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    • 8. 发明授权
    • Systems and methods for memory interface calibration
    • 用于存储器接口校准的系统和方法
    • US09323538B1
    • 2016-04-26
    • US13539153
    • 2012-06-29
    • Ivan BlunnoGordon Raymond Chiu
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    • G06F3/06G06F3/01G06F3/05G01D18/00G06F9/44
    • G06F9/44G11C5/04G11C29/022G11C29/028
    • Integrated circuits such as programmable integrated circuits may include calibration circuitry for calibrating memory interface circuitry. The calibration circuitry may include processing circuitry and test circuitry. The processing circuitry may provide instructions to the test circuitry and direct the test circuitry to begin processing at a selected instruction. The test circuitry may retrieve data storage addresses and control signal storage addresses from the instructions. The test circuitry may use the data storage address to retrieve test data from data storage circuitry and may use the control signal storage address to retrieve control signal data from control signal storage circuitry. The control signal, address, and test data may be provided to the memory interface circuitry. The test circuitry may verify data received from the system memory during instruction processing.
    • 诸如可编程集成电路的集成电路可以包括用于校准存储器接口电路的校准电路。 校准电路可以包括处理电路和测试电路。 处理电路可以向测试电路提供指令,并指示测试电路在所选择的指令下开始处理。 测试电路可以从指令中检索数据存储地址和控制信号存储地址。 测试电路可以使用数据存储地址从数据存储电路检索测试数据,并且可以使用控制信号存储地址从控制信号存储电路中检索控制信号数据。 控制信号,地址和测试数据可以被提供给存储器接口电路。 测试电路可以在指令处理期间验证从系统存储器接收到的数据。