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1. 发明专利

JP6880024B2 物質を分析するための装置及び方法有权
公开(公告)号：JP6880024B2
公开(公告)日：2021-06-02
申请号：JP2018530040
申请日：2015-12-09
申请人：ディアモンテク、アクチェンゲゼルシャフト , DiaMonTech AG
发明人：アレクサンダー、バウアー , オットー、ヘルツベルク , トルステン、ルビンスキ
IPC分类号： G01N21/3563 , G01N33/483 , A61B5/1455 , G01N21/17

2. 发明专利

JP2021119343A 非侵襲物質分析审中-公开
公开(公告)号：JP2021119343A
公开(公告)日：2021-08-12
申请号：JP2021049010
申请日：2021-03-23
申请人：ディアモンテク、アクチェンゲゼルシャフト , DiaMonTech AG
发明人：ベルナー、メンテル , ミゲル、アンゲル、プライテツ、ラファエル , トビアス、リーブレイン , オットー、ヘルツベルク , アレクサンダー、バウアー , ヘルマン、フォン、リリエンフェルト−トーアル , アルネ、キュデール , タベア、プフール
IPC分类号： G01N21/552 , G01N21/3581
摘要：【課題】本発明の目的は、物質の非侵襲分析のための方法及びシステムを提供することである。【解決手段】物質100を分析するための方法及びシステムに関する。方法は以下のステップを備える。光学媒質10を物質の表面に配置し、光学媒質10の表面12の少なくとも一つの領域が物質表面と接触するようにするステップと、励起波長を有する励起光束を物質表面と接触する光学媒質10の表面12の領域を介して物質表面に照射するステップと、物質表面と直接接触する光学媒質10の表面12領域上にプローブ光束を出射するステップであって、光学媒質10と物質表面との境界面でプローブ光束と励起光束とが重複し、境界面でプローブ光束が反射されるステップと、励起光束の波長に応じた、反射されたプローブ光束の偏向を直接的又は間接的に検出するステップと、起光束の波長に依存した、反射されたプローブ光束の偏向に基づき物質100を分析するステップ。【選択図】図1

3. 发明申请

US20210401291A1 Apparatus and Method for Analyzing a Substance 有权
公开(公告)号：US20210401291A1
公开(公告)日：2021-12-30
申请号：US17290563
申请日：2019-06-03
申请人： DiaMonTech AG
发明人： Uwe Schriek , Wilfried Noell , Thorsten Lubinski
IPC分类号： A61B5/00 , G16H10/40 , G16H50/20 , A61B5/01 , A61B5/145
摘要： The invention relates to a device for analyzing a substance, comprising: —a measurement body (1, 1a), which has a measurement surface (2) and is to be brought at least in part into contact with the substance (3) in the region of the measurement surface for the purpose of measuring; a laser device (4), particularly having a quantum cascade laser (QCL), a tunable QCL and/or a laser array, preferably an array of QCLs, in order to generate one or more excitation beams (10) at different wavelengths, preferably in the infrared or medium infrared spectral range, which is directed to the substance (3); and a detection apparatus (5, 6, 7) which is integrated at least in part in the measurement body (1, 1a) or connected thereto and comprises the following: •a source (5) for coherent detection light (11) and •a first optical waveguide structure (6) which can be or is connected to the source for the detection light, which guides the detection light, and has a refractive index which is dependent at least in portions on the temperature and/or pressure, wherein the first optical waveguide structure has at least one portion (9) in which the light intensity depends on a phase shift of detection light in at least one part of the first optical waveguide structure (6) due to a change in temperature or pressure.

4. 发明专利

JP2021505871A 物質を分析するためのデバイスおよび方法审中-公开
公开(公告)号：JP2021505871A
公开(公告)日：2021-02-18
申请号：JP2020530510
申请日：2018-12-04
申请人：ディアモンテク、アクチェンゲゼルシャフト , DiaMonTech AG
发明人：トルステン、ルビンスキ , ウーベ、シュリーク
IPC分类号： G01N21/00 , G01N29/24
摘要：本発明は、物質(5)を分析するためのデバイスおよび方法であって、少なくとも1つの電磁励起ビーム(8)を発生するためのレーザデバイス(3)の形態の励起送出デバイスと、測定本体(1)の測定面(2)に隣接しており、圧力依存性もしくは温度依存性電気比抵抗を有し、および/または圧力もしくは温度変化が生じた場合には、電気的、具体的には、圧電性の、電圧信号を発生する、検出領域(4)を有する測定本体(1)と、を備え、検出された信号に基づいて物質を分析するためのデバイスを備える、デバイスおよび方法に関する。

6. 发明专利

JP2021051078A 物質を分析するための装置及び方法审中-公开
公开(公告)号：JP2021051078A
公开(公告)日：2021-04-01
申请号：JP2020174755
申请日：2020-10-16
申请人：ディアモンテク、アクチェンゲゼルシャフト , DiaMonTech AG
发明人：アレクサンダー、バウアー , オットー、ヘルツベルク , トルステン、ルビンスキ
IPC分类号： G01N21/17 , G01N1/44 , G01N21/63
摘要：【課題】物質、特に動物又はヒトの組織、或いは、組織の構成要素又は成分を特に簡単に且つ費用効率良く分析できる装置を提供する。【解決手段】少なくとも1つの電磁励起ビームSA、特に少なくとも1つの励起波長を有する励起光ビームを生成するための励起放射装置100を備える物質を分析するための装置10であって、反応信号SRを検出するための検出装置106と、検出された反応信号SRに基づいて物質101を分析するための装置107とを更に備える。【選択図】図1

