieu , BONNY, Joel , DUVOISIN, Marc-Henri , JACKISCH, Sebastian
IPC分类号： G01C3/02 , G01C15/00 , G01S17/08 , G01B21/20
CPC分类号： G01C15/004 , G01C3/02 , G01C15/00 , G01S7/4813 , G01S17/42
摘要： Mobiles Messsystem zum Erfassen von Profilschnitten eines Objektes und/oder Raumes, umfassend zumindest eine drehfest angeordnete und berührungsfrei arbeitende Abstandsmesseinrichtung, eine erste Umlenkeinrichtung oder Teileinrichtung, die ein von der Abstandsmesseinrichtung emittiertes Messsignal umlenkt oder in verschiedene Richtungen aufteilt, eine Schwenkeinrichtung zum Verschwenken der Umlenkeinrichtung oder Teileinrichtung um eine erste Achse und eine Höhenverstelleinrichtung zum Verstellen der Höhe der Umlenkeinrichtung oder Teileinrichtung.
摘要翻译：用于检测对象和/或空间的轮廓截面的移动系统，包括：至少一个旋转固定地布置并且非接触式距离测量装置，其偏转从所述距离测量装置测量的信号发射或分成不同的方向上的光，用于回转偏转或旋转装置中的第一偏转或部分装置分割装置绕第一轴线和用于调节偏转装置或子设备的高度的高度调节装置。

5. 发明申请

WO2005008173A1 OPTISCHE MESSEINRICHTUNG 审中-公开
标题翻译：光学测量装置
公开(公告)号：WO2005008173A1
公开(公告)日：2005-01-27
申请号：PCT/DE2004/001038
申请日：2004-05-18
申请人： ROBERT BOSCH GMBH , LINDNER, Michael , DRABAREK, Pawel , OFEN, Rolf , DUVOISIN, Marc-Henri , SCHMIDTKE, Bernd
发明人： LINDNER, Michael , DRABAREK, Pawel , OFEN, Rolf , DUVOISIN, Marc-Henri , SCHMIDTKE, Bernd
IPC分类号： G01B9/02
CPC分类号： G01B9/02065 , G01B9/02003 , G01B9/02027 , G01B9/0209 , G01B2290/30 , G01B2290/45
摘要： Die erfindungsgemässe optische Messeinrichtung (1) ist mit mindestens einer optischen Ausgabeeinheit (11) zur Ausgabe mindestens eines optischen Ausgangssignals und mindestens einer optischen Empfangseinheit (71) zum Empfang eines optischen Messsignals, die zu einer Zuordnung des mindestens einen optischen Messsignals zu mindestens einem der optischen Ausgangssignale mittels eines optischen Multiplexers (31) ausgebildet ist, versehen. Der Multiplexer wird durch Faserkoppler oder durch Strahlteiler in Verbindung einem Gitter oder einem Linsenarray realisiert. Die Ausgabeeinheit enthält mehrere über Faser angekoppelte Interferometer (11) zur Messung der Reflexion eines Objekts, um z.B. dessen Oberflächenbeschaffenheit zu bestimmen.
摘要翻译：本发明的光学测量装置（1）具有至少一个视觉输出单元（11），用于接收光的测量信号输出至少一个光输出信号和至少一个光接收单元（71），从而导致所述至少一个光学测量信号的指派到光中的至少一个通过光学多路复用器（31）来形成输出信号被提供。多路复用器由光纤耦合器或分束器组合的网格，或透镜阵列来实现。输出单元包括多个通过光纤干涉仪（11），耦合用于测量物体的反射率，以例如以确定其表面纹理。

6. 发明申请

WO1989000328A1 POSITIONING DEVICE FOR MAGNETIC TAPES 审中-公开
标题翻译：磁带定位装置
公开(公告)号：WO1989000328A1
公开(公告)日：1989-01-12
申请号：PCT/DE1988000361
申请日：1988-06-14
申请人： ROBERT BOSCH GMBH
发明人： ROBERT BOSCH GMBH , AEBISCHER, Claude , DUVOISIN, Marc-Henri , HEIZMANN, Frieder , JEANNIN, Pierre
IPC分类号： G11B15/66
CPC分类号： G11B15/6653 , G11B15/61
摘要： In a device for positioning a magnetic tape on a sensing head (26) by means of guide pegs (16, 18) and/or guide rollers (12, 14), at least one elongated lever (22, 24) is provided which is rotatably guided at one end in a bearing (28, 30) and has a guide roller (12, 14) and an adjacent guide pin (16, 15) for the magnetic tape at the other end. The guide roller and the guide pin grip the magnetic tape in its rest position (20), and when the lever is rotated about the bearing first the guide roller alone and then the guide pin pulls the magnetic tape into the operating position, in which the magnetic tape is partially wound around the sending head. Positioning of the lever in its operating position is then effected by a centralising limit stop (48, 100).

