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    • 2. 发明授权
    • A METHOD OF EFFECTING NIR-ANALYSES OF SUCCESSIVE MATERIAL SAMPLES, AND A SYSTEM FOR CARRYING OUT THE METHOD
    • 法对中红外CONSECUTIVE材料样品具体实施方法的分析执行及装置。
    • EP0414710B1
    • 1994-12-07
    • EP89904529.8
    • 1989-03-29
    • JESMA-MATADOR A/S
    • JOHNSEN, Erik, Huus
    • G01N21/03G01N21/47
    • G01N21/85G01N21/4738G01N2021/8592Y10S250/91
    • An NIR-analysis of a material sample is based on a very small sample in a test cup being brough into close engagement with a special optical unit, which will detect a radiation reflection from the surface area of the sample and thereby provide information as to the contents of relevant components such as water and protein. Under usual laboratory conditions both the test cup and the optical unit should be cleaned very effectively between successive operations for obtaining reliable results. With the invention the NIR-technique is utilized for a fully automatic on-line analysing of successive samples, viz. with the use of a test chamber (6) which is built together with the optical unit (12) and is open towards this unit through a restricted side opening (26). The test chamber (6) has a volume which is much larger than that of the known test cups, whereby the remnant-pollution of the following sample can be kept at an acceptable low level, without the test chamber having to be totally cleaned each time. A particularly critical area, however, is the material area just next to the optical unit (12, 64), and remnants at this place must by necessity be removed. The invention provides for a complete avoidance of such remnant deposits, in that between the side opening (26) of the test chamber and the optical unit (12, 64) there is placed a transparent, thin separation film (20), which between the successive operations is advanced for removal of the last used film area and for delivery of a new and entirely clean film area to the critical area.
    • 3. 发明公开
    • A METHOD OF EFFECTING NIR-ANALYSES OF SUCCESSIVE MATERIAL SAMPLES, AND A SYSTEM FOR CARRYING OUT THE METHOD
    • 法对中红外CONSECUTIVE材料样品具体实施方法的分析执行及装置。
    • EP0414710A1
    • 1991-03-06
    • EP89904529.0
    • 1989-03-29
    • JESMA-MATADOR A/S
    • JOHNSEN, Erik, Huus
    • G01N21
    • G01N21/85G01N21/4738G01N2021/8592Y10S250/91
    • L'analyse par réflexion à l'infrarouge proche (RIP) d'un échantillon de matériau s'effectue sur un très petit échantillon dans une cuvette de test placée en contact étroit avec une unité optique spéciale, laquelle détecte une réflexion de rayonnement depuis la surface de l'échantillon et fournit par conséquent des informations sur le contenu des composants d'intérêt, tels que l'eau et les protéines. Dans des conditions de laboratoire habituelles, on doit nettoyer très soigneusement la cuvette de test et l'unité optique entre des opérations successives pour obtenir des résultats fiables. Avec la présente invention, la technique par RIP est utilisée pour une analyse en continu totalement automatique d'échantillons successifs, grâce à l'utilisation d'une chambre de test (6) qui est construite conjointement avec l'unité optique (12) et qui est ouverte en direction de cette unité par l'intermédiaire d'une ouverture latérale restreinte (26). La chambre de test (6) a un volume beaucoup plus grand que celui des cuvettes de test connues, ce qui permet de maintenir la pollution par les restes de l'échantillon suivant à un niveau faible acceptable, sans qu'il soit nécessaire à chaque fois de nettoyer totalement la chambre de test. Une zone particulièrement critique est toutefois constituée par la zone de matériaux venant juste après l'unité optique (12, 64) et les restes se trouvant à cet endroit doivent être obligatoirement retirés. La présente invention permet une élimination complète des dépôts de ces restes par le fait que, entre l'ouverture latérale (26) de la chambre de test et l'unité optique (12, 64) est disposé un mince film de séparation transparent (20) qui, entre les opérations successives, avance de façon à permettre le retrait de la dernière zone de film utilisée et l'acheminement de la nouvelle zone de film entièrement propre dans la zone critique.