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    • 1. 发明授权
    • Method and apparatus for facilitating random pattern testing of logic structures
    • 用于促进逻辑结构的随机模式测试的方法和装置
    • US06836865B2
    • 2004-12-28
    • US09973398
    • 2001-10-09
    • Mary P. KuskoWilliam V. HuottBryan J. RobbinsTimothy Charest
    • Mary P. KuskoWilliam V. HuottBryan J. RobbinsTimothy Charest
    • G01R3128
    • G01R31/318385G01R31/31813G01R31/318544
    • A method for preparing a logic structure for random pattern testing is disclosed. In an exemplary embodiment of the invention, the method includes configuring a select mechanism within a data scan chain, the select mechanism configured between a first register in the data scan chain and a second register. A parallel data path is routed within the scan chain, the parallel data path beginning from an input side of the first register, running through the select mechanism, and ending at an input side of the second register. Thus configured, the select mechanism is capable of switching a source path of input data to said second register from a normal data path to the parallel data path. When the parallel data path is selected as the source path of input data to the second register, data loaded into the second register matches data loaded into the first register.
    • 公开了一种用于准备用于随机模式测试的逻辑结构的方法。 在本发明的示例性实施例中,该方法包括配置数据扫描链内的选择机制,所述选择机制配置在数据扫描链中的第一寄存器和第二寄存器之间。 平行数据路径在扫描链内路由,并行数据路径从第一寄存器的输入侧开始,通过选择机制运行,并在第二寄存器的输入端结束。 如此配置,选择机制能够将来自正常数据路径的输入数据的源路径切换到所述第二寄存器到并行数据路径。 当选择并行数据路径作为第二寄存器的输入数据的源路径时,加载到第二寄存器中的数据匹配加载到第一寄存器中的数据。