专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明申请

WO2020094233A1 VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM ANALYSIEREN EINES STOFFS 审中-公开
公开(公告)号：WO2020094233A1
公开(公告)日：2020-05-14
申请号：PCT/EP2018/080665
申请日：2018-11-08
申请人： DIAMONTECH AG
发明人： SCHRIEK, Uwe , NOELL, Wilfried , LUBINSKI, Thorsten
IPC分类号： A61B5/145 , G01H9/00 , A61B5/01 , G16H20/60
摘要： Die Erfindung bezieht sich auf eine Einrichtung zur Analyse eines Stoffes mit: einem Messkörper (l, la), der eine Messfläche (2) aufweist und im Bereich der Messfläche zur Messung wenigstens teilweise mit dem Stoff (3) in Kontakt zu bringen ist, einer Lasereinrichtung (4), insbesondere mit einem Quantenkaskadenlaser (QCL), einem durchstimmbaren QCL, und/oder mit einem Laserarray, vorzugsweise einem Array von QCLs, zur Erzeugung eines oder mehrerer Anregungsstrahlen (10) mit verschiedenen Wellenlängen, vorzugsweise im infraroten oder mittleren infraroten Spektralbereich, der auf den Stoff (3) gerichtet ist, und einer wenigstens teilweise in den Messkörper (1, 1a) integrierten oder mit diesem verbundenen Detektionsvorrichtung (5, 6, 7), die folgendes umfasst: · eine Quelle (5) für kohärentes Detektionslicht (11) sowie • eine mit der Quelle für das Detektionslicht verbindbare oder verbundene und das Detektionslicht führende erste Lichtwellenleiterstruktur (6), deren Brechungsindex wenigstens abschnittsweise von der Temperatur und/oder dem Druck abhängig ist, wobei die erste Lichtwellenleiterstruktur wenigstens einen Abschnitt (9) aufweist, in dem die Lichtintensitat von einer Phasenverschiebung von Detektionslicht in wenigstens einem Teil der ersten Lichtwellenleiterstruktur (6) durch eine Temperatur- oder Druckänderung abhängt.

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式