7. 发明授权

US11946887B2 Device and method for analyzing a substance 有权
公开(公告)号：US11946887B2
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：US16769530
申请日：2018-12-04
申请人： DiaMonTech AG
发明人： Thorsten Lubinski , Uwe Schriek
IPC分类号： G01N29/24 , G01N25/18 , G01N33/49
CPC分类号： G01N25/18 , G01N29/2418 , G01N33/49
摘要： The invention relates to a device and a method for analyzing a substance (5), comprising an excitation transmitting device in the form of a laser device (3) for generating at least one electromagnetic excitation beam (8), a measuring body (1) having a detection region (4), which is adjacent to a measuring surface (2) of the measuring body (1) and has a pressure-dependent or temperature-dependent specific electrical resistance and/or generates electrical, in particular piezoelectric, voltage signals in the event of pressure or temperature changes, and comprising a device for analyzing the substance on the basis of detected signals.

8. 发明申请

US20210109019A1 Apparatus and Method for Analyzing a Material 有权
公开(公告)号：US20210109019A1
公开(公告)日：2021-04-15
申请号：US17131032
申请日：2020-12-22
申请人： DiaMonTech AG
发明人： Alexander Bauer , Otto Hertzberg , Thorsten Lubinski
IPC分类号： G01N21/552 , A61B5/1455 , A61B5/00 , G01N21/17 , G01N21/63
摘要： The invention relates, inter alia, to an apparatus for analyzing a material, including an excitation emission device for generating at least one electromagnetic excitation beam, in particular an exciting light beam, having at least one excitation wavelength, further including a detection device for detecting a reaction signal, and a device for analyzing the material on the basis of the detected reaction signal.

9. 发明申请

WO2021239828A1 APPARATUS AND METHOD FOR ANALYTE MEASUREMENT WITH IMPROVED COUPLING OF EXCITATION RADIATION INTO MATERIAL INCLUDING SAID ANALYTE 审中-公开
公开(公告)号：WO2021239828A1
公开(公告)日：2021-12-02
申请号：PCT/EP2021/064080
申请日：2021-05-26
申请人： DIAMONTECH AG
发明人： MÄNTELE, Werner , LUBINSKI, Thorsten , JANIK, Sergius , KALUZA, Michael
IPC分类号： G01N21/17 , G01N21/41 , G01N21/45 , A61B5/00 , A61B5/145
摘要： An apparatus (10) for analyzing a material (12) comprising at least one analyte, said apparatus comprising a measurement body (16) having a contact surface (14) suitable to be brought in thermal contact or pressure-transmitting contact with said material (12), an excitation radiation source (26) configured for irradiating excitation radiation (18) into the material (12) to be absorbed therein, and a detection device for detecting a physical response of the measurement body to heat or a pressure wave received from said material (12) upon absorption of said excitation radiation (18) and for generating a response signal indicative of the degree of absorption of excitation radiation, wherein a protrusion (80) is provided, said protrusion having a front surface (82) facing said material (12) and being in contact with the material when the material is brought in contact with the contact surface, and wherein said excitation radiation (18) is irradiated into the material (12) through said front surface (82) of said protrusion (80), wherein said protrusion (80) is formed on said contact surface (14) of said measurement body (16), or wherein said measurement body (16) forms said protrusion or a part of said protrusion, in which said contact surface (14) of said measurement body (16) forms at least a part of said front surface of said protrusion and is elevated with respect to a surrounding structure.

10. 发明申请

WO2020094233A1 VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM ANALYSIEREN EINES STOFFS 审中-公开
公开(公告)号：WO2020094233A1
公开(公告)日：2020-05-14
申请号：PCT/EP2018/080665
申请日：2018-11-08
申请人： DIAMONTECH AG
发明人： SCHRIEK, Uwe , NOELL, Wilfried , LUBINSKI, Thorsten
IPC分类号： A61B5/145 , G01H9/00 , A61B5/01 , G16H20/60
摘要： Die Erfindung bezieht sich auf eine Einrichtung zur Analyse eines Stoffes mit: einem Messkörper (l, la), der eine Messfläche (2) aufweist und im Bereich der Messfläche zur Messung wenigstens teilweise mit dem Stoff (3) in Kontakt zu bringen ist, einer Lasereinrichtung (4), insbesondere mit einem Quantenkaskadenlaser (QCL), einem durchstimmbaren QCL, und/oder mit einem Laserarray, vorzugsweise einem Array von QCLs, zur Erzeugung eines oder mehrerer Anregungsstrahlen (10) mit verschiedenen Wellenlängen, vorzugsweise im infraroten oder mittleren infraroten Spektralbereich, der auf den Stoff (3) gerichtet ist, und einer wenigstens teilweise in den Messkörper (1, 1a) integrierten oder mit diesem verbundenen Detektionsvorrichtung (5, 6, 7), die folgendes umfasst: · eine Quelle (5) für kohärentes Detektionslicht (11) sowie • eine mit der Quelle für das Detektionslicht verbindbare oder verbundene und das Detektionslicht führende erste Lichtwellenleiterstruktur (6), deren Brechungsindex wenigstens abschnittsweise von der Temperatur und/oder dem Druck abhängig ist, wobei die erste Lichtwellenleiterstruktur wenigstens einen Abschnitt (9) aufweist, in dem die Lichtintensitat von einer Phasenverschiebung von Detektionslicht in wenigstens einem Teil der ersten Lichtwellenleiterstruktur (6) durch eine Temperatur- oder Druckänderung abhängt.

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