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1. 发明授权

US06410350B1 Detecting die speed variations 有权
标题翻译：检测模具速度变化
公开(公告)号：US06410350B1
公开(公告)日：2002-06-25
申请号：US09607150
申请日：2000-06-29
申请人： Mark Brandon Fuselier , Stephen Doug Ray , Michael James Dunn , Roger T. Williams , Michael V. Fenske
发明人： Mark Brandon Fuselier , Stephen Doug Ray , Michael James Dunn , Roger T. Williams , Michael V. Fenske
IPC分类号： H01L2166
CPC分类号： G11C29/025 , G01R31/3016 , G01R31/31707 , G01R31/31725 , G11C29/006 , G11C29/50012
摘要： An apparatus and method for detecting speed variations across a die, a flash field, i.e., multiple dies, and multiple flash fields. In one embodiment, a method comprises the step of inserting a plurality of functional circuits at strategic locations across a die or flash field or multiple flash fields where each of the plurality of functional circuits generates data, e.g., values, frequency, etc., correlated to the die speeds at the strategic locations. The method further comprises reading the data generated by the plurality of functional circuits that may be correlated to the die speeds at the strategic locations. Speed variations across the die or flash field or multiple flash fields may then be subsequently detected based on the data generated by the plurality of functional circuits. Upon analyzing the data generated by the plurality of functional circuits, adjustments may be made to the manufacturing process to improve the number of acceptable integrated circuits or chips disposed in the dies.
摘要翻译：一种用于检测管芯上的速度变化，闪光场，即多个管芯和多个闪光场的装置和方法。在一个实施例中，一种方法包括以下步骤：跨越管芯或闪存场或多个闪存场的战略位置插入多个功能电路，其中多个功能电路中的每一个产生数据，例如值，频率等相关在战略地点的死亡速度。该方法还包括读取由多个功能电路产生的数据，这些数据可能与战略位置处的模具速度相关。然后可以基于由多个功能电路产生的数据随后检测管芯或闪光场或多个闪光场的速度变化。在分析由多个功能电路产生的数据时，可以对制造过程进行调整，以改善设置在管芯中的可接受集成电路或芯片的数量。

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