7. 发明公开

EP1082580A1 MODULATIONSINTERFEROMETER UND FASEROPTISCH GETRENNTE MESSSONDE MIT LICHTLEITERN 有权
标题翻译：调制干涉仪和光纤分体式探头带灯光梯子
公开(公告)号：EP1082580A1
公开(公告)日：2001-03-14
申请号：EP99929030.7
申请日：1999-04-27
申请人： ROBERT BOSCH GMBH
发明人： DRABAREK, Pawel , DUVOISIN, Marc-Henri , MARCHAL, Dominique , THOMINET, Vincent
IPC分类号： G01B9/02
CPC分类号： G01B9/02057 , G01B9/02002 , G01B9/02021 , G01B9/02028 , G01B9/02044 , G01B9/02065 , G01B9/0209
摘要： In order to detect the form, roughness or spacing of surfaces in a modulation interferometer (1), two partial beams are formed. The light phase or light frequency of one of said partial beams is delayed in relation to the other partial beam by means of a modulation device (14, 14'). The surface is measured using a measuring probe (2) that is attached to the modulation interferometer (1) and in which a measuring beam and a reference beam are formed. An interference sample is formed from the measuring beam and the reference beam, said sample being evaluated in a receiving unit (3) attached thereto. A compact structure which is easy to use during a manufacturing process is obtained in view of the fact that the modulation interferometer (1), which is built as a unit, is physically separated from the measuring probe (2) and can be coupled to the latter by means of an optical waveguide array (4) and the measuring branch (211) and the reference branch (212) are formed by the solid-state body (26, 27, 27') guiding the measuring and reference beams. Focusing is performed by grin lens.

8. 发明公开

EP0394241A1 POSITIONIERVORRICHTUNG FÜR MAGNETBÄNDER 失效
标题翻译：定位磁带的。
公开(公告)号：EP0394241A1
公开(公告)日：1990-10-31
申请号：EP88904929.0
申请日：1988-06-14
申请人： ROBERT BOSCH GmbH
发明人： AEBISCHER, Claude , DUVOISIN, Marc-Henri , HEIZMANN, Frieder , JEANNIN, Pierre
IPC分类号： G11B15
CPC分类号： G11B15/6653 , G11B15/61
摘要： Un dispositif de positionnement d'une bande magnétique devant une tête de lecture (26) au moyen de goupilles (16, 18) et/ou de galets de guidage (12, 14) comprend au moins un levier allongé (22, 24) dont une extrémité est montée de façon pivotable sur un support (28, 30) et dont l'autre extrémité présente un galet de guidage (12, 14) agencé à côté d'une goupille de guidage (16, 18) de la bande magnétique. Le galet et la goupille de guidage accrochent la bande magnétique dans sa position de repos (20) et d'abord le galet de guidage tout seul, puis la goupille de guidage également tirent la bande magnétique vers sa position de fonctionnement lorsque l'on fait pivoter le levier autour de son support. Dans sa position de fonctionnement, la bande magnétique entoure partiellement la tête de lecture, et le positionnement du levier dans sa position de fonctionnement se fait au moyen d'une butée de centrage (48, 100).

9. 发明公开

EP1546646A1 INTERFEROMETRISCHE MESSEINRICHTUNG 审中-公开
公开(公告)号：EP1546646A1
公开(公告)日：2005-06-29
申请号：EP03720249.6
申请日：2003-03-28
申请人： Robert Bosch GmbH
发明人： MARCHAL, Dominique , DUVOISIN, Marc-Henri , BREIDER, Dominique , DRABAREK, Pawel
IPC分类号： G01B9/02
CPC分类号： G01B9/02065 , G01B9/0205 , G01B9/02057 , G01B9/0209
摘要： The invention relates to an interferometric measuring device for detecting the shape, roughness, and distance of the surface of an object (8) to be measured by means of a modulation interferometer (2) to which short coherent radiation is supplied by a source of radiation (1) and which comprises a first beam splitter (2.3) for splitting the supplied radiation into a first partial beam (2.1) that is guided across a first arm and a second partial beam (2.1') that is guided across a second arm. The light phase or light frequency of one of said partial beams is shifted relative to the other partial beam by means of a modulation device (2.2, 2.2'), said partial beam traveling across a delay loop (2.9'), whereupon the partial beams are reunited at another beam splitter (2.10) of the modulation interferometer (2).
摘要翻译：本发明涉及一种干涉测量装置，其用于通过调制干涉仪（2）检测待测物体（8）的表面的形状，粗糙度和距离，所述调制干涉仪（2）通过辐射源（1）并且包括第一分束器（2.3），用于将所提供的辐射分成引导越过第一臂的第一部分光束（2.1）和引导越过第二臂的第二部分光束（2.1'）。借助于调制装置（2.2,2.2'）使所述部分光束之一的光相位或光频率相对于另一部分光束偏移，所述部分光束在延迟环路（2.9'）上行进，由此部分光束在调制干涉仪（2）的另一个分束器（2.10）处重新聚集。

10. 发明授权

EP0394241B1 POSITIONIERVORRICHTUNG FÜR MAGNETBÄNDER 失效
标题翻译：磁带定位装置
公开(公告)号：EP0394241B1
公开(公告)日：1993-02-03
申请号：EP88904929.2
申请日：1988-06-14
申请人： ROBERT BOSCH GMBH
发明人： AEBISCHER, Claude , DUVOISIN, Marc-Henri , HEIZMANN, Frieder , JEANNIN, Pierre
IPC分类号： G11B15/66 , G11B15/665 , G11B15/61
CPC分类号： G11B15/6653 , G11B15/61
摘要： In a device for positioning a magnetic tape on a sensing head (26) by means of guide pegs (16, 18) and/or guide rollers (12, 14), at least one elongated lever (22, 24) is provided which is rotatably guided at one end in a bearing (28, 30) and has a guide roller (12, 14) and an adjacent guide pin (16, 15) for the magnetic tape at the other end. The guide roller and the guide pin grip the magnetic tape in its rest position (20), and when the lever is rotated about the bearing first the guide roller alone and then the guide pin pulls the magnetic tape into the operating position, in which the magnetic tape is partially wound around the sending head. Positioning of the lever in its operating position is then effected by a centralising limit stop (48, 100).

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